Recientemente, se lanzó en Hefei, Anhui , China , el primer microscopio de sonda de nitrógeno vacante (SNVM) comercial de baja temperatura del mundo . Este instrumento se utiliza principalmente para detectar el magnetismo superficial de nanomateriales y proporcionará un nuevo método para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la física de la materia condensada y las ciencias de la vida. El instrumento fue desarrollado de forma independiente por CIQTEK , lo que marca un nuevo avance en el desarrollo de la industrialización de la tecnología de medición de precisión.      La medición de precisión P se refiere al uso de propiedades como transiciones de niveles de energía, superposición coherente y entrelazamiento para lograr mejoras sustanciales en la precisión, sensibilidad, resolución, etc.   El microscopio de sonda de barrido de nitrógeno vacante (SNVM) de CIQTEK es un instrumento analítico científico avanzado que combina la tecnología de resonancia magnética óptica detectada de nitrógeno vacante (NV) de diamante (ODMR) y la tecnología de imágenes de barrido de microscopio de fuerza atómica (AFM) , que puede realizar mediciones cuantitativas y Imágenes magnéticas no destructivas de muestras magnéticas con alta resolución espacial y alta sensibilidad.   Además de los centros de color Diamond NV, existen muchas rutas técnicas para mediciones de precisión, incluidos magnetómetros atómicos, relojes atómicos, etc. El magnetómetro atómico es una tecnología que utiliza la interacción entre la luz y los átomos para detectar campos magnéticos, que pueden detectar enfermedades coronarias. y frecuencia cardíaca anormal. Como nueva generación de relojes atómicos, los relojes de red óptica pueden alcanzar actualmente un error de sólo 1 segundo en decenas de miles de millones de años. Cada ruta técnica muestra sus capacidades únicas según los escenarios de aplicación.     SNVM para imágenes magnéticas de películas BFO Los sensores de precisión se conocen como "la clave para el mundo microscópico". No sólo es pequeño, sino también muy sensible. Puede detectar muchas señales que en el pasado eran indetectables e inexactas, como el magnetismo cerebral y el magnetismo cardíaco. Puede utilizarse para el diagnóstico precoz de enfermedades neurológicas, enfermedades coronarias y otras enfermedades. Al mismo tiempo, la medición de precisión también ha generado algunas innovaciones en los métodos de detección, como la detección de corriente de fuga en baterías de litio en el nuevo campo energético, la gestión de la red eléctrica en el campo de la exploración energética y la imagen de corriente de chip en el circuito integrado/semiconductor. campo.      SNVM para obtener imágenes de un campo magnético perdido de vórtice único La industria considera la medición de precisión como otra dirección de "industrialización madura" en el campo de la tecnología de la información, y la innovación tecnológi...

  El laboratorio de demostración de la Universidad de Loughborough está lleno de entusiasmo mientras presentamos el microscopio electrónico de barrido SEM3200 de última generación , una incorporación revolucionaria al mercado del Reino Unido. En colaboración con el renombrado Centro de Caracterización de Materiales de Loughborough (LMCC), SciMed se enorgullece de presentar a los usuarios la nueva gama de microscopios CIQTEK , respaldados por la experiencia líder mundial del personal de las instalaciones.   La Universidad de Loughborough no es ajena a la excelencia. Clasificada entre las 10 mejores universidades del Reino Unido, cuenta con un rico legado académico y un compromiso con el progreso científico. Ubicado dentro del LMCC, una aclamada instalación de análisis de materiales de última generación, el laboratorio de demostración proporciona el entorno perfecto para presentar el SEM3200 y sus capacidades excepcionales.     Nuestro viaje comenzó recopilando imágenes de varios grupos de investigación estrechamente afiliados a la Universidad de Loughborough. Trabajamos en estrecha colaboración con estos grupos, lo que me permitió recopilar diversas muestras para obtener imágenes. Desde sustratos con micromodelos producidos mediante fotolitografía hasta la intrincada superficie de una matriz de microelectrodos, han capturado la esencia de los materiales bajo el microscopio. Además, recientemente han obtenido una gama de materiales utilizados en tecnologías de células de energía de hidrógeno, ampliando las posibilidades de nuestras capacidades de obtención de imágenes.     Los comentarios del personal han sido abrumadoramente positivos. Universalmente, han elogiado la interfaz de software fácil de usar, que permite un control intuitivo a los pocos minutos de uso. Una característica destacada es la platina eucéntrica de 5 ejes, que garantiza un enfoque y una posición de la imagen impecables, incluso durante cambios significativos en el ángulo de inclinación. El diseño moderno del SEM3200 realmente ha impresionado a nuestros usuarios, ya que produce imágenes de alta calidad sin esfuerzo y con notable facilidad.     El SEM3200 representa un gran avance en la tecnología de microscopía y su llegada al laboratorio de demostración de la Universidad de Loughborough es motivo de celebración. Investigadores, científicos y estudiantes ahora pueden acceder a un microscopio que combina experiencia de primer nivel con un funcionamiento fácil de usar, allanando el camino para descubrimientos innovadores y resultados de investigación excepcionales.   Adéntrese en el futuro de la microscopía con el SEM3200. Experimente el poder de la tecnología de vanguardia, respaldada por la infraestructura de primer nivel del LMCC de la Universidad de Loughborough. Únase a nosotros en el laboratorio de demostración y sea testigo de primera mano del increíble potencial del SEM3200. Juntos, exploremos nuevas fronteras y descubramos un m...

FIB-SEM se puede utilizar para diagnóstico de defectos, reparación, implantación de iones, procesamiento in situ, reparación de máscaras, grabado, modificación del diseño de circuitos integrados, producción de dispositivos de chip y procesamiento sin máscara de circuitos integrados a gran escala. Producción de nanoestructuras, procesamiento de nanopatrones complejos, imágenes tridimensionales y análisis de materiales, análisis de superficies ultrasensibles, modificación de superficies y preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión, etc. Tiene una amplia gama de requisitos de aplicación y es indispensable.   CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) con una columna de haz de iones enfocado (FIB) para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología de óptica electrónica "SuperTunnel", baja aberración y lente objetivo libre de magnetismo. diseño, con capacidad de bajo voltaje y alta resolución que garantiza su capacidad analítica a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación.   DB500 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y 24 puertos de expansión, lo que lo convierte en una plataforma integral de nanoanálisis y fabricación con configuraciones integrales y capacidad de expansión.   Para demostrar el excelente rendimiento del DB500 a los usuarios, el equipo de Microscopía Electrónica ha planificado especialmente el programa especial "CIQTEK FIB Show", que presentará la amplia gama de aplicaciones en los campos de la ciencia de materiales, la industria de semiconductores, la biomedicina, etc. en forma de vídeo. El público comprenderá el principio de funcionamiento del DB500, apreciará las impresionantes imágenes microscópicas que captura y explorará en profundidad la importancia de esta tecnología para la investigación científica y el desarrollo industrial.   Preparación de muestras TEM En este episodio, le mostraremos cómo el DB500 puede preparar muestras de microscopio electrónico de transmisión (TEM) de manera eficiente y precisa.   Como puede ver en el video, DB500 prepara muestras TEM con operación simple, pocos pasos de preprocesamiento, bajos costos de aprendizaje y pruebas eficientes; puede lograr un corte preciso a micro y nanoescala en puntos fijos, con tamaño controlable y espesor uniforme, y es adecuado para una variedad de análisis de microscopía y espectroscopía microscópica; y se puede lograr la integración de corte, imágenes y análisis.