¿qué estás buscando??

Búsquedas populares

Blog

Blog

¡No dude en contactarnos para obtener más información, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea!

Hogar /

Buscar

Muestreo de precisión a nanoescala con FIB-SEM DualBeam: Aplicaciones de la nanomanipulación en la investigación de semiconductores y biomédica

Jun 30 , 2025

Por qué es importante el muestreo preciso a nanoescala En campos de vanguardia como la ciencia de los materiales, las ciencias de la vida y la investigación de dispositivos semiconductores, el muestreo preciso a escala nanométrica suele ser un requisito previo para obtener resultados significativos. Ya sea extrayendo un punto de fallo específico de una matriz semiconductora o aislando orgánulos de...

Etiquetas : FIB-SEM para extracción de muestras Análisis SEM FIB de alta resolución SEM de doble haz para análisis de nanoestructuras
Ver más

1 ... 3 4 5

Un total de 5 paginas

Categorías

Blog

Nuevo Blog

Etiquetas calientes

Espectrómetro de resonancia paramagnética electrónica Detectores de microscopio electrónico de barrido espectrómetro EPR Microscópio electrónico escaneando Resonancia de espín electrónico Espectroscopia EPR de pulso Microscopios SEM espectroscopia de energía dispersiva sem

Arriba

Dejar un mensaje

Dejar un mensaje

¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.

Hogar

Productos

Charlar

contacto