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Bajo voltaje y alta resolución
Alta estabilidad
Detector de electrones en lente

*Locklock de intercambio de muestras (compatible con 8 pulgadas)
Deflexión de haz electromagnético con aperturas de múltiples orificios
Excelente capacidad de expansión

▶ Óptica electrónica

★ Tecnología de columna óptica electrónica "Super Tunnel"/desaceleración del haz en la lente
Disminuye el efecto de carga espacial, garantizando una resolución de bajo voltaje.

★ Sin cruces en la trayectoria del haz de electrones
Reduce eficazmente las aberraciones de la lente y mejora la resolución.

★ Lente objetivo compuesta electromagnética y electrostática
Reduce las aberraciones, mejora significativamente la resolución a bajos voltajes y permite la observación de muestras magnéticas.

★ Lente objetivo de temperatura constante refrigerada por agua
Asegúrese de la estabilidad, confiabilidad y repetibilidad del funcionamiento de la lente objetivo.

★ Apertura variable de múltiples orificios con sistema de deflexión de haz electromagnético
Cambio automático entre aperturas sin movimiento mecánico, lo que permite un cambio rápido entre los modos de imagen.

▶ Modo ECCI basado en BSED (imágenes de contraste por canalización de electrones)

El "efecto de canalización de electrones" se refiere a una reducción significativa en la dispersión de electrones por las redes cristalinas, cuando el haz de electrones incidente satisface la condición de difracción de Bragg, permitiendo que una gran cantidad de electrones pasen a través de la red, exhibiendo así un efecto de "canalización".

En materiales policristalinos con composición uniforme y superficies planas pulidas, la intensidad de los electrones retrodispersados depende de la orientación relativa entre el haz de electrones incidente y los planos cristalinos. Los granos con mayor variación de orientación presentan señales más intensas, lo que produce imágenes más brillantes. Con este mapa de orientación de granos se logra una caracterización cualitativa.

Aleaciones impresas en 3D (preparadas con pulido por haz de iones)
Acero inoxidable (preparado con pulido por haz de iones)

▶ Imágenes multicanal simultáneas a través de varios detectores

Se logró una gran resolución en las características topográficas de la superficie con imágenes del detector de electrones en la lente.
Buenas imágenes estereoscópicas de características morfológicas con el detector Everhart-Thornley
Imagen de contraste de número atómico (contraste Z) con detector de electrones retrodispersados retráctil

▶ Detector retráctil de microscopía electrónica de transmisión por barrido (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Múltiples modos de funcionamiento: Imágenes de campo claro (BF), imágenes de campo oscuro (DF), imágenes de campo oscuro anular de ángulo alto (HAADF)

Imágenes de campo claro de secciones de plantas (STEM-BF)
Imágenes de campo oscuro de secciones de plantas (STEM-DF)
Imagen de contraste de número atómico (contraste Z) con detector de electrones retrodispersados retráctil

▶ Avances en microscopía electrónica CIQTEK: más opciones

>> Espectrometría de energía dispersiva

>> Catoluminiscencia

>> EBSD

Galería de imágenes del microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro

>> Ciencia de los materiales - Nanomateriales

Material bidimensional no conductor C3N4, caracterización no destructiva de su estructura de capa fina en condiciones de baja tensión a 500 V
Imágenes de espuma de níquel con un fuerte efecto tridimensional utilizando un voltaje de excitación de 2 kV con el detector Everhart-Thornley (ETD)
Imágenes de polvo de plata subnanométrico utilizando un detector de electrones en lente a 3 kV en condiciones de alto vacío

>> Ciencia de los materiales - Materiales energéticos

Precursor de cátodo de batería de iones de litio: fosfato de hierro con baja conductividad, fotografiado utilizando un detector de electrones en lente (In-lens) en condiciones de bajo voltaje (1 kV)
La calidad de la metalización superficial de obleas de silicio fotovoltaico, obtenida mediante un detector Everhart-Thornley (ETD) montado en una cámara a 2 kV
Película de SEI (interfase de electrolito sólido) de superficie sobre el electrodo negativo averiado, fotografiada en condiciones de alto vacío utilizando un detector de electrones en lente (In-lens) a 3 kV

>> Ciencias de los materiales - Materiales poliméricos y materiales metálicos

Se utilizó el detector Everhart-Thornley (ETD) en condiciones de alto vacío y bajo voltaje (1 kV) para obtener imágenes de la morfología de microesferas de poliestireno. No se observó ningún fenómeno de carga, lo que resultó en una percepción tridimensional precisa.
Imágenes no destructivas de 500 V de fibras de membrana de polímero de batería de iones de litio en condiciones de sensibilidad superficial
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Imágenes de alta resolución de precipitados de tamaño nanométrico en superficies de fractura utilizando el detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED)

>> Materiales magnéticos: materiales poliméricos y materiales metálicos

Perlas magnéticas de polímero, con baja conductividad, caracterizadas mediante un bajo voltaje a 2 kV con un detector Everhart-Thornley (ETD) para la caracterización de la administración de fármacos biológicamente dirigidos.
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
Se utilizaron imágenes de 10 kV con el detector Everhart-Thornley (ETD) para caracterizar la superficie de fractura del metal de aleación de hierro y níquel.
Las perlas magnéticas de polímero, caracterizadas mediante un detector Everhart-Thornley (ETD) de bajo voltaje de 2 kV, exhiben un fuerte sentido de tridimensionalidad.

>> Materiales semiconductores

Imágenes de los patrones de superficie y circuitos en un chip utilizando un detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED)
Caracterización mediante detector t-Thornley Everhar (ETD) de bajo voltaje (2 kV) de las texturas de la superficie y del borde de los orificios de una fotorresistencia
Imágenes de las uniones soldadas de hilos de oro en un chip mediante un Detector Retráctil de Electrones Retrodispersados (BSED). Muestra preparada mediante pulido por haz de iones.

>> Ciencias de la vida

Caracterización de iridóforos en células de piel de lagarto, utilizando el detector STEM en el CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Los colores animales en la naturaleza se pueden clasificar en dos categorías según sus mecanismos de formación: colores pigmentados y colores estructurales.
Los colores de los pigmentos se logran a través de variaciones en la composición del pigmento y la superposición de colores, similares a los principios de los "colores primarios".
Los colores estructurales, por otro lado, se generan mediante la reflexión de la luz de diferentes longitudes de onda por intrincadas estructuras fisiológicas, basadas principalmente en principios ópticos. Los iridóforos, presentes en las células de la piel de los lagartos, poseen estructuras similares a las rejillas de difracción. A estas estructuras las llamamos "placas cristalinas". Las placas cristalinas pueden reflejar y dispersar la luz de diferentes longitudes de onda. Diversos estudios han demostrado que, al variar el tamaño, la separación y el ángulo de las placas cristalinas en los iridóforos de los lagartos, se pueden alterar las longitudes de onda de la luz dispersada y reflejada por su piel. Este hallazgo es fundamental para comprender los mecanismos que subyacen al cambio de color en la piel de los lagartos.

▶ Software de análisis de partículas y poros (Particle) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software del microscopio SEM CIQTEK emplea varios algoritmos de detección y segmentación de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. Permite el análisis cuantitativo de las estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y la ciencia ambiental.

▶ Software de posprocesamiento de imágenes *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice el posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, herramientas convenientes de medición y anotación.

▶ Medición automática *Opcional

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y una mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con diversas funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.

▶ Kit de desarrollo de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio electrónico de barrido (SEM), incluyendo la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido y apagado, el control de la platina, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el desarrollo rápido de scripts y software específicos para el funcionamiento del microscopio electrónico, lo que permite el seguimiento automatizado de regiones de interés, la adquisición de datos para automatización industrial, la corrección de la deriva de la imagen y otras funciones. Se puede utilizar para el desarrollo de software en áreas especializadas como el análisis de diatomeas, la inspección de impurezas del acero, el análisis de limpieza, el control de materias primas, etc.

▶ AutoMap *Opcional

Microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro en el campus de Ulsan, Universidad Politécnica de Corea
Nuestros clientes coreanos instalaron con éxito el FESEM SEM5000 en el campus de Ulsan. Es ampliamente reconocido como uno de los SEM más avanzados del momento. (Video incluido)

>> Leer más

Introducción al CIQTEK FESEM SEM5000Pro

CIQTEK FESEM SEM5000Pro en el campus de Ulsan de la Universidad Politécnica de Corea

Dentro de la fábrica de CIQTEK: Recorrido por la fabricación de microscopios electrónicos

Especificaciones del microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Óptica electrónica	Resolución	0,8 nm a 15 kV, SE 1,2 nm a 1,0 kV, SE
	Voltaje de aceleración	0,02 kV ~ 30 kV
	Ampliación (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Tipo de cañón de electrones	Cañón de electrones de emisión de campo Schottky
Cámara de muestras	Cámara	Cámaras duales (navegación óptica + monitor de cámara)
	Cámara	Cámaras duales (navegación óptica + monitor de cámara)
	Rango de escenario	X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 65 mm T: -10°～ +70°, R: 360°
Detectores y extensiones SEM	Estándar	Detector de electrones Inlens Detector Everhart-Thornley (ETD)
Detectores y extensiones SEM	Opcional	Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED) Microscopio electrónico de transmisión de barrido retráctil (STEM) Detector de bajo vacío (LVD) Espectroscopía de energía dispersiva (EDS/EDX) Patrón de difracción por retrodispersión de electrones (EBSD) Bloqueo de carga para intercambio de muestras (4 pulgadas/8 pulgadas) Panel de control de trackball y perilla
Software	Idioma	Inglés
	Sistema operativo	Ventanas
	Navegación	Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
	Funciones automáticas	Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático

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