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Filamento de tungsteno SEM | SEM3300

Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno

El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.

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▶ Detector de electrones en lente

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Imágenes del diafragma de una batería de litio tomadas a 1 kV con un aumento de 20.000 veces en película, imágenes tomadas con SEM3300

▶ Navegación óptica

El uso de una cámara de cámara montada verticalmente para capturar imágenes ópticas para la navegación de la platina de la muestra permite un posicionamiento más intuitivo y preciso de la muestra.

▶ Funciones automáticas

Funciones mejoradas de brillo y contraste automáticos, enfoque automático y corrección automática del astigmatismo. ¡Captura imágenes con un solo clic!

>> Enfoque automático

>> Corrección automática del astigmatismo

>> Brillo y contraste automáticos

▶ Más seguro de usar

▶ Fácil reemplazo de filamento

Módulo de filamento de reemplazo prealineado listo para usar.

Galería de imágenes del microscopio SEM CIQTEK SEM3300

▶ Software de análisis de partículas y poros (Particle) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software del microscopio SEM CIQTEK emplea varios algoritmos de detección y segmentación de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. Permite el análisis cuantitativo de las estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y la ciencia ambiental.

▶ Software de posprocesamiento de imágenes

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice el posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, herramientas convenientes de medición y anotación.

▶ Medición automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y una mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con diversas funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.

▶ Kit de desarrollo de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio electrónico de barrido (SEM), incluyendo la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido y apagado, el control de la platina, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el desarrollo rápido de scripts y software específicos para el funcionamiento del microscopio electrónico, lo que permite el seguimiento automatizado de regiones de interés, la adquisición de datos para automatización industrial, la corrección de la deriva de la imagen y otras funciones. Se puede utilizar para el desarrollo de software en áreas especializadas como el análisis de diatomeas, la inspección de impurezas del acero, el análisis de limpieza, el control de materias primas, etc.

▶ AutoMap *Opcional

Especificaciones del microscopio SEM CIQTEK SEM3300
Óptica electrónica Resolución 2,5 nm a 15 kV, SE
4 nm a 3 kV, SE
5 nm a 1 kV, SE
Voltaje de aceleración 0,1 kV ~ 30 kV
Aumento (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Cámara de muestras Cámara Navegación óptica
Monitoreo de la Cámara
Tipo de escenario Motorizado compatible con vacío de 5 ejes
Rango XY 125 milímetros
Rango Z 50 milímetros
Rango T - 10° ~ 90°
Rango R 360°
Detectores SEM Estándar Detector de electrones en lente (Inlens)
Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED)
Espectrómetro de energía dispersiva (EDS/EDX)
Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD)
Opcional Intercambio de muestras Loadlock
Panel de control de trackball y perilla
Interfaz de usuario Sistema operativo Ventanas
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático
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