CIQTEK participará en la reunión del 60.º aniversario de la Sociedad de Microscopía de Texas (TSM 2026)
CIQTEK participará en la reunión del 60.º aniversario de la Sociedad de Microscopía de Texas (TSM 2026)
January 15, 2026
CIQTEK
se complace en anunciar su participación en la
Reunión del 60.º aniversario de la Sociedad de Microscopía de Texas (TSM)
, que tendrá lugar el
19 y 20 de febrero de 2026
, en
La Universidad de Texas en Austin, EE.UU.
.
Conmemorando seis décadas de contribuciones a la comunidad de la microscopía, TSM 2026 reúne a investigadores, administradores de instalaciones y profesionales de la industria para debatir tanto el legado como el futuro de la microscopía. Es un honor para CIQTEK formar parte de este evento histórico y conectar con la comunidad de la microscopía de Texas y de Estados Unidos en general.
Apoyando la microscopía avanzada con soluciones EM prácticas y de alto rendimiento
En TSM 2026, CIQTEK exhibirá su creciente cartera de
microscopios electrónicos (EM)
, diseñado para satisfacer las necesidades cambiantes de la investigación académica, instalaciones compartidas y laboratorios industriales.
Línea de productos EM de CIQTEK
Cubre una amplia gama de aplicaciones, desde imágenes de rutina hasta caracterización avanzada de materiales, incluyendo:
En todo el portafolio, CIQTEK se centra en ofrecer
Rendimiento de imágenes confiable, operación intuitiva del sistema y valor de propiedad a largo plazo
, ayudando a los laboratorios a lograr resultados consistentes sin complejidad innecesaria.
Interactuando con la comunidad de microscopía
CIQTEK considera conferencias como TSM no solo como una oportunidad para presentar instrumentación, sino también como una plataforma para un intercambio técnico significativo. Durante la reunión, el equipo de CIQTEK espera con interés debatir los desafíos reales de la microscopía, las consideraciones para la selección de sistemas y las necesidades operativas a largo plazo con usuarios de ciencias de los materiales, ciencias de la vida y aplicaciones industriales.
Para los asistentes interesados en aprender más sobre las soluciones EM de CIQTEK o explorar posibles colaboraciones, ¡CIQTEK da una cálida bienvenida a las conversaciones durante la reunión en Austin!
Soporte local de CIQTEK USA
Para servir mejor a los clientes en América del Norte,
CIQTEK mantiene una sucursal local en Estados Unidos
, proporcionando soporte de ventas regional, asesoramiento sobre aplicaciones y asistencia de servicio a largo plazo para usuarios de microscopía electrónica.
Para obtener más información sobre las soluciones CIQTEK EM o para conectarse con el equipo de CIQTEK USA, contáctenos en
info.usa@ciqtek.com
.
Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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