Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo | SEM5000

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado Ga+ El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para el nanoanálisis y la preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, y cuenta con la característica de "bajo voltaje y alta resolución" para garantizar sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una fuente de iones metálicos líquidos Ga+ con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.

Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.

Estable, versátil, flexible y eficiente El CIQTEK SEM4000X Es estable, versátil, flexible y eficiente. microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) Alcanza una resolución de 1,9 nm a 1,0 kV y aborda fácilmente los desafíos de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras. Puede actualizarse con un modo de desaceleración de ultrahaz para mejorar aún más la resolución de bajo voltaje. El microscopio utiliza tecnología multidetector, con un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE, a la vez que proporciona un rendimiento de alta resolución. El detector de electrones (LD) montado en la cámara incorpora un centelleador de cristal y tubos fotomultiplicadores, lo que ofrece mayor sensibilidad y eficiencia, lo que resulta en imágenes estereoscópicas de excelente calidad. La interfaz gráfica de usuario es intuitiva e incluye funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático y alineación automática, lo que permite capturar rápidamente imágenes de ultraalta resolución.

SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento y universal Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón electrónico de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes prestaciones.