Estable, versátil, flexible y eficiente
El CIQTEK SEM4000X Es estable, versátil, flexible y eficiente. microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) Alcanza una resolución de 1,9 nm a 1,0 kV y aborda fácilmente los desafíos de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras. Puede actualizarse con un modo de desaceleración de ultrahaz para mejorar aún más la resolución de bajo voltaje.
El microscopio utiliza tecnología multidetector, con un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE, a la vez que proporciona un rendimiento de alta resolución. El detector de electrones (LD) montado en la cámara incorpora un centelleador de cristal y tubos fotomultiplicadores, lo que ofrece mayor sensibilidad y eficiencia, lo que resulta en imágenes estereoscópicas de excelente calidad. La interfaz gráfica de usuario es intuitiva e incluye funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático y alineación automática, lo que permite capturar rápidamente imágenes de ultraalta resolución.
El software del microscopio SEM CIQTEK emplea varios algoritmos de detección y segmentación de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. Permite el análisis cuantitativo de las estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y la ciencia ambiental.
Realice el posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, herramientas convenientes de medición y anotación.
Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y una mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con diversas funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.
Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio electrónico de barrido (SEM), incluyendo la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido y apagado, el control de la platina, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el desarrollo rápido de scripts y software específicos para el funcionamiento del microscopio electrónico, lo que permite el seguimiento automatizado de regiones de interés, la adquisición de datos para automatización industrial, la corrección de la deriva de la imagen y otras funciones. Se puede utilizar para el desarrollo de software en áreas especializadas como el análisis de diatomeas, la inspección de impurezas del acero, el análisis de limpieza, el control de materias primas, etc.
Introducción al CIQTEK FESEM SEM4000X |
Dentro de la fábrica de CIQTEK: Recorrido por la fabricación de microscopios electrónicos |
Especificaciones del microscopio FESEM CIQTEK SEM4000X | ||
Óptica electrónica | Resolución |
0,9 nm a 30 kV, SE
1,2 nm a 15 kV, SE 1,9 nm a 1 kV, SE 1,5 nm a 1 kV (desaceleración del haz ultrarrápido) 1 nm a 15 kV (desaceleración del haz ultrarrápido) |
Voltaje de aceleración | 0,2 kV ~ 30 kV | |
Aumento (Polaroid) | 1 ~ 1.000.000 x | |
Tipo de cañón de electrones | Cañón de electrones de emisión de campo Schottky | |
Cámara de muestras | Cámara | Cámaras duales (navegación óptica + monitoreo de cámara) |
Rango de escenario |
X: 110 mm Y: 110 mm Z: 65 mm T: -10°~ +70° R: 360° |
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Detectores y extensiones SEM | Estándar |
Detector de electrones en lente: UD-BSE/UD-SE Detector Everhart-Thornley: LD |
Opcional |
Detector de electrones retrodispersados (BSED) Detector de microscopía electrónica de transmisión de barrido retráctil (STEM) Detector de bajo vacío (LVD) Espectrómetro de energía dispersiva (EDS/EDX) Patrón de difracción por retrodispersión de electrones (EBSD) Bloqueo de carga de intercambio de muestras (4 pulgadas / 8 pulgadas) Panel de control de trackball y perilla Tecnología de modo de desaceleración Ultra Beam |
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Interfaz de usuario | Idioma | Inglés |
Sistema operativo | Ventanas | |
Navegación | Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional) | |
Funciones automáticas | Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático |