Basado en el D haz mi lectrón METRO icroscopio DB550 Controlado independientemente por Ciqtek , el T ransmisión mi lectrón METRO icroscopio (TEM) La preparación de la muestra a nanoescala de chips de nodo de proceso de 28 nm se logró con éxito. La verificación de TEM puede analizar claramente las dimensiones clave de cada estructura, proporcionando una solución de detección de precisión doméstica para el análisis de defectos del proceso de semiconductores y la mejora del rendimiento. 

Los materiales metálicos juegan un papel indispensable en la industria moderna, y su rendimiento afecta directamente la calidad del producto y la vida útil Con el desarrollo continuo de la ciencia de los materiales, se han presentado requisitos más altos para la estructura microscópica y el análisis de composición de los materiales metálicos Como una herramienta de caracterización avanzada,Microscopio electrónico de barrido(SEM) puede proporcionar información de morfología de la superficie de alta resolución y combinar con técnicas de análisis espectroscópico para la determinación de la composición elemental, lo que lo convierte en una herramienta importante en la investigación de materiales metálicos Este artículo tiene como objetivo discutir la aplicación de la tecnología SEM en la caracterización de los materiales metálicos y proporcionar referencias y orientación para la investigación relacionada Principios básicos del microscopio electrónico de escaneo (SEM)El principio de funcionamiento de un microscopio electrónico de barrido se basa en la interacción entre un haz de electrones y la superficie de la muestra Cuando un haz de electrones de alta energía escanea la superficie de la muestra, se generan varias señales, incluidos electrones secundarios, electrones retrodispersados, radiografías características, etc Estas señales se recogen mediante detectores correspondientes y se procesan para formar imágenes de morfología de la superficie o mapas de distribución elemental de la muestra Preparación de muestra SEM para materiales metálicosAnálisis microestructural: Ciqtek EM proporciona imágenes de alta resolución para ayudar a los investigadores a observar y analice la microestructura de metales y materiales compuestos, como el tamaño del grano, la forma, la fase distribución y defectos (e g., grietas e inclusiones) Esto es crucial para comprender la relación entre propiedades del material y técnicas de procesamiento aleación de titanio αLa zona afectada por el calor es el área más vulnerable en una junta soldada Estudiar los cambios en la microestructura y las propiedades del área soldada son de gran importancia para resolver problemas de soldadura y mejorar la calidad de la soldadura Análisis de composición:Equipado con un sistema EDS o WDS, Ciqtek sem permite cualitativo y Análisis cuantitativo de composición elemental Esto es muy importante para estudiar la distribución Patrones de elementos de aleación y su impacto en las propiedades del material Análisis de línea elemental de edsCombinando SEM con el análisis EDS, los cambios de composición y Distribución de elementos de impurezas enSe puede observar el área de soldadura Análisis de fallas: Después de fallas como fracturas, corrosión u otras formas de daño ocurren en los metales y materiales compuestos, Ciqtek SEM es una herramienta clave para analizar la falla del mecanismo Examinando superficies de fractura, productos de corrosión, etc., se puede identificar la causa raíz de la falla, pr...

Definición y características de los cristales: Los cristales son materiales formados por la disposición regular y periódica de partículas (moléculas, átomos, iones) en espacio tridimensional. Los cristales se pueden clasificar en cristales y policristales individuales. La formación de cristales implica el proceso de partículas que se organizan en un patrón regular. La disposición regular de las partículas da lugar a un marco estructurado dentro del cristal, haciendo sólidos de cristales con una estructura de celosía específica. Los cristales exhiben formas geométricas regulares, tienen puntos de fusión fijos y muestran propiedades anisotrópicas como resistencia mecánica, conductividad térmica y expansión térmica. Los cristales son de naturaleza abundante, y la mayoría de los materiales sólidos que se encuentran en la naturaleza son cristales. Los gases, líquidos y materiales amorfos también pueden transformarse en cristales en condiciones adecuadas. La difracción de rayos X se usa comúnmente para identificar si un material es un cristal o no. Punto de fusión y distribución de cristales: La disposición regular de los átomos en los cristales contribuye a sus puntos fijos de fusión y solidificación, lo cual es una característica distintiva de los cristales en comparación con los materiales amorfos. Los cristales son diversos en la morfología en la naturaleza, que van desde sustancias comunes como sal y azúcar, minerales que componen la corteza de la tierra, hasta metales y materiales semiconductores. Electron M icroscopes y EBSD Las técnicas pueden ayudar a comprender la estabilidad de los cristales en diferentes condiciones y proporcionar información científica para la selección y aplicaciones de materiales. CRISTALES Y POLICITALES SOLOS: Un solo cristal consiste en una red de cristal continuo donde la disposición atómica permanece consistente en todo el cristal, lo que resulta en las propiedades anisotrópicas del cristal. Los cristales individuales son ideales para ciertas aplicaciones, como los cristales individuales de silicio utilizados como material de base para circuitos integrados en la industria de semiconductores.

Recientemente, un artículo de investigación titulado "Modulación fonónica de la relajación de la red de giro en los marcos Molecular Qitb" por el equipo de investigación dirigido por Sun Lei de la Escuela de Ciencias de la Universidad de Westlake se publicó en Nature Communications. Figura 1: Red de enlace de hidrógeno y modulación de fonones de la relajación de la red de giro en MQFS El equipo usó ciqtek pulsado e lectron p aramagnetic r esonance (EPR) s Pectroscopy X-X-Band EPR100

¿Cuál es el proceso de Recristalización P? La recristalización es un fenómeno importante en la ciencia de los materiales que implica la recuperación microestructural del material después de la deformación plástica. Este proceso es crucial para comprender las propiedades de los materiales y optimizar las técnicas de procesamiento. Mecanismos y Cclasificación de Recristalización Los procesos de recristalización suelen desencadenarse por tratamiento térmico o deformación térmica e implican la recuperación natural de materiales después de la generación de defectos durante la deformación. Defectos como las dislocaciones y los límites de los granos promueven la reducción de la energía libre del sistema a altas temperaturas a través del reordenamiento y la aniquilación de las dislocaciones, lo que conduce a la formación de nuevas estructuras de granos. La recristalización se puede clasificar en recristalización estática (SRX) y recristalización dinámica (DRX). SRX ocurre durante los procesos de recocido, mientras que DRX ocurre durante la deformación térmica. Además, la recristalización se puede subdividir aún más en función de mecanismos específicos, como la recristalización dinámica continua (CDRX), la recristalización dinámica discontinua (DDRX), la recristalización dinámica geométrica (GDRX) y la recristalización metadinámica (MDRX). Estas clasificaciones no están estrictamente definidas y los investigadores pueden tener diferentes interpretaciones. Factores que influyen en la recristalización El proceso de recristalización está influenciado por varios factores, incluida la energía de falla de apilamiento (γSFE), el tamaño del grano inicial, las condiciones de procesamiento térmico y las partículas de la segunda fase. La magnitud de la energía de la falla de apilamiento determina la ruptura y la movilidad de la dislocación, afectando así la tasa de recristalización. Los tamaños de grano iniciales más pequeños y las condiciones de procesamiento térmico adecuadas, como altas temperaturas y bajas velocidades de deformación, facilitan la recristalización. Las partículas de la segunda fase pueden influir significativamente en el proceso de recristalización al dificultar el movimiento de los límites del grano. Aplicación de técnicas de imagen EBSD y TEM son dos técnicas de imagen clásicas utilizadas en estudios de recristalización. EBSD analiza la distribución y el porcentaje de granos recristalizados utilizando el mapa DefRex, aunque las limitaciones de resolución pueden plantear problemas de precisión. TEM, por otro lado, proporciona una observación directa de las subestructuras materiales, como las dislocaciones, ofreciendo una perspectiva más intuitiva para los estudios de recristalización. Aplicación de EBSD en estudios de recristalización EBSD se utiliza para determinar si los granos se han recristalizado observando los límites de los granos. Por ejemplo, en los mapas DefRex de aleaciones TNM forjadas, los granos rodeados por límites de ángulo alto ...