Noticias y Eventos

A medida que la fabricación de semiconductores avanza hacia nodos de proceso más finos, el análisis de defectos a nivel de oblea, la localización de fallas y la fabricación micro-nano se han vuelto claves para mejorar el rendimiento. CIQTEK Introduce el Solución de procesamiento de tamaño completo de doble haz para obleas de 8 pulgadas , combinando imágenes de alta resolución y procesamiento preciso de haz de iones para lograr "observación-análisis-corte" en toda la oblea, brindando un sólido soporte técnico para procesos de semiconductores avanzados. Esta solución cuenta con una platina de muestra de alta precisión de 150 mm de recorrido largo, que permite la observación y el procesamiento no destructivo de obleas completas de 8 pulgadas. Gracias a un sistema de navegación óptica externa y algoritmos inteligentes anticolisión, garantiza un posicionamiento rápido y preciso de las obleas y un funcionamiento seguro. El sistema está equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky, que ofrece una resolución de 0,9 nm a 15 kV y una resolución de haz de iones de 3 nm a 30 kV, capaz de detectar defectos, cortar secciones transversales y fabricar microestructuras a escala nanométrica. Ventajas principales: Etapa de recorrido de 150 mm: Combina largos viajes con alta precisión para un amplio rango de observación. Excelente compatibilidad con accesorios de diferentes tamaños. La estructura robusta garantiza la estabilidad de la oblea y una carga rápida y confiable. Intercambio rápido de 8 pulgadas: Diseño inteligente de soporte de peso con base deslizante para mayor estabilidad y durabilidad. Compatibilidad de tamaño completo: admite obleas de 2/4/6/8 pulgadas. Intercambio rápido de muestras: bombeo de vacío y carga de muestras en un minuto. Software y anticolisión: Navegación inteligente totalmente automática con movimiento y posicionamiento precisos. Movimiento coordinado de múltiples ejes para observación de oblea completa. Anticolisión inteligente: Simulación de trayectorias y cálculos espaciales algorítmicos para evitar riesgos. Monitoreo múltiple en tiempo real: Monitoreo multiángulo en tiempo real de la posición de la oblea. Navegación óptica externa: El diseño de estructura ultraestable suprime la vibración de la imagen. Imágenes de alta definición con un campo de visión preciso para visualización de oblea completa. La iluminación antideslumbrante profesional reduce el reflejo de la superficie de la oblea. Rango de observación de obleas Solución de microscopio electrónico de doble haz CIQTEK Combina hardware excepcional con sistemas de software inteligentes, lo que permite una detección eficiente de defectos y una optimización de procesos mediante el ajuste de brillo y contraste con un solo clic, enfoque automático y salida de imágenes multiformato, lo que permite a los usuarios completar la cadena completa de tareas desde el descubrimiento de defectos hasta la optimiz

En las ciencias de la vida, lograr un análisis estructural y dinámico 3D de gran precisión y a gran escala de muestras biológicas como células y tejidos se ha vuelto clave para superar los cuellos de botella en la investigación. CIQTEK ha introducido una ruta multitecnológica Microscopía electrónica volumétrica (VEM) solución, integrando SS-SEM, SBF-SEM y FIB-SEM Esto proporciona una plataforma integral, de alto rendimiento e inteligente para la reconstrucción biológica en 3D, ayudando a los investigadores a descubrir los misterios de la vida a nivel micro. Tres rutas técnicas avanzadas 01. Imágenes de alta velocidad SS-SEM Combinando el seccionamiento serial externo con el CIQTEK microscopio electrónico de barrido (SEM) HEM6000-Bio de alta velocidad Esta solución permite la obtención rápida de imágenes y la adquisición automatizada de muestras de gran volumen. La eficiencia de adquisición de datos es cinco veces mayor que la del microscopio electrónico de barrido (SEM) convencional, lo que permite un funcionamiento de alto rendimiento sin supervisión las 24 horas del día, los 7 días de la semana. 02. Seccionamiento in situ SBF-SEM Basado en el CIQTEK SEM5000X de ultra alta resolución Con un micrótomo integrado, este método permite ciclos de seccionamiento e imágenes in situ. Ofrece un funcionamiento sencillo, un alto grado de automatización y evita eficazmente la contaminación de la superficie. 03. FIB-SEM Análisis de alta precisión Aprovechando sistemas de doble haz de iones enfocados y electrones, esta ruta ofrece una resolución nanométrica en el eje Z para analizar estructuras finas como orgánulos y membranas. Permite la reconstrucción 3D in situ sin cortes físicos. Integración inteligente y amplias aplicaciones La solución CIQTEK VEM se integra profundamente algoritmos de IA y una plataforma de software multilingüe , que admite un flujo de trabajo completo, desde la adquisición de datos, la alineación y segmentación de imágenes hasta la visualización 3D. Compatible con el software de reconstrucción convencional, reduce significativamente la curva de aprendizaje. Los casos de aplicación abarcan la neurociencia, la biología celular y la microbiología patógena, ofreciendo una herramienta poderosa para avanzar en la investigación en ciencias de la vida.

La investigación sobre el comportamiento microscópico de los materiales está entrando en una nueva era. Acoplamiento multiescenario y caracterización dinámica in situ . CIQTEK ha lanzado un innovador Solución de pruebas mecánicas in situ Diseñado con una apertura y compatibilidad excepcionales, permite una integración perfecta de toda la gama de CIQTEK. microscopios electrónicos con dispositivos de prueba in situ convencionales, proporcionando una plataforma flexible y eficiente para el análisis acoplado en diversos escenarios de investigación. Rompiendo las limitaciones de los sistemas cerrados, la solución integra todos los elementos críticos necesarios para electromagnetismo in situ adaptabilidad, caracterizada por: Corriente de luz alta : >100 nA, ideal para análisis rápido de EDS/EBSD Gran espacio : 360 × 310 × 288 mm (largo × ancho × alto) Alta capacidad de carga :5 kg (hasta 10 kg con accesorios personalizados) CCD de múltiples vistas : garantizar la seguridad del sistema durante la operación in situ Múltiples interfaces :Compatible con accesorios de brida personalizados Preaceptación :Depuración completa de accesorios antes de la entrega, lo que garantiza una funcionalidad completa sin problemas de instalación en el sitio La solución se puede configurar en todos los La gama completa de productos de microscopía electrónica de CIQTEK , incluido CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemas de doble haz DB550 Y más. Además, ofrece una compatibilidad perfecta con etapas de tracción, etapas de calentamiento, nanoindentadores y estaciones de trabajo electroquímicas de proveedores líderes a nivel mundial. Esta arquitectura abierta permite a los investigadores combinar con flexibilidad el equipo más adecuado, maximizando así el rendimiento experimental. Solución de escenario in situ de CIQTEK Apoyó a los clientes en la publicación de un papel de alto impacto (DOI: 10.1126/ciencia.adq6807). Solución mecánica in situ de CIQTEK También admite el acoplamiento multicampo (mecánico, térmico y electroquímico), lo que permite la observación nanométrica en tiempo real de materiales en entornos complejos. Al sincronizar imágenes de alta resolución con señales in situ, los investigadores pueden capturar con precisión fenómenos críticos como la propagación de grietas, las transiciones de fase y las reacciones interfaciales. Con un rango de temperatura de -170 a 1200 °C, control avanzado de carga y sistemas de respuesta rápida, simula con precisión las condiciones de servicio de materiales en diversas industrias. En combinación con EBSD y EDS, proporciona conjuntos de datos completos para comprender el comportamiento de los materiales bajo estímulos acoplados. Aplicado con éxito en materiales aeroespaciales, nuevos dispositivos energéticos y materiales biomédicos Esta solución demuestra la excepcional compatibilidad y escalabilidad de CIQTEK en plataformas de microscopía electrónica avanzada.

Microscopía electrónica de transmisión de barrido en cuatro dimensiones (4D-STEM) Es una de las áreas más innovadoras en microscopía electrónica. Al realizar un escaneo bidimensional de la superficie de la muestra y registrar un patrón de difracción completo en cada punto de escaneo con un detector pixelado, 4D-STEM genera un conjunto de datos cuatridimensional que contiene información tanto del espacio real como del espacio recíproco. Esta técnica supera las limitaciones de la microscopía electrónica convencional, que normalmente solo capta una única señal de dispersión. En su lugar, captura y analiza todo el espectro de interacciones electrón-muestra. Con 4D-STEM, los investigadores pueden lograr múltiples funcionalidades avanzadas en un solo experimento, incluyendo imágenes virtuales, orientación de cristales y mapeo de deformaciones, análisis de la distribución de campos eléctricos y magnéticos (contraste de fase diferencial) e incluso reconstrucción con resolución atómica mediante apilamiento de difracción. Amplía considerablemente la dimensionalidad y la profundidad de la caracterización de materiales, ofreciendo una herramienta sin precedentes para la nanociencia y la investigación de materiales. En la Conferencia Nacional China sobre Microscopía Electrónica 2025 (del 26 al 30 de septiembre, Wuhan), CIQTEK lanza su Solución 4D-STEM , diseñado para romper los límites de la imagenología tradicional y ofrecer datos con una dimensionalidad y un poder analítico inigualables. Flujo de trabajo del sistema El Solución CIQTEK 4D-STEM características Alta resolución espacial, análisis multidimensional, operación de baja dosis para minimizar el daño del haz y un procesamiento de datos flexible , proporcionando a los investigadores métodos fiables y excepcionales para el análisis de materiales avanzados.

De Del 23 al 25 de septiembre de 2025, CIQTEK causó una fuerte impresión en ARABLAB 2025, Celebrada en el World Trade Center de Dubái. En el stand H1-C24 del pabellón 1 de Sheikh Saeed, mostramos nuestros instrumentos científicos y tecnologías petrolíferas más recientes a un público internacional diverso. Logros y logros destacados Portafolio completo mostrado Presentamos sistemas emblemáticos en microscopía electrónica (FIB/SEM, TEM), espectrómetros de resonancia magnética nuclear (RMN) y analizadores de área de superficie y porosimetría BET, lo que subraya nuestro compromiso con el avance de la ciencia analítica. Integración de soluciones petroleras bajo la marca QOILTECH En nuestra línea especializada QOILTECH, introdujimos herramientas para la exploración petrolera, incluyendo RSS, sistemas MWD/LWD y herramientas gamma de proximidad. Estas ofertas tuvieron una excelente acogida entre los participantes que buscaban instrumentación robusta para entornos extremos. Fuerte compromiso y retroalimentación En el stand, atendimos consultas técnicas y compartimos casos de éxito de diversos sectores, incluyendo la investigación y la industria. Muchos asistentes expresaron interés en futuras colaboraciones, demostraciones y oportunidades de prueba. Redes y asociaciones globales ARABLAB 2025 reunió a distribuidores, usuarios finales e instituciones científicas de todo el mundo. CIQTEK fortaleció relaciones y abrió diálogos para futuros proyectos y colaboraciones regionales en Oriente Medio y otros lugares. ¡CIQTEK agradece a todos los visitantes, socios y colegas que nos acompañaron en Dubai! ¡Esperamos seguir colaborando y realizar investigaciones de gran impacto en el futuro!

En los campos de investigación del rendimiento de materiales de alta temperatura y análisis del mecanismo de transición de fase, los métodos tradicionales de calentamiento externo a menudo no logran combinar el control preciso de la temperatura de la microrregión con la observación en tiempo real. CIQTEK , en colaboración con el Centro Micro-Nano de la Universidad de Ciencia y Tecnología de China, ha desarrollado un innovador Solución de chip de calentamiento in situ Al integrar chips de calentamiento MEMS con microscopios electrónicos de doble haz, esta solución permite un control preciso de la temperatura (desde temperatura ambiente hasta 1100 °C) y el análisis microdinámico de muestras, ofreciendo una nueva herramienta para estudiar el comportamiento de los materiales en entornos de alta temperatura. Esta solución utiliza el Microscopio electrónico de barrido (SEM) de doble haz CIQTEK y chips de calentamiento MEMS especializados Con una precisión de control de temperatura superior a 0,1 °C y una resolución de temperatura superior a 0,1 °C, el sistema también ofrece una excelente uniformidad de temperatura y baja radiación infrarroja, lo que garantiza un análisis estable a altas temperaturas. El sistema admite diversas técnicas de caracterización durante el calentamiento, como la observación de la morfología de microrregiones, el análisis de la orientación cristalina mediante EBSD y el análisis de la composición mediante EDS. Esto permite una comprensión completa de las transiciones de fase, la evolución de la tensión y la migración de la composición bajo efectos térmicos. El sistema funciona sin romper el vacío, cumpliendo todos los requisitos del proceso para la preparación y caracterización de muestras (EBSD de microrregión in situ). El diseño de flujo de trabajo integrado abarca todo el proceso, desde la preparación de muestras (procesamiento con haz de iones, extracción con nanomanipulador) hasta las pruebas de soldadura y calentamiento in situ. El sistema admite operaciones multiángulo, con un chip de calentamiento de 45° y una rejilla de cobre de 36°, lo que satisface las complejas necesidades experimentales. El sistema se ha aplicado con éxito en la investigación del rendimiento a alta temperatura de aleaciones, cerámicas y semiconductores, ayudando a los usuarios a obtener conocimientos más profundos sobre las respuestas de los materiales en entornos del mundo real. 26-30 de septiembre, Wuhan | Conferencia Nacional China de Microscopía Electrónica 2025 ¡Se exhibirán las ocho principales soluciones de microscopía electrónica de CIQTEK!

CIQTEK ha presentado su próxima generación oblea de 12 pulgadas microscopio electrónico de barrido (MEB) solución Diseñado para satisfacer las demandas de los procesos avanzados de fabricación de semiconductores. Al ofrecer inspección completa de obleas sin necesidad de rotación ni inclinación, esta innovadora solución garantiza un análisis no destructivo de alta resolución para respaldar el desarrollo de procesos críticos. Equipado con un escenario de viaje ultragrande (X/Y ≥ 300 mm), el sistema proporciona una cobertura completa de obleas de 30 cm, eliminando la necesidad de cortar o transferir muestras. Esto garantiza una observación fiel del tamaño y la posición originales. Con un Cañón de electrones de emisión de campo Schottky , logra una resolución de 1,0 nm a 15 kV y 1,5 nm a 1 kV, minimizando el daño del haz de electrones, lo que lo hace ideal para materiales y estructuras sensibles. Características principales incluir: Etapa de viaje ultra grande (X/Y > 300 mm) para inspección de oblea completa Imágenes de alta resolución : 1,0 nm a 15 kV y 1,5 nm a 1 kV Carga automatizada y sistema de navegación óptica Para un intercambio rápido de obleas y un posicionamiento preciso Software inteligente Para enfoque automático, corrección de astigmatismo y salida de imágenes multiformato El SEM de inspección de obleas de 12 pulgadas de CIQTEK es más que una simple herramienta de observación; es un instrumento fundamental que impulsa mayores rendimientos y nodos más pequeños en la fabricación de semiconductores. 26 al 30 de septiembre, Wuhan CIQTEK presentará ocho soluciones de microscopía electrónica de vanguardia al Conferencia Nacional China de Microscopía Electrónica 2025 !

En los campos de las ciencias de la vida, la biomedicina, la inspección de alimentos y la investigación de materia blanda, obtener imágenes de alta resolución de muestras hidratadas y sensibles al haz siempre ha sido un gran desafío. Los métodos convencionales de preparación de muestras, como la fijación química, la deshidratación y el secado, suelen provocar contracción, deformación o daños estructurales, lo que produce resultados que difieren del estado real de la muestra. Aprovechando su tecnología avanzada microscopía electrónica de barrido tecnología, CIQTEK ha introducido el Solución crio-SEM , que integra congelación a baja temperatura y transferencia de vacío. Esto permite la observación microscópica in situ, no destructiva y de alta fidelidad de muestras biológicas y sensibles, capturando fielmente los detalles microscópicos de la vida. Con la tecnología de congelación rápida con nitrógeno líquido, las muestras se pueden vitrificar instantáneamente a -210 °C, conservando al máximo su morfología y composición química originales. El sistema integrado de criopreparación combina la criofractura, el recubrimiento por sublimación y la transferencia a baja temperatura, evitando la complejidad y los posibles errores de la preparación manual convencional. Durante todo el proceso, las muestras se mantienen en condiciones de vacío criogénico y se transfieren a la criopreservación SEM, donde la obtención de imágenes de alta resolución a -180 °C suprime eficazmente el daño causado por el haz de electrones y mejora significativamente la calidad de la imagen. Hoja de boj criopreparada que muestra estructuras venosas intactas , mientras que la muestra sin tratar presenta una contracción severa. Yogur Moho La muestra de yogur criopreparado revela claramente redes de proteínas e hifas de hongos. Además, el sistema ofrece una fuerte compatibilidad y es adaptable en todos los ámbitos. La gama completa de microscopios electrónicos de CIQTEK y sistemas FIBSEM de doble haz , satisfaciendo diversas necesidades, desde la observación de rutina hasta el análisis avanzado. El Solución crio-SEM CIQTEK Es más que un simple conjunto de instrumentos. Representa un enfoque científico dedicado a restaurar fielmente el mundo microscópico. Permite a los investigadores superar las limitaciones técnicas, capturar detalles cruciales a microescala de la vida e impulsar la investigación fundamental y el desarrollo aplicado a nuevas cotas. 26 al 30 de septiembre, Wuhan Al Conferencia Académica China de Microscopía Electrónica 2025 CIQTEK presentará ocho soluciones EM de vanguardia . ¡Manténganse al tanto!