En resumen Tres equipos de investigación utilizaron instrumentos CIQTEK ODMR, incluido el microscopio de sonda NV de barrido (SNVM) y el espectrómetro de espín único de diamante, para hacer avanzar tres áreas diferentes de la investigación de materiales avanzados.   Un equipo del Instituto de Física de la Academia China de Ciencias obtuvo imágenes de ondas de espín en el espacio real cerca de defectos magnéticos y dominios de banda acoplados antiferromagnéticamente en películas de YIG y LSMO. Capturaron la dispersión selectiva por longitud de onda y, por primera vez, una distorsión del frente de onda en zigzag a medida que las ondas de espín cruzaban los dominios de banda.   Un equipo de la Universidad de Ciencia y Tecnología de China extrajo selenio de CuCrSe₂ 2D mediante recocido al vacío. Las vacantes de Se resultantes produjeron ferromagnetismo a temperatura ambiente mientras la estructura cristalina en capas permanecía intacta.   Un equipo del Instituto de Semiconductores de la Academia China de Ciencias mapeó cómo un campo magnético transversal mezcla los estados de espín del centro NV, debilita la lectura óptica y cambia el equilibrio entre los estados de carga NV⁻ y NV⁰, todo lo cual es importante para mantener estables los sensores basados en NV en entornos magnéticos del mundo real.   Por qué es importante esto La resonancia magnética detectada ópticamente (ODMR) se sitúa en el centro de la ciencia del espín en estado sólido. Es la forma en que los investigadores obtienen imágenes de campos magnéticos microscópicos, cómo desentrañan la dinámica del espín y cómo convierten un defecto a escala atómica en un diamante en un sensor funcional. Los tres estudios a continuación se apoyaron en la línea de productos ODMR de CIQTEK, que incluye el microscopio de sonda NV de barrido (SNVM) y el espectrómetro de espín único de diamante, para adentrarse en un territorio al que las herramientas más antiguas no podían llegar: imágenes de ondas de espín, ferromagnetismo a temperatura ambiente en materiales 2D y el comportamiento de mezcla de espín de los propios centros NV.   Esto es lo que descubrió cada equipo y por qué es importante para cualquiera que fabrique dispositivos magnónicos, materiales espintrónicos o sensores basados en diamante. Estudio 1: La obtención de imágenes NV de barrido revela cómo se propagan realmente las ondas de espín Dónde se publicó: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy   Título del artículo: Visualización de frentes de onda de ondas de espín modificados cerca de defectos y dominios magnéticos utilizando centros de nitrógeno-vacante   Grupo de investigación: El grupo de Li Yangmu en el Instituto de Física de la Academia China de Ciencias   El equipo utilizó imágenes NV de barrido para realizar imágenes en el espacio real y análisis de fase de la propagación de ondas de espín y frentes de onda cerca de defectos magnéticos a nanoescala y dominios de banda acoplados antiferromagnéticamente en películas magnéticas d...

CIQTEK cotiza en el mercado STAR de Shanghái CIQTEK celebró su ceremonia de cotización en la Bolsa de Valores de Shanghái el 11 de agosto de 2026. La cotización marca una nueva etapa para la empresa a medida que continúa desarrollando instrumentos científicos de alta gama. La empresa cotiza bajo el código bursátil 688828 y desarrolla, fabrica y vende productos que incluyen microscopios electrónicos, espectrómetros de resonancia paramagnética electrónica y espectrómetros de resonancia magnética nuclear.   Información de cotización CIQTEK emitió 40.0100 millones de acciones a 21.22 RMB por acción. Los ingresos brutos de la oferta de nuevas acciones fueron de 849.0122 millones de RMB. Tras la oferta, la empresa tenía 400.0100 millones de acciones en circulación. En 2025, CIQTEK reportó ingresos de 666.191845 millones de RMB. La empresa tiene su sede en Hefei, provincia de Anhui.   De la investigación al uso en el mundo real CIQTEK se centra en convertir las capacidades de investigación en instrumentos que puedan utilizarse en laboratorios y entornos industriales. En la ceremonia, el Dr. He Yu, presidente de CIQTEK, dijo que la cotización es un hito importante y una etapa en el viaje de la empresa desde el laboratorio hasta el uso en el mundo real. El Dr. He agradeció a los clientes, socios, inversores y a los equipos que apoyaron el proceso de oferta y cotización.   Un enfoque en instrumentos útiles y fiables CIQTEK desarrolla instrumentos científicos de alta gama en varias áreas de productos. La empresa continúa invirtiendo en investigación y desarrollo y ampliando su cartera de productos en torno a las necesidades de los clientes. El Dr. He dijo que los comentarios de los clientes, la resolución de problemas técnicos y la entrega fiable son fundamentales para la mejora a largo plazo de la empresa. CIQTEK continuará avanzando en los proyectos financiados por la oferta y fortalecerá una gobernanza transparente y estandarizada.   Mirando hacia el futuro El Dr. He señaló que mejores herramientas de medición apoyan el descubrimiento científico y que los datos de alta calidad siguen siendo esenciales a medida que la inteligencia artificial cambia la forma en que se realiza la investigación. CIQTEK continuará construyendo instrumentos para investigadores y usuarios industriales de todo el mundo. “Nos mantendremos enfocados, seguiremos mejorando a largo plazo y avanzaremos de manera constante”, dijo el Dr. He al cerrar.   Nota de reimpresión Las secciones de apertura y "Información de cotización" están reimpresas de un comunicado público de la Bolsa de Valores de Shanghái. Las secciones restantes están adaptadas de un discurso original del Dr. He Yu, presidente de CIQTEK, pronunciado en la ceremonia de cotización.

El microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado (FIB-SEM) de doble haz CIQTEK DB550 combina la obtención de imágenes electrónicas de alta resolución y el procesamiento de precisión mediante haz de iones en una única plataforma. CIQTEK ha validado su Microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado DB550 (FIB-SEM) en muestras reales de chips de nodo de proceso de 5 nm, Se demuestra la preparación de muestras TEM listas para producción, con estructuras de aletas intactas, cero amorfización y capas de película claramente definidas. Los resultados confirman que el DB550 cumple con las exigentes demandas de los laboratorios avanzados de análisis de fallas de semiconductores que trabajan a la vanguardia de la tecnología de procesos. En la investigación y fabricación de chips avanzados, dos herramientas son fundamentales. El microscopio electrónico de transmisión (TEM) permite observar estructuras a escala atómica. Pero antes de poder hacerlo, se necesita una muestra lo suficientemente delgada para que los electrones la atraviesen. Aquí es donde entra en juego el FIB-SEM de doble haz. Es el laboratorio de precisión que prepara esas muestras ultrafinas. Presentamos el DB550: una plataforma para imágenes y procesamiento a nanoescala. El CIQTEK DB550 FIB-SEM Integra dos potentes capacidades en una única plataforma. Por un lado, un microscopio electrónico de barrido (SEM) proporciona imágenes de superficie de alta resolución. Por otro, un haz de iones focalizado (FIB) realiza la eliminación de material a nanoescala con precisión quirúrgica. Juntas, salvan la distancia entre la observación y la fabricación en dimensiones que se miden en milmillonésimas de metro. En el corazón del DB550 se encuentra un columna de electrones de bajo voltaje y alta resolución combinado con la tecnología patentada de CIQTEK Columna iónica "Changying" Desarrollada íntegramente en la empresa, la columna Chengying es el motor que impulsa las capacidades de corte y grabado a nanoescala del sistema. CIQTEK controla todo el proceso de diseño y fabricación de este componente fundamental. El desafío de los 5 nm: por qué la preparación de muestras se vuelve más difícil con cada nodo En 5 nm y menores Las arquitecturas de chips se basan en transistores de efecto de campo de tipo aleta (FinFET) con anchos y pasos de aleta que se miden en tan solo unos pocos nanómetros. El DB550 está diseñado para manejar todo el flujo de trabajo de preparación de muestras para estos exigentes nodos de proceso. Comienza con corte basto de alta corriente para eliminar rápidamente el material a granel y llegar a la región objetivo. Luego pasa a pulido fino de bajo voltaje para adelgazar la muestra hasta alcanzar las dimensiones adecuadas para su observación mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM) sin dañar las delicadas estructuras subyacentes. Validación TEM: La prueba está en la imagen. CIQTEK Se preparó una muestra de chip con un proceso de fabricación de 5 nm ...