Gira mundial de CIQTEK: Presentación de soluciones SEM avanzadas en SCANDEM 2026, Dinamarca.
Gira mundial de CIQTEK: Presentación de soluciones SEM avanzadas en SCANDEM 2026, Dinamarca.
March 26, 2026
[Odense, Dinamarca]
CIQTEK se enorgullece de anunciar su participación en el
77ª Reunión Anual de la Sociedad Nórdica de Microscopía (SCANDEM 2026)
, celebrada en Odense, Dinamarca, del 9 al 12 de junio.
Visítenos en el stand II.5.
Como centro neurálgico para la instrumentación de precisión, Odense ofrece el escenario perfecto para que CIQTEK logre "
Resonancia académica
" con instituciones nórdicas de primer nivel. Al profundizar nuestras raíces en los ecosistemas científicos de Dinamarca, Suecia y Noruega, nuestro objetivo es abordar las necesidades de caracterización más exigentes y empoderar
investigación regional y crecimiento industrial
mediante nuestras herramientas de medición de precisión.
Charla de expertos: Innovación en SEM de alta velocidad
Uno de los aspectos más destacados de la participación de CIQTEK será una presentación técnica a cargo de nuestro Gerente de Soluciones:
Vocero:
Dr. Miles Yao, Gerente de Soluciones en CIQTEK
Tema:
Desbloqueando el potencial de la exclusiva solución de microscopía electrónica de barrido de alta velocidad de CIQTEK
Enfocar:
Descubra cómo las exclusivas soluciones SEM de alta velocidad de CIQTEK permiten obtener imágenes a gran escala y de alta resolución para acelerar la productividad de la investigación.
Visión global: Soporte profesional sin interrupciones
CIQTEK
está expandiendo rápidamente su red de servicios global. En SCANDEM 2026, nuestro equipo europeo proporcionará experiencia directa a la comunidad de investigación nórdica. Estamos comprometidos a ofrecer
Soporte receptivo y profesional
Sin fronteras, desde la instalación hasta el desarrollo de aplicaciones especializadas, garantizando la excelencia científica para nuestros socios en el norte de Europa.
CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.
Microscopia electrónica de barrido (SEM) de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelente capacidad de expansión.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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