Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo | SEM5000

CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño de lente magnética de tres etapas, con una corriente de haz grande y continuamente ajustable, tiene ventajas obvias en EDS, EBSD, WDS y otras aplicaciones. Admite modo de bajo vacío, puede observar directamente la conductividad de muestras débiles o no conductoras. El modo de navegación óptica estándar, así como una interfaz de operación intuitiva, facilitan el trabajo de su análisis.

CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran profundidad de campo con un entorno fácil de usar para caracterizar muestras. Además, su rica escalabilidad ayuda a los usuarios a explorar el mundo de las imágenes microscópicas.

CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología “SuperTunnel”, baja aberración y diseño de lente objetivo libre de magnetismo, con bajo voltaje y alta resolución. capacidad que asegura su capacidad analítica a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación.   DB500 está equipado con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y 24 puertos de expansión, lo que lo convierte en una plataforma integral de nanoanálisis y fabricación con configuraciones integrales y capacidad de expansión.

CIQTEK SEM5000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) de resolución ultraalta con una resolución innovadora de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Al beneficiarse del proceso de ingeniería de columnas mejorado, la tecnología "SuperTunnel" y el diseño de lentes de objetivo de alta resolución, el SEM5000X puede lograr mejoras adicionales en la resolución de imágenes de bajo voltaje. Los puertos de la cámara de muestras se extienden a 16 y el bloqueo de carga de intercambio de muestras admite un tamaño de oblea de hasta 8 pulgadas (diámetro máximo 208 mm), ampliando enormemente las aplicaciones. cobertura. Los modos de escaneo avanzados y las funciones automatizadas mejoradas brindan un rendimiento más sólido y una experiencia aún más optimizada.