TEM de emisión de campo | TH-F120

Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado Ga+ El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para el nanoanálisis y la preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, y cuenta con la característica de "bajo voltaje y alta resolución" para garantizar sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una fuente de iones metálicos líquidos Ga+ con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.

Alta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.

Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.

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