Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno
El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
El uso de una cámara de cámara montada verticalmente para capturar imágenes ópticas para la navegación de la platina de la muestra permite un posicionamiento más intuitivo y preciso de la muestra.
Funciones mejoradas de brillo y contraste automáticos, enfoque automático y corrección automática del astigmatismo. ¡Captura imágenes con un solo clic!
Módulo de filamento de reemplazo prealineado listo para usar.
El software del microscopio SEM CIQTEK emplea varios algoritmos de detección y segmentación de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. Permite el análisis cuantitativo de las estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y la ciencia ambiental.
Realice el posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, herramientas convenientes de medición y anotación.
Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y una mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con diversas funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.
Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio electrónico de barrido (SEM), incluyendo la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido y apagado, el control de la platina, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el desarrollo rápido de scripts y software específicos para el funcionamiento del microscopio electrónico, lo que permite el seguimiento automatizado de regiones de interés, la adquisición de datos para automatización industrial, la corrección de la deriva de la imagen y otras funciones. Se puede utilizar para el desarrollo de software en áreas especializadas como el análisis de diatomeas, la inspección de impurezas del acero, el análisis de limpieza, el control de materias primas, etc.
Microscopía de filamento de tungsteno CIQTEK SEM3300 |
Dentro de la fábrica de CIQTEK: Recorrido por la fabricación de microscopios electrónicos |
Especificaciones del microscopio SEM CIQTEK SEM3300 | ||||
Óptica electrónica | Resolución |
2,5 nm a 15 kV, SE
4 nm a 3 kV, SE 5 nm a 1 kV, SE |
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Voltaje de aceleración | 0,1 kV ~ 30 kV | |||
Aumento (Polaroid) | 1 x ~ 300.000 x | |||
Cámara de muestras | Cámara | Navegación óptica | ||
Monitoreo de la Cámara | ||||
Tipo de escenario | Motorizado compatible con vacío de 5 ejes | |||
Rango XY | 125 milímetros | |||
Rango Z | 50 milímetros | |||
Rango T | - 10° ~ 90° | |||
Rango R | 360° | |||
Detectores SEM | Estándar |
Detector de electrones en lente (Inlens)
Detector Everhart-Thornley (ETD) |
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Opcional |
Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED)
Espectrómetro de energía dispersiva (EDS/EDX) Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) |
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Opcional | Intercambio de muestras Loadlock | |||
Panel de control de trackball y perilla | ||||
Interfaz de usuario | Sistema operativo | Ventanas | ||
Navegación | Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional) | |||
Funciones automáticas | Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático |