Microscopio electrónico de barrido fácil de usar incluso para principiantes
El microscopio SEM CIQTEK SEM2100 presenta un proceso operativo simplificado, cumple con los estándares de la industria y los hábitos del usuario en su diseño de "interfaz de usuario". A pesar de la interfaz de software minimalista, proporciona funciones automatizadas integrales, herramientas de medición y anotación, capacidades de gestión de posprocesamiento de imágenes, navegación óptica de imágenes y más. El diseño del SEM2100 realiza perfectamente la idea de "Simplicidad sin sacrificar la funcionalidad".
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El software CIQTEK SEM Microscope emplea varios algoritmos de segmentación y detección de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. permite el análisis cuantitativo de estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y las ciencias ambientales.
Realice un posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, prácticas herramientas de medición y anotación.
Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con varias funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.
Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio SEM, incluida la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido/apagado, el control de la etapa, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el rápido desarrollo de scripts y software de operación específicos del microscopio electrónico, lo que permite seguimiento automatizado de regiones de interés, adquisición de datos de automatización industrial, corrección de deriva de imágenes y otras funciones. Puede usarse para el desarrollo de software en áreas especializadas como análisis de diatomeas, inspección de impurezas del acero, análisis de limpieza, control de materias primas, etc.
Microscopio SEM CIQTEK SEM2100 | ||||
Óptica electrónica | Resolución | 3,9 nm a 20 kV, SE 4,5 nm a 20 kV, EEB |
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Voltaje de aceleración | 0,5 kV ~ 30 kV | |||
Ampliación (Polaroid) | 1x ~ 300.000x | |||
Cámara de muestras | Cámara | Navegación óptica | ||
Monitoreo de cámara | ||||
Tipo de etapa | Motorizado compatible con vacío de 3 ejes, eje XYZ | |||
Rango XY | 125 milímetros | |||
Rango Z | 50 milímetros | |||
Detectores SEM | Estándar | Detector Everhart-Thornley (ETD) | ||
Opcional | Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED) Espectrómetro de dispersión de energía (EDS) Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) |
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Opcional | Bloqueo de carga de intercambio de muestras | |||
Panel de control de perilla y trackball | ||||
Interfaz de usuario | Sistema operativo | Windows | ||
Navegación | Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional) | |||
Funciones automáticas | Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático |