CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
February 11, 2026
March 27, 2026 – Evanston, Illinois, USA
CIQTEK is excited to join the Annual Spring Meeting of the Midwest Microscopy and Microanalysis Society (MMMS) on March 27, 2026, hosted at Northwestern University in Evanston, Illinois. This gathering is a must-attend event for researchers, microscopists, and industry professionals across the Midwest, providing a platform to share the latest in electron microscopy, microanalysis, and cutting-edge lab techniques.
Meet CIQTEK's Electron Microscopy USA Team
Our US local team will be on-site to meet attendees, discuss real-world lab challenges, and share insights into CIQTEK's full line of electron microscopy solutions. From routine SEMs to advanced field-emission systems, CIQTEK designs instruments that deliver reliable imaging, high performance, and practical usability for academic, industrial, and research labs.
The MMMS Spring Meeting is more than a conference; it’s a chance to see the latest technology in action, exchange ideas with peers, and explore tools that can make everyday lab work easier and more efficient. CIQTEK is proud to be part of this vibrant microscopy community, supporting innovation and practical solutions for researchers across the Midwest.
Come meet us in Evanston on March 27!
Explore our SEM lineup, chat with our team, and discover how CIQTEK instruments can support your microscopy and microanalysis needs.
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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