FESEM de resolución ultraalta | SEM5000X

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con columnas de haz de iones enfocados (FIB) El Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adopta tecnología de óptica electrónica “SuperTunnel”, baja aberración y diseño de objetivo no magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar El análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para nanofabricación. FIB-SEM DB500 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y 24 puertos de expansión, lo que lo convierte en una plataforma integral de nanoanálisis y fabricación con configuraciones integrales y capacidad de expansión. .

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo Con el diseño de columna óptica electrónica de condensador de tres etapas para corrientes de haz de hasta 200 nA, SEM4000Pro ofrece ventajas en EDS, EBSD, WDS y otras aplicaciones analíticas. El sistema admite el modo de bajo vacío, así como un detector de electrones secundario de alto rendimiento y bajo vacío y un detector de electrones retrodispersados ​​retráctil, que pueden ayudar a observar directamente muestras poco conductoras o incluso no conductoras. El modo de navegación óptica estándar y una interfaz de operación de usuario intuitiva facilitan el trabajo de su análisis.

Microscopio SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento con excelentes capacidades de calidad de imagen en modos de alto y bajo vacío El CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM tiene una gran profundidad de campo con una interfaz fácil de usar para permitir a los usuarios caracterizar muestras y explorar el mundo de las imágenes y el análisis microscópicos.

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