Noticias y Eventos

CIQTEK concluye con éxito su participación en la 10.ª ARPE Summer School en Francia CIQTEK, un fabricante y proveedor líder deResonancia Paramagnética Electrónica (EPR)instrumentación avanzada, se complace en anunciar la exitosa conclusión de su participación en la 10.ª ARPE Summer School, celebrada del 22 de junio al 26 de junio de 2026 en Obernai, Francia, con sesiones prácticas realizadas en laboratorios de EPR en la cercana Estrasburgo. Bajo el tema "Mejora de habilidades en espectroscopía EPR: fundamentos teóricos e implementaciones prácticas", la escuela de verano de este año reunió a investigadores internacionales, científicos de instrumentación y expertos en aplicaciones de todo el mundo para explorar los últimos avances en los fundamentos de la espectroscopía EPR, implementaciones prácticas y aplicaciones prácticas con experiencia directa. CIQTEK realizó contribuciones significativas a la escuela a través de sesiones de conferencia y demostraciones prácticas, fortaleciendo su conexión con la comunidad global de investigación en EPR. Presentación y demostración en vivo en línea — martes, 23 de junio En el segundo día del evento, CIQTEK impartió una sesión integral de 35 minutos en Obernai, que comprendió una presentación de 15 minutos seguida de una demostración en vivo en línea de 20 minutos. La presentación ofreció una visión detallada de las últimas tecnologías de EPR de CIQTEK, mientras que la demostración en vivo mostró las capacidades y aplicaciones en el mundo real de los avanzados sistemas de EPR de la empresa a una audiencia de investigadores internacionales y profesionales de la industria. Sesiones prácticas de jornada completa — miércoles, 24 de junio El punto culminante de la participación de CIQTEK fue la sesión práctica de jornada completa realizada en los laboratorios de EPR en Estrasburgo. El espectrómetro de sobremesa EPR 200M de CIQTEK fue protagonista en cuatro sesiones dedicadas de 60 minutos, lo que permitió a los participantes obtener experiencia directa y práctica con el instrumento. Bajo la guía de expertos, los asistentes exploraron técnicas de medición de muestras y aplicaciones prácticas, reforzando el compromiso de la escuela de vincular el conocimiento teórico con habilidades del mundo real. Conectando a los usuarios de EPR con instrumentación de vanguardia Más allá de las sesiones científicas, el evento brindó valiosas oportunidades de interacción directa entre los usuarios de EPR y la tecnología instrumental. Los participantes tuvieron la oportunidad de experimentar de primera mano los espectrómetros de sobremesa y de EPR pulsado de CIQTEK, y de participar en cursos prácticos que abarcaron las mejores prácticas en espectroscopía EPR. Acerca de CIQTEK CIQTEKes una empresa de alta tecnología dedicada al desarrollo y la fabricación de instrumentos científicos avanzados. Con un fuerte enfoque en la espectroscopía EPR, CIQTEK ofrece soluciones innovadoras que combinan tecnología de vanguardia con un diseño fácil ...

Como líder global en la fabricación de instrumentos científicos, CIQTEK se complace en anunciar nuestra participación en la próxima conferencia internacional de resonancia magnética EUROMAR 2026. Como participante en este prestigioso evento, le invitamos cordialmente a visitarnos en Stand #13 para explorar tecnologías de resonancia magnética de vanguardia y sus aplicaciones innovadoras.   Acerca de EUROMAR 2026 Como una reunión internacional de primer nivel en el campo de la resonancia magnética, EUROMAR reúne a los principales científicos, expertos de la industria y líderes tecnológicos de todo el mundo. El evento está dedicado a compartir los últimos avances en investigación y a impulsar la innovación y el progreso continuo de la tecnología de resonancia magnética.   Destacados en el Stand y Sesión de Pósters de CIQTEK En la conferencia de este año, CIQTEK presentará una gama de instrumentos científicos avanzados y descubrimientos de investigación: Exposición de Tecnología de Vanguardia: Presentaremos nuestros últimos logros de investigación y soluciones en Resonancia Paramagnética Electrónica (EPR) y Resonancia Magnética Nuclear (NMR). Presentación de Póster: Nos complace anunciar nuestro póster titulado "Next Generation EPR: Advanced X, Q, and W Band Instrumentation with AI Enhanced Spectral Processing". Esperamos compartir con usted nuestras últimas ideas sobre instrumentación y análisis espectral potenciado por IA. Interacción con Expertos: Le invitamos a visitar Stand #13, donde nuestro equipo de expertos técnicos senior estará disponible para ofrecer consultas profesionales, orientación en aplicaciones y discusiones profundas sobre sus desafíos experimentales. Intercambio Académico: Esperamos entablar discusiones cara a cara con usted, compartir las prácticas innovadoras de CIQTEK en instrumentación científica y explorar juntos las futuras tendencias de la industria.   Esperamos Verlo Creemos que cada intercambio académico es una oportunidad vital para fomentar el progreso científico. Ya sea que esté buscando soluciones experimentales de alta precisión o siguiendo las últimas iteraciones en tecnología de resonancia magnética, el stand de CIQTEK (#13) será un destino esencial para el networking profesional y el descubrimiento. Por favor, continúe siguiendo nuestras plataformas oficiales para obtener las últimas actualizaciones sobre las actividades de CIQTEK durante EUROMAR 2026. ¡Esperamos encontrarnos con usted en persona en la exhibición y embarcarnos juntos en un viaje para explorar el futuro de la tecnología de resonancia magnética!

CIQTEK, un fabricante y proveedor líder de instrumentación avanzada de Resonancia Paramagnética Electrónica (EPR), participará en la 10.ª Escuela de Verano ARPE en Obernai, Francia. El evento reunirá a investigadores internacionales, científicos de instrumentación y expertos en aplicaciones para explorar los últimos avances en los fundamentos de la espectroscopía EPR, implementaciones prácticas y aplicaciones prácticas. Detalles del evento Fecha: 22–26 de junio de 2026 Ubicación: Obernai, Francia (sesiones prácticas en laboratorios de EPR cercanos en Estrasburgo) Mejorando las habilidades en EPR a través de la teoría y la práctica La escuela de este año tiene como tema "Mejorando las habilidades en espectroscopía EPR: fundamentos teóricos e implementaciones prácticas." El plan de estudios cubre: Fundamentos de EPR de onda continua (CW) e instrumentación Sistemas anisotrópicos y estrategias de análisis espectral Captura de espín y métodos computacionales EPR pulsado y técnicas de cuantificación Aplicaciones de EPR: Física, energía y salud Contribuciones de CIQTEK a la escuela La escuela contará con la participación de CIQTEK tanto en sesiones teóricas como en demostraciones prácticas presenciales. Martes, 23 de junio — Presentación y demostración en línea Formato: sesión de 35 minutos (15 minutos de presentación + 20 minutos de demostración en línea) Ubicación: Obernai CIQTEK realizará una presentación integral sobre nuestras últimas tecnologías EPR, seguida de una demostración en línea en vivo que mostrará las capacidades y aplicaciones de nuestros sistemas EPR avanzados. Miércoles, 24 de junio — Sesiones prácticas presenciales de día completo Ubicación: Laboratorios de EPR en Estrasburgo Formato: sesiones prácticas presenciales de día completo Demostración de CIQTEK: espectrómetro EPR 200M Duración: 60 minutos por grupo Grupos: 4 sesiones Los participantes obtendrán experiencia directa y práctica con el espectrómetro EPR 200M de CIQTEK, explorando técnicas de medición de muestras y aplicaciones prácticas bajo la guía de expertos. Conectando a los usuarios de EPR con la tecnología de instrumentación Además de las sesiones científicas, la escuela brindará oportunidades de interacción directa entre los usuarios de EPR y la tecnología de instrumentación. Los participantes tendrán la oportunidad de experimentar con los espectrómetros de sobremesa y de pulso de CIQTEK, y participar en cursos prácticos sobre buenas prácticas en EPR. Resumen del programa del evento     Día Fecha Actividad de CIQTEK Ubicación Martes 23 de junio Presentación + demostración en línea (35 min) Obernai Miércoles 24 de junio Demostración práctica: EPR 200M (60 min × 4 grupos) Laboratorios de EPR de Estrasburgo Acerca de CIQTEK CIQTEK es una empresa de alta tecnología dedicada al desarrollo y la fabricación de instrumentos científicos avanzados. Con un fuerte enfoque en la espectroscopía EPR, ofrecemos soluciones innovadoras que combinan tecnología de vanguardia con un diseño f...

CIQTEK presentará soluciones de microscopía electrónica y ofrecerá una presentación en la sesión de la empresa. Hefei, China— Del 9 al 12 de junio de 2026, se celebrará en Oulu, Finlandia, la Reunión Anual SCANDEM 2026 de la Sociedad Nórdica de Microscopía. CIQTEK, proveedor líder de soluciones de medición de precisión cuántica y microscopía electrónica, anuncia su participación en este prestigioso evento. CIQTEK destacará dos productos clave de microscopía electrónica en Stand II.5 y realizar una presentación en la Sesión de la Compañía para interactuar con investigadores y expertos destacados de la comunidad global de microscopía. Acerca de SCANDEM 2026 SCANDEM es una de las conferencias anuales de microscopía más antiguas e influyentes de la región nórdica. La reunión de este año está organizada conjuntamente por el Centro de Análisis de Materiales del Biocentro Oulu y la Sociedad Nórdica de Microscopía, y tendrá lugar en el Edificio Kieppi del Biocentro Oulu. La conferencia abarca dos grandes áreas temáticas: ciencias de la vida (desde la obtención de imágenes de organismos completos hasta técnicas a nivel molecular) y ciencia de los materiales (metalurgia, geología, catalizadores, nanopartículas, etc.). El programa incluye conferencias plenarias, presentaciones científicas, sesiones de pósteres y una sala de exposiciones, con una asistencia prevista de entre 120 y 150 personas y la participación de unos 20 proveedores de instrumentos. Cabe destacar que Oulu ha sido designada Capital Europea de la Cultura 2026, ofreciendo a los visitantes de todo el mundo un ambiente cultural único y una vibrante escena de innovación. Aspectos destacados de la exposición CIQTEK Información del stand El stand de CIQTEK está ubicado en II.5 En la zona de exposiciones, el equipo presentará dos productos clave de microscopía electrónica, y contará con especialistas técnicos disponibles para ofrecer presentaciones detalladas de los productos y consultas técnicas. Productos destacados Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) SEM5000X de ultra alta resolución. : El microscopio electrónico de barrido por emisión de campo insignia de CIQTEK Cuenta con un avanzado sistema óptico electrónico que proporciona imágenes de ultra alta resolución. lo que lo hace ideal para el análisis nanoestructural de precisión en ciencia de materiales, semiconductores y ciencias de la vida. . Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad HEM6000 : Una estación de trabajo de alto rendimiento diseñada para la inspección de grandes áreas y por lotes. Con una corriente de haz excepcionalmente alta, una estabilidad extraordinaria y flujos de trabajo automatizados, acelera significativamente la velocidad de obtención de imágenes para el control de calidad industrial y la investigación avanzada. . Presentación de la empresa CIQTEK se presentará en Sesión 1 (Sesión de la empresa LS1+MS1, Sala 101A) desde aproximadamente De 11:00 a 11:10 . Presentador Miles, especialist...

El microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado (FIB-SEM) de doble haz CIQTEK DB550 combina la obtención de imágenes electrónicas de alta resolución y el procesamiento de precisión mediante haz de iones en una única plataforma. CIQTEK ha validado su Microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado DB550 (FIB-SEM) en muestras reales de chips de nodo de proceso de 5 nm, Se demuestra la preparación de muestras TEM listas para producción, con estructuras de aletas intactas, cero amorfización y capas de película claramente definidas. Los resultados confirman que el DB550 cumple con las exigentes demandas de los laboratorios avanzados de análisis de fallas de semiconductores que trabajan a la vanguardia de la tecnología de procesos. En la investigación y fabricación de chips avanzados, dos herramientas son fundamentales. El microscopio electrónico de transmisión (TEM) permite observar estructuras a escala atómica. Pero antes de poder hacerlo, se necesita una muestra lo suficientemente delgada para que los electrones la atraviesen. Aquí es donde entra en juego el FIB-SEM de doble haz. Es el laboratorio de precisión que prepara esas muestras ultrafinas. Presentamos el DB550: una plataforma para imágenes y procesamiento a nanoescala. El CIQTEK DB550 FIB-SEM Integra dos potentes capacidades en una única plataforma. Por un lado, un microscopio electrónico de barrido (SEM) proporciona imágenes de superficie de alta resolución. Por otro, un haz de iones focalizado (FIB) realiza la eliminación de material a nanoescala con precisión quirúrgica. Juntas, salvan la distancia entre la observación y la fabricación en dimensiones que se miden en milmillonésimas de metro. En el corazón del DB550 se encuentra un columna de electrones de bajo voltaje y alta resolución combinado con la tecnología patentada de CIQTEK Columna iónica "Changying" Desarrollada íntegramente en la empresa, la columna Chengying es el motor que impulsa las capacidades de corte y grabado a nanoescala del sistema. CIQTEK controla todo el proceso de diseño y fabricación de este componente fundamental. El desafío de los 5 nm: por qué la preparación de muestras se vuelve más difícil con cada nodo En 5 nm y menores Las arquitecturas de chips se basan en transistores de efecto de campo de tipo aleta (FinFET) con anchos y pasos de aleta que se miden en tan solo unos pocos nanómetros. El DB550 está diseñado para manejar todo el flujo de trabajo de preparación de muestras para estos exigentes nodos de proceso. Comienza con corte basto de alta corriente para eliminar rápidamente el material a granel y llegar a la región objetivo. Luego pasa a pulido fino de bajo voltaje para adelgazar la muestra hasta alcanzar las dimensiones adecuadas para su observación mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM) sin dañar las delicadas estructuras subyacentes. Validación TEM: La prueba está en la imagen. CIQTEK Se preparó una muestra de chip con un proceso de fabricación de 5 nm ...

A Winning Team: SEM + FIB, the "Golden Combination" CIQTEK brings SEM and FIB together as a powerful team, providing critical support for PCB process optimization, reliability verification, and root cause determination of failures. SEM High-Resolution Imaging: The "Microscope" for Surface Details The SEM uses a high-resolution electron beam to capture crisp images of PCB surface morphology. It reveals solder pad plating, intermetallic compounds, micro-cracks, tin whiskers, and foreign particle contamination with exceptional clarity. Coupled with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS), the SEM also performs elemental analysis on microscopic regions. This combination lets engineers identify the chemical signature of defects, making it straightforward to spot issues like short circuits, open circuits, corrosion, and plating anomalies. FIB Nanoscale Cutting: The "Scalpel" for Internal Structures While the SEM excels at surface imaging, the FIB takes over when you need to see what is happening inside the board. Using a nanometer-precision ion beam, the FIB performs targeted cross-sectioning at the exact defect location. It prepares ultra-thin slices through multi-layer boards, blind vias, and buried vias, exposing internal structures that mechanical sectioning simply cannot reach. Think of the FIB as a microscopic surgical tool. It removes material with nanometer accuracy, leaving a clean cross-section ready for imaging and analysis. CIQTEK Semiconductor Showcase: See It in Action The Beauty of the Microscopic World, Revealed in Every Detail. Here are real examples of CIQTEK electron microscopes in PCB cross-section observation: Solder Joint Interface Panorama Low magnification observation of capacitor overall morphology, viewing the real microscopic structure of the capacitor solder joint interface from the inside IMC Layer Evaluation Evaluating interlayer bonding, measuring IMC thickness and uniformity, detecting voids, cracks, and interface defects Multi-Layer Board Inner Structure Clear observation of IMC layer morphology, thickness, continuity, and density at the solder pad and solder interface Process Reliability Evaluation Evaluating trace pattern, thickness, etching quality and copper-to-substrate bonding, detecting line shift, etch defects, delamination, voids, and analyzing plating layer quality for PCB process control and reliability assessment Built for Labs That Demand Reliability CIQTEK develops its electron microscopy platforms from the ground up, covering core algorithms through hardware design. This vertical integration ensures consistent performance and long-term supply stability, which matters for labs running continuous production or multi-year research programs. The company backs its instruments with responsive technical support and regular software updates, helping users keep their systems running efficiently over time. Get in Touch If you are evaluating SEM or FIB systems for your PCB inspection workflow, the CIQTEK team can...

CIQTEK, fabricante y proveedor líder de instrumentación avanzada de resonancia paramagnética electrónica (RPE) y resonancia magnética nuclear (RMN), participará en la "Conferencia conjunta de resonancia magnética Francia-Bélgica-Países Bajos-Luxemburgo (FBNL-MR 2026)" que se celebrará en Lille, Francia. El evento reunirá a investigadores destacados, científicos especializados en instrumentación y expertos en aplicaciones de toda Europa y de otros lugares para intercambiar los últimos avances en espectroscopia EPR y RMN. Detalles del evento Fecha: Del 2 al 5 de junio de 2026 Ubicación: Lille, Francia Charla patrocinada por CIQTEK: Martes 2 de junio, 15:50–16:00 (10 min), Anfiteatro A Título de la charla: Historia clínica electrónica de última generación: Combinación de instrumentación de banda Q de alto rendimiento con procesamiento espectral mejorado mediante inteligencia artificial. Avances en la historia clínica electrónica mediante la integración de hardware e inteligencia artificial. A medida que la investigación avanza hacia sistemas biológicos y materiales cada vez más complejos, CIQTEK aborda estos desafíos desarrollando hardware de alto rendimiento junto con el primer modelo de IA dedicado para EPR. Esta presentación se centrará en cómo el enfoque integrado de CIQTEK permite: • Mayor sensibilidad y resolución espectral Con sistemas EPR pulsados de banda Q que utilizan tecnología de amplificador de potencia de estado sólido, se descifran acoplamientos hiperfinos complejos de metales y se extrae información dipolar para el mapeo de distancias DEER de alta resolución. • Análisis espectral automatizado mediante un modelo EPR de IA de tres capas entrenado con más de 100.000 conjuntos de datos reales y simulados, logrando una precisión del 99,9 % para las simulaciones y del 92 % para las muestras del mundo real. • Flujo de trabajo optimizado desde los datos brutos hasta la publicación. con ajuste espectral automatizado, caracterización de componentes y generación de informes experimentales, además de orientación predictiva que sugiere experimentos de seguimiento. • Menores barreras técnicas para los investigadores En química, biología y ciencia de los materiales, impulsando la EPR hacia una tecnología más accesible y con mayor impacto. Resumen de la charla El avance de la EPR requiere un enfoque dual en hardware robusto y software inteligente para superar la brecha entre la complejidad y el descubrimiento. Nuestro sistema de banda Q mejora la sensibilidad y la resolución, descifrando acoplamientos hiperfinos complejos y datos dipolares más ricos para un mapeo de distancias preciso. Mientras tanto, el asistente de IA automatiza el ajuste, la caracterización y la generación de informes con una precisión del 92 % para muestras reales, proporcionando orientación predictiva para una verificación posterior de las muestras. Este enfoque unificado reduce las barreras técnicas y maximiza la producción científica, lo que permite a la comunidad científica...

La temperatura no es solo un entorno ambiental en resonancia paramagnética electrónica (RPE) Espectroscopia. Es un parámetro experimental fundamental, a la par de la potencia de microondas y el rango del campo magnético. Elegir la temperatura adecuada permite obtener señales más nítidas, mayor sensibilidad y detalles estructurales que las mediciones a temperatura ambiente no pueden revelar. Si se elige incorrectamente, la señal puede desaparecer por completo. Esta guía explica la física de la EPR a temperatura variable y ayuda a seleccionar la configuración adecuada para las muestras. Por qué la temperatura es tan importante en la EPR Todo experimento de EPR plantea tres preguntas: ¿Cómo modifica la temperatura el entorno de espín microscópico? ¿Cómo afecta a la interpretación espectral? ¿Y qué sistemas requieren necesariamente mediciones a temperatura variable? Analicemos esto en detalle. Refrigeración: La forma más sencilla de aumentar la sensibilidad La señal EPR proviene de un hecho simple. Los electrones desapareados ocupan dos niveles de energía de espín, y la diferencia de población entre esos niveles es lo que detectamos. En un campo magnético externo B 0 , los espines de los electrones experimentan División de Zeeman , creando dos niveles con m s = +1/2 y m s = -1/2. La diferencia de energía entre ellos es: El distribución de Boltzmann rige cómo los electrones pueblan estos niveles. La proporción de población depende de la temperatura de una manera muy directa: Esto es lo que significa en la práctica. La intensidad de la señal EPR es proporcional a la diferencia de población entre los dos niveles. Esa diferencia se escala como 1/T. En otras palabras, si se baja la temperatura, la señal se vuelve más fuerte. Punto. La temperatura es una variable independiente y totalmente controlable, por lo que enfriar la muestra es la forma más fundamental y directa de aumentar la sensibilidad absoluta en Espectroscopia EPR . Espectros de RPE de una muestra de carbón de baja concentración, medidos a diferentes temperaturas. Las temperaturas más bajas producen señales mucho más intensas. (Medidos con un sistema de RPE CIQTEK). El enfriamiento ralentiza la relajación, revelando señales ocultas. La temperatura no solo afecta la intensidad de la señal. También controla relajación de giro , que determina si se puede detectar una señal. La relajación en resonancia magnética se divide en dos categorías. Relajación espín-red (T 1 ). Este es el proceso en el que los espines excitados intercambian energía con la red cristalina circundante. Es altamente sensible a la temperatura. A temperatura ambiente, las vibraciones de la red son vigorosas. Los espines excitados disipan su energía rápidamente, por lo que T 1 es corto. Enfría el sistema y, efectivamente, "congelarás" esas vibraciones de la red. 1 Se alarga drásticamente. Relajación espín-espín (T 2 ). Esto se debe principalmente a las interacciones dipolares magnéticas entre espines vecinos. La temperatura influ...