NV Center ODMR Unlocks New Possibilities for 2D Materials and Spin Wave Detection In short Three research teams used CIQTEK ODMR instruments, including the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to move three different areas of advanced materials research forward. A team at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, imaged spin waves in real space near magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in YIG and LSMO films. They captured wavelength-selective scattering and, for the first time, a zig-zag wavefront distortion as spin waves crossed stripe domains. A team at the University of Science and Technology of China stripped selenium out of 2D CuCrSe₂ by vacuum annealing. The resulting Se vacancies produced room-temperature ferromagnetism while the layered crystal structure stayed intact. A team at the Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, mapped how a transverse magnetic field mixes NV center spin states, weakens optical readout, and shifts the balance between the NV⁻ and NV⁰ charge states, all of which matter for keeping NV-based sensors stable in real-world magnetic environments. Why this matters Optically detected magnetic resonance (ODMR) sits at the center of solid-state spin science. It is how researchers image microscopic magnetic fields, how they unpack spin dynamics, and how they turn a single atomic-scale defect in diamond into a working sensor. The three studies below all leaned on CIQTEK's ODMR product line, which includes the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to push into territory that older tools could not reach: spin wave imaging, room-temperature ferromagnetism in 2D materials, and the spin mixing behavior of NV centers themselves. Here is what each team found, and why it matters for anyone building magnonic devices, spintronic materials, or diamond-based sensors. Study 1: Scanning NV imaging reveals how spin waves actually propagate Where it was published: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy Paper title: Visualizing modified spin-wave wavefronts near magnetic defects and domains using nitrogen-vacancy centers Research group: The Li Yangmu group at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences The team used scanning NV imaging to perform real-space imaging and phase analysis of spin wave propagation and wavefronts near nanoscale magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in magnetic thin films (YIG and LSMO). The work revealed wavelength-selective scattering and waveform modulation, giving device designers a new set of tools for building and tuning spin wave devices. First, some background: why spin waves are hard to see Spin waves, also called magnons, are collective excitations of a magnetically ordered system. They carry information without the Joule heating losses that come with conventional charge-based devices, which makes them an attractive carri...

CIQTEK cotiza en el mercado STAR de Shanghái CIQTEK celebró su ceremonia de cotización en la Bolsa de Valores de Shanghái el 11 de agosto de 2026. La cotización marca una nueva etapa para la empresa a medida que continúa desarrollando instrumentos científicos de alta gama. La empresa cotiza bajo el código bursátil 688828 y desarrolla, fabrica y vende productos que incluyen microscopios electrónicos, espectrómetros de resonancia paramagnética electrónica y espectrómetros de resonancia magnética nuclear.   Información de cotización CIQTEK emitió 40.0100 millones de acciones a 21.22 RMB por acción. Los ingresos brutos de la oferta de nuevas acciones fueron de 849.0122 millones de RMB. Tras la oferta, la empresa tenía 400.0100 millones de acciones en circulación. En 2025, CIQTEK reportó ingresos de 666.191845 millones de RMB. La empresa tiene su sede en Hefei, provincia de Anhui.   De la investigación al uso en el mundo real CIQTEK se centra en convertir las capacidades de investigación en instrumentos que puedan utilizarse en laboratorios y entornos industriales. En la ceremonia, el Dr. He Yu, presidente de CIQTEK, dijo que la cotización es un hito importante y una etapa en el viaje de la empresa desde el laboratorio hasta el uso en el mundo real. El Dr. He agradeció a los clientes, socios, inversores y a los equipos que apoyaron el proceso de oferta y cotización.   Un enfoque en instrumentos útiles y fiables CIQTEK desarrolla instrumentos científicos de alta gama en varias áreas de productos. La empresa continúa invirtiendo en investigación y desarrollo y ampliando su cartera de productos en torno a las necesidades de los clientes. El Dr. He dijo que los comentarios de los clientes, la resolución de problemas técnicos y la entrega fiable son fundamentales para la mejora a largo plazo de la empresa. CIQTEK continuará avanzando en los proyectos financiados por la oferta y fortalecerá una gobernanza transparente y estandarizada.   Mirando hacia el futuro El Dr. He señaló que mejores herramientas de medición apoyan el descubrimiento científico y que los datos de alta calidad siguen siendo esenciales a medida que la inteligencia artificial cambia la forma en que se realiza la investigación. CIQTEK continuará construyendo instrumentos para investigadores y usuarios industriales de todo el mundo. “Nos mantendremos enfocados, seguiremos mejorando a largo plazo y avanzaremos de manera constante”, dijo el Dr. He al cerrar.   Nota de reimpresión Las secciones de apertura y "Información de cotización" están reimpresas de un comunicado público de la Bolsa de Valores de Shanghái. Las secciones restantes están adaptadas de un discurso original del Dr. He Yu, presidente de CIQTEK, pronunciado en la ceremonia de cotización.

El microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado (FIB-SEM) de doble haz CIQTEK DB550 combina la obtención de imágenes electrónicas de alta resolución y el procesamiento de precisión mediante haz de iones en una única plataforma. CIQTEK ha validado su Microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado DB550 (FIB-SEM) en muestras reales de chips de nodo de proceso de 5 nm, Se demuestra la preparación de muestras TEM listas para producción, con estructuras de aletas intactas, cero amorfización y capas de película claramente definidas. Los resultados confirman que el DB550 cumple con las exigentes demandas de los laboratorios avanzados de análisis de fallas de semiconductores que trabajan a la vanguardia de la tecnología de procesos. En la investigación y fabricación de chips avanzados, dos herramientas son fundamentales. El microscopio electrónico de transmisión (TEM) permite observar estructuras a escala atómica. Pero antes de poder hacerlo, se necesita una muestra lo suficientemente delgada para que los electrones la atraviesen. Aquí es donde entra en juego el FIB-SEM de doble haz. Es el laboratorio de precisión que prepara esas muestras ultrafinas. Presentamos el DB550: una plataforma para imágenes y procesamiento a nanoescala. El CIQTEK DB550 FIB-SEM Integra dos potentes capacidades en una única plataforma. Por un lado, un microscopio electrónico de barrido (SEM) proporciona imágenes de superficie de alta resolución. Por otro, un haz de iones focalizado (FIB) realiza la eliminación de material a nanoescala con precisión quirúrgica. Juntas, salvan la distancia entre la observación y la fabricación en dimensiones que se miden en milmillonésimas de metro. En el corazón del DB550 se encuentra un columna de electrones de bajo voltaje y alta resolución combinado con la tecnología patentada de CIQTEK Columna iónica "Changying" Desarrollada íntegramente en la empresa, la columna Chengying es el motor que impulsa las capacidades de corte y grabado a nanoescala del sistema. CIQTEK controla todo el proceso de diseño y fabricación de este componente fundamental. El desafío de los 5 nm: por qué la preparación de muestras se vuelve más difícil con cada nodo En 5 nm y menores Las arquitecturas de chips se basan en transistores de efecto de campo de tipo aleta (FinFET) con anchos y pasos de aleta que se miden en tan solo unos pocos nanómetros. El DB550 está diseñado para manejar todo el flujo de trabajo de preparación de muestras para estos exigentes nodos de proceso. Comienza con corte basto de alta corriente para eliminar rápidamente el material a granel y llegar a la región objetivo. Luego pasa a pulido fino de bajo voltaje para adelgazar la muestra hasta alcanzar las dimensiones adecuadas para su observación mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM) sin dañar las delicadas estructuras subyacentes. Validación TEM: La prueba está en la imagen. CIQTEK Se preparó una muestra de chip con un proceso de fabricación de 5 nm ...