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CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-performance scientific instruments, such as Electron Microscopes, Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance), Gas Adsorption Analyzers, Scanning NV Microscopes, etc.
SEM Imaging analysis with Focused Ion Beam (FIB)
SEM Imaging analysis with Focused Ion Beam (FIB)

Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado | DB500

CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología “SuperTunnel”, baja aberración y diseño de lente objetivo libre de magnetismo, con bajo voltaje y alta resolución. capacidad que asegura su capacidad analítica a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación.

 

DB500 está equipado con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y 24 puertos de expansión, lo que lo convierte en una plataforma integral de nanoanálisis y fabricación con configuraciones integrales y capacidad de expansión.

• Tecnología de óptica electrónica “SuperTunnel” con lente objetivo libre de magnetismo, adecuada para imágenes de alta resolución y compatible con imágenes de muestras magnéticas.

La columna de haz de iones enfocado que genera un haz de iones altamente estable y de alta calidad, adecuado para nanofabricación de alta calidad y preparación de muestras TEM.

Un manipulador accionado piezoeléctricamente ubicado en la cámara de muestras con un sistema de control integrado para un manejo preciso.

Sistema desarrollado independientemente con fuerte capacidad de expansión. El diseño del conjunto de fuente de iones integrado para un rápido intercambio de fuentes de iones. Excelente servicio, respaldado por una garantía incluida de tres años.

Columna de haz de iones enfocados

Resolución: 3 nm@30 KV

Corriente de la sonda (rango de corriente del haz de iones): 1 pA~50 nA

Rango de voltaje de aceleración: 500 V~30 kV

Intervalo de intercambio de fuente de iones: ≥1000 horas

Estabilidad: 72 horas de funcionamiento ininterrumpido


Nanomanipulador

Cámara montada internamente

Accionamiento totalmente piezoeléctrico de tres ejes

Precisión del motor paso a paso ≤10 nm

Velocidad máxima de desplazamiento 2 mm/s

Control integrado


 

 

Colaboración entre haces de iones y haces de electrones

 


Sistema de inyección de gas

Diseño SIG único

Hay varias fuentes de precursores de gas disponibles.

Distancia de inserción de la aguja ≥35 mm

Repetibilidad del movimiento ≤10 μm

Repetibilidad del control de temperatura de calefacción ≤0,1°C

Rango de calentamiento: temperatura ambiente ~ 90°C

Control integrado

Sistema de haz de electrones Tipo de pistola de electrones Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo
Resolución 1,2 nm a 15 kV
Voltaje de aceleración 20 V~30 kV
Sistema de haz de iones Tipo de fuente de iones Fuente de iones de galio líquido
Resolución 3 millas náuticas a 30 kV
Voltaje de aceleración 500 V ~ 30 kV
Cámara de muestras Sistema de vacío Control completamente automático, sistema de vacío sin aceite.
Cámaras

Tres cámaras

(Navegación óptica + monitor de cámara x2)

Tipo de etapa Etapa de muestra eucéntrica mecánica de 5 ejes
Rango de escenario

X=110 mm, Y=110 mm, Z=65 mm

T: -10°~+70°, R:360°

Detectores y Extensiones Estándar

Detector en lente

Detector Everhart-Thornley (ETD)

Opcional

Detector retráctil de electrones retrodispersados ​​(BSED)

Detector de microscopía electrónica de transmisión de barrido retráctil (STEM)

Espectrómetro de dispersión de energía (EDS)

Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)

Nanomanipulador

Sistema de inyección de gas

Limpiador de plasma

Bloqueo de carga de intercambio de muestras

Panel de control con trackball y perilla

Software Idiomas Inglés
Sistema operativo ventanas
Navegación Nav-Cam, navegación rápida por gestos
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático
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