Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM: preparación de muestras de transmisión de acero ferrita-martensita

Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM

El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) son esenciales para diversas aplicaciones, como diagnóstico de defectos, reparación, implantación de iones, procesamiento in situ, reparación de máscaras, grabado, modificación del diseño de circuitos integrados, fabricación de dispositivos de chip, procesamiento sin máscara, fabricación de nanoestructuras, nanomodelos complejos, imágenes tridimensionales y análisis de materiales, análisis de superficies ultrasensibles, modificación de superficies y preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión.

CIQTEK ha presentado el FIB-SEM DB550, que cuenta con un microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo (FE-SEM) controlable de forma independiente con enfoque Columnas de haz de iones (FIB). Es una herramienta de preparación de muestras y análisis a nanoescala elegante y versátil, que adopta tecnología de óptica electrónica “SuperTunnel”, baja aberración y no Diseño de objetivo magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar el análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación. DB550 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y un software GUI fácil de usar, que facilita una estación de trabajo todo en uno para análisis y fabricación a nanoescala .

Para mostrar el excelente rendimiento del DB550, CIQTEK ha planificado un evento especial llamado "Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM". Este programa presentará videos que demuestran las amplias aplicaciones de este equipo de vanguardia en campos como la ciencia de materiales, la industria de semiconductores y la investigación biomédica. Los espectadores comprenderán los principios de funcionamiento del DB550, apreciarán sus impresionantes imágenes a microescala y explorarán las importantes implicaciones de esta tecnología para la investigación científica y el desarrollo industrial.

Preparación de una muestra de transmisión de acero ferrita-martensita

El FIB-SEM DB550 desarrollado por CIQTEK posee la capacidad de preparar muestras de transmisión de acero de ferrita-martensita sin problemas. Esta capacidad permite a los investigadores en el dominio de la nanoescala observar directamente las características de la interfaz, la morfología microestructural y el proceso de evolución de las fases de ferrita y martensita. Estas observaciones son pasos cruciales hacia la profundización de la comprensión de la relación entre la cinética de transformación de fase, la organización microestructural y las propiedades mecánicas del acero de ferrita-marta.