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*Modo de vacío bajo
Proporcione detalles y morfología de la superficie de la muestra en vacío bajo, el software cambia el estado de vacío con un solo clic
(*Accesorios Opcionales)
Detectores versátiles
El microscopio electrónico de barrido (SEM) se utiliza no sólo para la observación de la morfología de la superficie sino también para el análisis de la composición de las microrregiones de la superficie de la muestra.
CIQTEK SEM3200 tiene una cámara de muestra grande con una interfaz extensa. Además de admitir el detector Everhart-Thornley (ETD) convencional, el detector de electrones retrodispersados (BSE) y la espectroscopía de rayos X de dispersión de energía (EDS/EDX), varias interfaces como los difractómetros de electrones retrodispersados (EBSD) y la catodoluminiscencia (CL) también están reservados.
Detector de electrones retrodispersados (BSE)
Comparación de imágenes de electrones secundarios e imágenes de electrones retrodispersados.
En el modo de imagen de electrones retrodispersados, el efecto de carga se reduce significativamente y se puede obtener más información sobre la composición de la superficie de la muestra.
Muestras de revestimiento:
Muestras de aleación de acero de tungsteno:
Detector de electrones retrodispersados de cuatro segmentos: imágenes multicanal
El detector tiene un diseño compacto y alta sensibilidad. Con el diseño de 4 segmentos, es posible obtener imágenes de sombras en diferentes direcciones, así como imágenes de distribución de composición sin inclinar la muestra.
El daño de la muestra de cabello por irradiación del haz de electrones se reduce a bajo voltaje mientras se elimina el efecto de carga.
Espectro energético
Resultados del análisis del espectro de energía de perlas pequeñas de LED.
Difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)
El microscopio electrónico de filamento de tungsteno con una gran corriente de haz cumple completamente con los requisitos de prueba de EBSD de alta resolución y es capaz de analizar materiales policristalinos como metales, cerámicas y minerales para la calibración de la orientación del cristal y el tamaño del grano.
La figura muestra el mapa antípoda de EBSD de una muestra de metal de Ni, que puede identificar el tamaño y la orientación del grano, determinar los límites y los gemelos de los granos y emitir juicios precisos sobre la organización y estructura del material.
| Modelos |
SEM3200A |
SEM3200 |
| Sistemas electroópticos |
Pistola de electrones |
Filamento de tungsteno tipo horquilla de tamaño mediano prealineado |
| Resolución |
alto vacío |
3 nm a 30 kV (SE) |
| 4 nm a 30 kV (EEB) |
| 8 nm a 3 kV (SE) |
| *Bajo vacío |
3 nm a 30 kV (SE) |
| Aumento |
1-300.000x (ampliación de película) |
| 1-1000.000x (Ampliación de pantalla) |
| Voltaje de aceleración |
0,2 kilovoltios ~ 30 kilovoltios |
| Corriente de la sonda |
≥1.2μA, visualización en tiempo real |
| Sistemas de imágenes |
Detector |
Detector de electrones secundario (ETD) |
| *Detector de electrones retrodispersados (BSED), *detector de electrones secundario de bajo vacío, *espectrómetro de energía EDS, etc. |
| Formato de imagen |
TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Sistema de vacío |
Modelo de vacío |
Alto vacío |
Mejor que 5×10-4Pa |
| Vacío bajo |
5 ~ 1000Pa |
| Modo de control |
Control completamente automático |
| Cámara de muestra |
Cámara |
Navegación óptica |
| Monitoreo en la cámara de muestras |
| Tabla de muestra |
Automático de tres ejes |
Cinco ejes automático |
| Distancia |
X: 120 mm |
X: 120 mm |
| Longitud: 115 mm |
Longitud: 115 mm |
| Z: 50 mm |
Z: 50 mm |
| / |
R: 360° |
| / |
T: -10° ~ +90° |
| Software |
Sistema operativo |
ventanas |
| Navegaciones |
Navegación óptica, navegación rápida por gestos |
| Funciones automáticas |
Contraste de brillo automático, enfoque automático, disipación automática |
| Funciones especiales |
Dispersión asistida inteligente, *Unión de imágenes a gran escala (accesorios opcionales) |
| requerimientos de instalación |
Espacio |
L≥ 3000 mm, ancho ≥ 4000 mm, alto ≥ 2300 mm |
| Temperatura |
20°C (68°F) ~ 25°C (77°F) |
| Humedad |
≤ 50 % |
| Fuente de alimentación |
CA 220 V (±10 %), 50 Hz, 2 kVA |
> Baja tensión
Muestras de material de carbono con pequeña profundidad de penetración a bajo voltaje. La forma real de la superficie de la muestra se puede obtener con detalles más ricos.
El daño de la muestra de cabello por irradiación del haz de electrones se reduce a bajo voltaje mientras se elimina el efecto de carga.
> Vacío bajo
Los materiales de los tubos de fibra filtrados son poco conductores y se cargan significativamente en alto vacío. En bajo vacío, se puede lograr la observación directa de muestras no conductoras sin recubrimiento.
> Gran campo de visión
Las muestras biológicas, utilizando un amplio campo de observación de visión, pueden obtener fácilmente la morfología general y los detalles de la estructura de la cabeza de las mariquitas, mostrando un análisis de escala cruzada.
> Navegación y navegación Anticolisión
Navegación óptica
Haz clic donde quieras ver y navegar más fácilmente.
Una cámara integrada es estándar y puede tomar fotografías en alta definición para ayudar a localizar muestras rápidamente.
Navegación rápida por gestos
Navegación rápida haciendo doble clic para mover, botón central del mouse para arrastrar y encuadre para hacer zoom.
Exp: Zoom de cuadro: para obtener una vista grande de la muestra con navegación de bajo aumento, puede encuadrar rápidamente el área de muestra que le interesa para mejorar la eficiencia.
Anti choques
Adopte una solución anticolisión multidimensional.
1. Ingrese manualmente la altura de la muestra: controle con precisión la distancia entre la muestra y el objetivo.
2. Reconocimiento de imágenes y captura de movimiento: monitoree la imagen en tiempo real.
3.*Hardware: detiene el motor en el momento de la colisión.
> Funciones características
Dispersión asistida inteligente
Refleje visualmente el grado de dispersión de todo el campo de visión y ajuste rápidamente la dispersión al máximo haciendo clic en el punto despejado con el mouse.
Enfoque automático
Enfoque con un solo botón para obtener imágenes rápidas.
Disipación automática
Disipación con un solo clic para mejorar la eficiencia del trabajo.
Contraste de brillo automático
Contraste de brillo automático con un solo clic para ajustar las imágenes apropiadas en escala de grises.
Imágenes simultáneas de información múltiple
El software SEM3200 admite el cambio con un clic entre SE y BSE para obtener imágenes mixtas. Se puede observar al mismo tiempo información morfológica y compositiva de la muestra.
Ajuste rápido de rotación de imagen
Arrastra una línea para ajustar la posición.
