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CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-value scientific instruments, such as Scanning Electron Microscopes (SEMs), Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance) Spectroscopy, Scanning NV Probe Microscope, Gas Adsorption Analyzer, etc.
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Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno | SEM3200

CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran profundidad de campo con una interfaz fácil de usar que permite a los usuarios caracterizar muestras y explorar el mundo de las imágenes y el análisis microscópicos.

  • # Imagen de mezcla (SE+BSE)
    Observe la composición del espécimen y la información topográfica de la superficie en una imagen.
  • # Ánodo dual (tetrodo)
    El diseño del sistema de emisión de ánodo dual proporciona una resolución excelente con baja energía de aterrizaje
  • # *Modo de vacío bajo
    Proporcione información sobre la morfología de la superficie de la muestra en estado de vacío conmutable y de bajo vacío con un solo clic.

(*Accesorios Opcionales)

 

Detectores versátiles

El microscopio electrónico de barrido (SEM) se utiliza no sólo para la observación de la morfología de la superficie sino también para el análisis de la composición de las microrregiones de la superficie de la muestra.

CIQTEK SEM3200 tiene una cámara de muestras grande con una interfaz extensa. Además de admitir el detector convencional Everhart-Thornley (ETD), el detector de electrones retrodispersados ​​(BSE) y la espectroscopía de rayos X de dispersión de energía (EDS/EDX), se pueden utilizar varias interfaces como el patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) y la catodoluminiscencia (CL). ) también están reservados.

 

Detector de electrones retrodispersados ​​(BSE)

Comparación de imágenes de electrones secundarios e imágenes de electrones retrodispersados.

En el modo de imagen de electrones retrodispersados, el efecto de carga se suprime significativamente y se puede observar más información sobre la composición de la superficie de la muestra.

 

Muestras de revestimiento:

  • Muestras de revestimiento de detector de electrones retrodispersados ​​(BSE) SEM
  • Muestras de revestimiento de detector de electrones retrodispersados ​​(BSE) SEM

 

 

 

Muestras de aleación de acero de tungsteno:

  • Muestras de aleación de acero de tungsteno con detector de electrones retrodispersados ​​(BSE) SEM
  • Muestras de aleación de acero de tungsteno con detector de electrones retrodispersados ​​(BSE) SEM

 

 

 

Detector de electrones retrodispersados ​​de cuatro cuadrantes: imágenes multicanal

El detector tiene un diseño compacto y alta sensibilidad. Con el diseño de 4 cuadrantes, es posible obtener imágenes topográficas en diferentes direcciones así como imágenes de distribución de composición sin inclinar la muestra.

 

 

Espectro energético

Resultados del análisis del espectro de energía de pequeñas perlas LED.

 

Espectro energético SEM

 

 

Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)

El microscopio electrónico de filamento de tungsteno con una gran corriente de haz cumple completamente con los requisitos de prueba de EBSD de alta resolución y puede analizar materiales policristalinos como metales, cerámicas y minerales para la orientación de los cristales y el análisis del tamaño de grano.

La figura muestra el mapa de granos EBSD de una muestra de metal de Ni, que puede identificar el tamaño y la orientación del grano, determinar los límites y las maclaciones de los granos y realizar evaluaciones precisas de la organización y estructura del material.

 

Patrón de difracción de retrodispersión de electrones SEM (EBSD)

Modelos SEM3200A SEM3200
Sistemas electroópticos Pistola de electrones Filamento de tungsteno tipo horquilla de tamaño mediano prealineado
Resolución alto vacío 3 nm a 30 kV (SE)
4 nm a 30 kV (EEB)
8 nm a 3 kV (SE)
*Bajo vacío 3 nm a 30 kV (SE)
Aumento 1-300.000x (Película)
1-1000.000x
Voltaje de aceleración 0,2 kilovoltios ~ 30 kilovoltios
Corriente de la sonda ≥1.2μA, visualización en tiempo real
Sistemas de imágenes Detector Detector Everhart-Thornley (ETD)
*Detector de electrones retrodispersados ​​(BSED), *Detector de electrones secundario de bajo vacío, *Espectrómetro de energía EDS, etc.
Formato de imagen TIFF, JPG, BMP, PNG
Sistema de vacío Modelo de vacío Alto vacío Mejor que 5×10 -4 Pa
Vacío bajo 5 ~ 1000Pa
Modo de control Control totalmente automatizado
Cámara de muestras Cámara Navegación óptica
Monitoreo en la cámara de muestras
Tabla de muestras Automático de tres ejes Cinco ejes automático
Rango de escenario X: 120 mm X: 120 mm
Longitud: 115 mm Longitud: 115 mm
Z: 50 mm Z: 50 mm
/ R: 360°
/ T: -10° ~ +90°
Software Sistema operativo ventanas
Navegaciones Navegación óptica, navegación rápida por gestos
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático
Funciones especiales

Corrección del astigmatismo de imágenes asistida por inteligencia

*Unión de imágenes con campo de visión grande (opcional) 

requerimientos de instalación Temperatura 20°C (68°F) ~ 25°C (77°F)
Humedad ≤ 50%
Fuente de alimentación

CA 220 V (±10 %), 50 Hz, 2 kVA

CA 110 V (± 10 %), 60 Hz

> Baja Tensión

Muestras de material de carbono con poca profundidad de penetración a baja tensión. La verdadera topografía de la superficie de la muestra se puede obtener con ricos detalles.

 

 

El daño causado por la irradiación del haz de electrones a la muestra de cabello se reduce a bajo voltaje mientras se elimina el efecto de carga.

 

 

Bajo Vacío

Los materiales de los tubos de fibra filtrados son poco conductores y se cargan significativamente en alto vacío. En bajo vacío, se puede lograr la observación directa de muestras no conductoras sin recubrimiento.

 

 

Gran campo de visión

Las muestras biológicas, utilizando un amplio campo de observación de visión, pueden obtener fácilmente los detalles morfológicos generales de la cabeza de una mariquita, lo que demuestra la capacidad de obtener imágenes a escala cruzada.

  • SEM gran campo de visión
  • SEM gran campo de visión

 

 

Navegación y anticolisión en la etapa de muestra

Navegación óptica

Haga clic donde desea ir y vea con fácil navegación.

Una cámara en la cámara es estándar y puede tomar fotografías en alta definición para ayudar a localizar muestras rápidamente.

  • Navegación y anticolisión en la etapa de muestra del microscopio SEM

 

 

Navegación rápida por gestos

Navegación rápida haciendo doble clic para mover, botón central del mouse para arrastrar y encuadre para hacer zoom.

Exp: Zoom de cuadro: para obtener una vista amplia de la muestra con navegación de bajo aumento, puede encuadrar rápidamente el área de la muestra que le interesa y la imagen se acerca automáticamente para mejorar la eficiencia.

  • Navegación rápida por gestos del microscopio SEM
  • Navegación rápida por gestos del microscopio SEM

 

 

Etapa anticolisión

Una solución anticolisión multidireccional:

1. Ingrese manualmente la altura de la muestra: controle con precisión la distancia entre la superficie de la muestra y la lente del objetivo.

2. Reconocimiento de imágenes y captura de movimiento: monitoree el movimiento del escenario en tiempo real.

3. *Hardware: apaga el motor de la etapa en el momento de la colisión.

  • Etapa de microscopio SEM anticolisión

 

 

Funciones características

Corrección del astigmatismo de imágenes asistida por inteligencia

Muestre visualmente el astigmatismo dentro de todo el campo de visión y ajústelo rápidamente para corregirlo haciendo clic con el mouse.

  • Corrección de astigmatismo de imagen asistida por inteligencia de microscopio SEM
  • Corrección de astigmatismo de imagen asistida por inteligencia de microscopio SEM

 

 

Enfoque automático

Enfoque con un solo botón para obtener imágenes rápidas.

  • Enfoque automático del microscopio SEM
  • Enfoque automático del microscopio SEM

 

 

Estigmatizador automático

Deducción de astigmatismo con un clic para mejorar la eficiencia del trabajo.

  • Estigmador automático de microscopio SEM
  • Estigmador automático de microscopio SEM

 

 

Brillo y contraste automáticos

Brillo y contraste automáticos con un solo clic para ajustar la escala de grises de las imágenes adecuadas.

  • Brillo y contraste automáticos del microscopio SEM
  • Brillo y contraste automáticos del microscopio SEM

 

 

Imágenes simultáneas de información múltiple

El software SEM3200 admite el cambio con un clic entre SE y BSE para obtener imágenes mixtas. Se puede observar al mismo tiempo información morfológica y compositiva del ejemplar.

Microscopio SEM Imágenes simultáneas de información múltiple

 

 

Ajuste rápido de rotación de imagen

Arrastre una línea y suéltela para rotar la imagen justo en el lugar.

  • Ajuste rápido de rotación de imagen del microscopio SEM
  • Ajuste rápido de rotación de imagen del microscopio SEM

 

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