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Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo | SEM5000

CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética.

Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.

Pistola de electrones
Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo
Resolución
0,9 nm a 15 kV, SE

1,3 nm a 1 kV, SE

0,8 nm a 30 kV, VÁSTAGO
Aumento
1 ~ 2.500.000x
Voltaje de aceleración
20 V ~ 30 kV
Etapa de muestra
Automático de cinco ejes

• Imágenes de alta resolución con bajo voltaje de aceleración.

• El objetivo compuesto electromagnético mejora la resolución de bajo voltaje y permite la observación de muestras magnéticas.

• La tecnología de túnel de alta presión (SuperTunnel) garantiza una resolución de bajo voltaje.

• La trayectoria óptica electrónica sin cruce reduce efectivamente la aberración del sistema y mejora la resolución.

• Lente objetivo de temperatura constante enfriada por agua, para garantizar la estabilidad, confiabilidad y repetibilidad del trabajo de la lente objetivo.

• Sistema de apertura múltiple de seis orificios con desviación magnética, con aperturas conmutables automáticas, sin necesidad de ajuste mecánico, logra imágenes de alta resolución o modo de análisis de haz grande a través de un cambio rápido con un clic.

Sustrato de Vidrio
3 kV / ETD
Catalizador
5 kV / Inlens
Escherichia coli
3 kV / Inlens

Nanolámina de Nitruro de Boro
3 kV / ETD
Precursor Positivo Ternario
3 kV / Inlens
Polvo de aleación de alta entropía
10 kV / BSED

Polvo Metálico Cobre
3 kV / Inlens
Sección Cerámica
3 kV / Inlens
Cobaltato de Litio
3 kV / Inlens

Nanoflor
1 kV / Inlens
Secciones de Planta
30 kV / STEM-BF
Secciones de Planta
30 kV / STEM-DF

Secciones de Planta
30 kV / STEM-HAADF
Bohemita
5 kV / BSED
Inclusiones de Acero
15 kV / BSED

Inclusiones de Acero
15 kV / Inlens

Parámetros clave	Resolución	0,9 nm a 15 kV, SE 1,3 nm a 1,0 kV, SE 0,8 nm a 30 kV, VÁSTAGO
	Voltaje de aceleración	20 V ~ 30 kV
	Aumento	1 ~ 2.500.000x
	Tipo de pistola de electrones	Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo
Cámara de muestras	Sistema de vacío	Control completamente automático, sistema de vacío sin aceite.
	Cámara	Cámaras duales (navegación óptica + monitor de cámara)
	Rango de escenario	X: 125 mm, Y: 125 mm, Z: 50 mm T: -10°～ +90°, R: 360° (*Versión de cámara extra grande opcional disponible)
Detectores y Extensiones	Estándar	Detector Inlens SE Detector Everhart-Thornley (ETD)
Detectores y Extensiones	Opcional	Detector de electrones retrodispersados de ángulo medio de inserción plana Detector de electrones de transmisión de escaneo retráctil automático STEM Bloqueo de carga de intercambio de muestras Supresor de haz rápido Espectroscopia de dispersión de energía (EDS/EDX) Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) Corriente inducida por haz de electrones (EBIC) Catodoluminiscencia (CL) Etapa de tracción in situ Nanomanipulador Unión de imágenes a gran escala Panel de control con trackball y perilla
Software	Idioma	Inglés
	Sistema operativo	ventanas
	Navegación	Nav-Cam, navegación por gestos
	Funciones automáticas	Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático

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