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Microscopía electrónica de transmisión de barrido en cuatro dimensiones (4D-STEM) Es una de las áreas más innovadoras en microscopía electrónica. Al realizar un escaneo bidimensional de la superficie de la muestra y registrar un patrón de difracción completo en cada punto de escaneo con un detector pixelado, 4D-STEM genera un conjunto de datos cuatridimensional que contiene información tanto del espacio real como del espacio recíproco. Esta técnica supera las limitaciones de la microscopía electrónica convencional, que normalmente solo capta una única señal de dispersión. En su lugar, captura y analiza todo el espectro de interacciones electrón-muestra. Con 4D-STEM, los investigadores pueden lograr múltiples funcionalidades avanzadas en un solo experimento, incluyendo imágenes virtuales, orientación de cristales y mapeo de deformaciones, análisis de la distribución de campos eléctricos y magnéticos (contraste de fase diferencial) e incluso reconstrucción con resolución atómica mediante apilamiento de difracción. Amplía considerablemente la dimensionalidad y la profundidad de la caracterización de materiales, ofreciendo una herramienta sin precedentes para la nanociencia y la investigación de materiales. En la Conferencia Nacional China sobre Microscopía Electrónica 2025 (del 26 al 30 de septiembre, Wuhan), CIQTEK lanza su Solución 4D-STEM , diseñado para romper los límites de la imagenología tradicional y ofrecer datos con una dimensionalidad y un poder analítico inigualables. Flujo de trabajo del sistema El Solución CIQTEK 4D-STEM características Alta resolución espacial, análisis multidimensional, operación de baja dosis para minimizar el daño del haz y un procesamiento de datos flexible , proporcionando a los investigadores métodos fiables y excepcionales para el análisis de materiales avanzados.

De Del 23 al 25 de septiembre de 2025, CIQTEK causó una fuerte impresión en ARABLAB 2025, Celebrada en el World Trade Center de Dubái. En el stand H1-C24 del pabellón 1 de Sheikh Saeed, mostramos nuestros instrumentos científicos y tecnologías petrolíferas más recientes a un público internacional diverso. Logros y logros destacados Portafolio completo mostrado Presentamos sistemas emblemáticos en microscopía electrónica (FIB/SEM, TEM), espectrómetros de resonancia magnética nuclear (RMN) y analizadores de área de superficie y porosimetría BET, lo que subraya nuestro compromiso con el avance de la ciencia analítica. Integración de soluciones petroleras bajo la marca QOILTECH En nuestra línea especializada QOILTECH, introdujimos herramientas para la exploración petrolera, incluyendo RSS, sistemas MWD/LWD y herramientas gamma de proximidad. Estas ofertas tuvieron una excelente acogida entre los participantes que buscaban instrumentación robusta para entornos extremos. Fuerte compromiso y retroalimentación En el stand, atendimos consultas técnicas y compartimos casos de éxito de diversos sectores, incluyendo la investigación y la industria. Muchos asistentes expresaron interés en futuras colaboraciones, demostraciones y oportunidades de prueba. Redes y asociaciones globales ARABLAB 2025 reunió a distribuidores, usuarios finales e instituciones científicas de todo el mundo. CIQTEK fortaleció relaciones y abrió diálogos para futuros proyectos y colaboraciones regionales en Oriente Medio y otros lugares. ¡CIQTEK agradece a todos los visitantes, socios y colegas que nos acompañaron en Dubai! ¡Esperamos seguir colaborando y realizar investigaciones de gran impacto en el futuro!

En los campos de investigación del rendimiento de materiales de alta temperatura y análisis del mecanismo de transición de fase, los métodos tradicionales de calentamiento externo a menudo no logran combinar el control preciso de la temperatura de la microrregión con la observación en tiempo real. CIQTEK , en colaboración con el Centro Micro-Nano de la Universidad de Ciencia y Tecnología de China, ha desarrollado un innovador Solución de chip de calentamiento in situ Al integrar chips de calentamiento MEMS con microscopios electrónicos de doble haz, esta solución permite un control preciso de la temperatura (desde temperatura ambiente hasta 1100 °C) y el análisis microdinámico de muestras, ofreciendo una nueva herramienta para estudiar el comportamiento de los materiales en entornos de alta temperatura. Esta solución utiliza el Microscopio electrónico de barrido (SEM) de doble haz CIQTEK y chips de calentamiento MEMS especializados Con una precisión de control de temperatura superior a 0,1 °C y una resolución de temperatura superior a 0,1 °C, el sistema también ofrece una excelente uniformidad de temperatura y baja radiación infrarroja, lo que garantiza un análisis estable a altas temperaturas. El sistema admite diversas técnicas de caracterización durante el calentamiento, como la observación de la morfología de microrregiones, el análisis de la orientación cristalina mediante EBSD y el análisis de la composición mediante EDS. Esto permite una comprensión completa de las transiciones de fase, la evolución de la tensión y la migración de la composición bajo efectos térmicos. El sistema funciona sin romper el vacío, cumpliendo todos los requisitos del proceso para la preparación y caracterización de muestras (EBSD de microrregión in situ). El diseño de flujo de trabajo integrado abarca todo el proceso, desde la preparación de muestras (procesamiento con haz de iones, extracción con nanomanipulador) hasta las pruebas de soldadura y calentamiento in situ. El sistema admite operaciones multiángulo, con un chip de calentamiento de 45° y una rejilla de cobre de 36°, lo que satisface las complejas necesidades experimentales. El sistema se ha aplicado con éxito en la investigación del rendimiento a alta temperatura de aleaciones, cerámicas y semiconductores, ayudando a los usuarios a obtener conocimientos más profundos sobre las respuestas de los materiales en entornos del mundo real. 26-30 de septiembre, Wuhan | Conferencia Nacional China de Microscopía Electrónica 2025 ¡Se exhibirán las ocho principales soluciones de microscopía electrónica de CIQTEK!

CIQTEK ha presentado su próxima generación oblea de 12 pulgadas microscopio electrónico de barrido (MEB) solución Diseñado para satisfacer las demandas de los procesos avanzados de fabricación de semiconductores. Al ofrecer inspección completa de obleas sin necesidad de rotación ni inclinación, esta innovadora solución garantiza un análisis no destructivo de alta resolución para respaldar el desarrollo de procesos críticos. Equipado con un escenario de viaje ultragrande (X/Y ≥ 300 mm), el sistema proporciona una cobertura completa de obleas de 30 cm, eliminando la necesidad de cortar o transferir muestras. Esto garantiza una observación fiel del tamaño y la posición originales. Con un Cañón de electrones de emisión de campo Schottky , logra una resolución de 1,0 nm a 15 kV y 1,5 nm a 1 kV, minimizando el daño del haz de electrones, lo que lo hace ideal para materiales y estructuras sensibles. Características principales incluir: Etapa de viaje ultra grande (X/Y > 300 mm) para inspección de oblea completa Imágenes de alta resolución : 1,0 nm a 15 kV y 1,5 nm a 1 kV Carga automatizada y sistema de navegación óptica Para un intercambio rápido de obleas y un posicionamiento preciso Software inteligente Para enfoque automático, corrección de astigmatismo y salida de imágenes multiformato El SEM de inspección de obleas de 12 pulgadas de CIQTEK es más que una simple herramienta de observación; es un instrumento fundamental que impulsa mayores rendimientos y nodos más pequeños en la fabricación de semiconductores. 26 al 30 de septiembre, Wuhan CIQTEK presentará ocho soluciones de microscopía electrónica de vanguardia al Conferencia Nacional China de Microscopía Electrónica 2025 !

En los campos de las ciencias de la vida, la biomedicina, la inspección de alimentos y la investigación de materia blanda, obtener imágenes de alta resolución de muestras hidratadas y sensibles al haz siempre ha sido un gran desafío. Los métodos convencionales de preparación de muestras, como la fijación química, la deshidratación y el secado, suelen provocar contracción, deformación o daños estructurales, lo que produce resultados que difieren del estado real de la muestra. Aprovechando su tecnología avanzada microscopía electrónica de barrido tecnología, CIQTEK ha introducido el Solución crio-SEM , que integra congelación a baja temperatura y transferencia de vacío. Esto permite la observación microscópica in situ, no destructiva y de alta fidelidad de muestras biológicas y sensibles, capturando fielmente los detalles microscópicos de la vida. Con la tecnología de congelación rápida con nitrógeno líquido, las muestras se pueden vitrificar instantáneamente a -210 °C, conservando al máximo su morfología y composición química originales. El sistema integrado de criopreparación combina la criofractura, el recubrimiento por sublimación y la transferencia a baja temperatura, evitando la complejidad y los posibles errores de la preparación manual convencional. Durante todo el proceso, las muestras se mantienen en condiciones de vacío criogénico y se transfieren a la criopreservación SEM, donde la obtención de imágenes de alta resolución a -180 °C suprime eficazmente el daño causado por el haz de electrones y mejora significativamente la calidad de la imagen. Hoja de boj criopreparada que muestra estructuras venosas intactas , mientras que la muestra sin tratar presenta una contracción severa. Yogur Moho La muestra de yogur criopreparado revela claramente redes de proteínas e hifas de hongos. Además, el sistema ofrece una fuerte compatibilidad y es adaptable en todos los ámbitos. La gama completa de microscopios electrónicos de CIQTEK y sistemas FIBSEM de doble haz , satisfaciendo diversas necesidades, desde la observación de rutina hasta el análisis avanzado. El Solución crio-SEM CIQTEK Es más que un simple conjunto de instrumentos. Representa un enfoque científico dedicado a restaurar fielmente el mundo microscópico. Permite a los investigadores superar las limitaciones técnicas, capturar detalles cruciales a microescala de la vida e impulsar la investigación fundamental y el desarrollo aplicado a nuevas cotas. 26 al 30 de septiembre, Wuhan Al Conferencia Académica China de Microscopía Electrónica 2025 CIQTEK presentará ocho soluciones EM de vanguardia . ¡Manténganse al tanto!

CIQTEK se complace en anunciar la exitosa instalación y capacitación del FIBSEM DB550 en nuestro Distribuidor coreano Centro de Microscopios Electrónicos del GSEM Este hito marca un paso importante en la expansión del acceso a la tecnología avanzada. Tecnología de microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado (FIBSEM) en Corea del Sur. El DB550 combina imágenes de alta resolución con fresado preciso por haz de iones, lo que permite a los investigadores realizar reconstrucciones 3D, análisis transversales y modificación de materiales a nanoescala con eficiencia y precisión. Con estas capacidades, el sistema abre nuevas posibilidades para el análisis de semiconductores, la ciencia de los materiales y la investigación en ciencias de la vida. Tras la instalación, los ingenieros del CIQTEK impartieron capacitación práctica al equipo de GSEM, abarcando tanto los flujos de trabajo estándar como las aplicaciones avanzadas. Las sesiones interactivas permitieron a los usuarios adquirir experiencia práctica en el manejo del instrumento, desde la preparación de muestras hasta la obtención de imágenes de alta resolución y el análisis de datos. El entusiasmo y la participación del equipo de GSEM destacaron el gran potencial del DB550 para apoyar diversos proyectos de investigación en el centro. Esta colaboración refleja el compromiso de CIQTEK de colaborar estrechamente con socios de todo el mundo. Al equipar las instalaciones de GSEM con el DB550, no solo reforzamos nuestra presencia en el mercado coreano, sino que también facilitamos el acceso de los investigadores locales a herramientas de vanguardia para la innovación científica. Esperamos ver los emocionantes resultados que el Centro de Microscopía Electrónica de GSEM logrará con el DB550, y seguimos comprometidos a brindar soporte técnico y colaboración continuos.

El 10ª Escuela de Verano EFEPR , celebrado en la Universidad de Manchester, recibió a más de 130 jóvenes investigadores y expertos establecidos de toda Europa para una semana inspiradora de conferencias, tutoriales y sesiones prácticas. CIQTEK , junto con nuestro socio del Reino Unido Ciencia médica , estaba orgulloso de ser parte de este vibrante evento dedicado a promover Resonancia Paramagnética Electrónica (EPR) ciencia. En nuestro stand presentamos la Espectrómetro de sobremesa CIQTEK EPR200M Una plataforma compacta pero potente, diseñada para laboratorios de enseñanza, grupos de investigación e instalaciones emergentes. Muchos participantes se mostraron entusiasmados al ver cómo el instrumento combina alto rendimiento con accesibilidad, lo que generó conversaciones sobre aplicaciones que abarcan desde estudios de radicales libres hasta análisis de metales de transición. Pero la ciencia no fue el único punto culminante. Para darle un toque más cálido al evento, presentamos a nuestros... Mascota panda de CIQTEK —un compañero de peluche que rápidamente se convirtió en uno de los favoritos de los asistentes. El panda aportó un toque divertido, ayudando a los estudiantes a relajarse y fomentando debates más abiertos y participativos. Fue un gran recordatorio de que la ciencia puede ser a la vez rigurosa y alegre. A lo largo de la semana, nuestro equipo disfrutó de profundos debates sobre temas como experimentos de temperatura variable, la modernización de los sistemas de EPR tradicionales y el papel de los instrumentos de sobremesa en la ampliación del acceso a la formación en EPR. Estos intercambios reforzaron nuestro compromiso de apoyar tanto a los laboratorios consolidados como a la próxima generación de investigadores. Agradecemos especialmente a nuestro distribuidor SciMed por su gran apoyo y colaboración durante todo el evento. Su experiencia y entusiasmo contribuyeron a crear un espacio acogedor donde los participantes pudieron explorar nuevas ideas y conectar con lo último en instrumentación EPR. Abandonamos Manchester llenos de energía gracias a la pasión de la comunidad EFEPR y esperamos seguir contribuyendo a la educación e investigación global de EPR.

Del 24 al 29 de agosto de 2025, CIQTEK participó en el Conferencia de Microscopía 2025 (MC2025) celebrado en Karlsruhe, Alemania, uno de los eventos más grandes e influyentes de Europa en el campo de microscopía electrónica La conferencia atrajo a destacados científicos, desarrolladores de instrumentos y usuarios industriales, creando una plataforma dinámica para el intercambio académico y la colaboración tecnológica. Como parte del programa, CIQTEK impartió una Presentación del expositor noble: “Desbloqueando el poder de Microscopía electrónica de barrido de alta velocidad — sin comprometer la excelente resolución de imágenes a bajo kV”. La presentación destacó el enfoque de CIQTEK para permitir Imágenes SEM de alto rendimiento manteniendo Resolución excepcional a bajos voltajes de aceleración —un equilibrio crítico para las aplicaciones en Ciencia de los materiales, análisis de fallos de semiconductores e investigación en ciencias de la vida La charla generó considerable interés entre los asistentes y provocó animados debates sobre cómo los sistemas SEM avanzados pueden acelerar tanto la investigación fundamental como las aplicaciones industriales. Más allá de la presentación, el equipo de CIQTEK interactuó activamente con investigadores y profesionales de la industria, compartiendo conocimientos sobre el negocio más amplio de la empresa. portafolio de microscopía electrónica y explorar oportunidades de colaboración. Estos intercambios no solo profundizaron el conocimiento de las fortalezas tecnológicas del CIQTEK, sino que también fortalecieron las conexiones dentro de la comunidad global de microscopía. La exitosa participación de CIQTEK en MC2025 refleja su misión continua de Ampliar los límites de la tecnología de imágenes EM y proporcionar a los investigadores de todo el mundo Soluciones potentes, accesibles e innovadoras De cara al futuro, la empresa seguirá ampliando las alianzas internacionales y contribuyendo al avance del descubrimiento impulsado por la microscopía.