scanning electron microscope machine

Microscopía electrónica de barrido (SEM) con filamento de tungsteno | SEM3200

SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento y universalMicroscopio

ElMicroscopio SEM CIQTEK SEM3200Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón electrónico de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes prestaciones.

Estructura de doble ánodo en el cañón de electrones*Opcional

sem3200 Intermittent Anode

Ánodo intermitente

El ánodo intermitente se instala entre el conjunto del cátodo y el ánodo. Con un voltaje de excitación bajo, se puede mejorar la eficiencia de extracción del haz de electrones, aumentar la resolución en un 10 % y la relación señal-ruido en un 30 %.

  • carbon material samples under low excitation voltages
  • carbon material samples under low excitation voltages

Para muestras de material de carbono, bajo voltajes de excitación bajos, la profundidad de penetración del haz es baja, lo que permite capturar la verdadera información de la morfología de la superficie con detalles más ricos de la muestra.

  • polymer fiber samples, high excitation voltages
  • polymer fiber samples, high excitation voltages

En el caso de las muestras de fibra de polímero, los altos voltajes de excitación provocan daños en el haz a la muestra, mientras que el haz de bajo voltaje permite preservar los detalles de la superficie sin dañarla.


Modo SEM de bajo vacío

El microscopio SEM CIQTEK SEM3200 admite modos de bajo vacío de dos etapas: se puede alcanzar una presión de cámara de 5 a 180 Pa sin limitar la apertura, y de 180 a 1000 Pa con PLA. La cámara de vacío, especialmente diseñada para la lente del objetivo, minimiza el paso libre medio de electrones en bajo vacío y mantiene la resolución a 3 nm a 30 kV.

El haz de electrones incidente ioniza las moléculas de aire en la parte superior de la superficie, produciendo electrones e iones, en los que los iones neutralizan las partículas cargadas generadas en la superficie de la muestra, logrando el efecto de mitigación de carga.

  • SEM3200 Analysis Image
  • SEM3200 Analysis Image

La emisión secundaria de electrones desde la superficie de la muestra ioniza las moléculas de aire, generando simultáneamente electrones, iones y fotoseñales. Los electrones generados ionizan otras moléculas de aire y se produce una gran cantidad de fotoseñales que son capturadas por un detector de bajo vacío (LVD).

  • SEM Microscope sem3200
  • SEM Microscope sem3200 Analysis image

En el modo de alto vacío, LVD detecta directamente la señal de catodoluminiscencia emitida por la muestra, que puede capturarse para obtener imágenes de catodoluminiscencia, con imágenes simultáneas del canal BSED.


Navegación óptica

El uso de una cámara de cámara montada verticalmente para capturar imágenes ópticas para la navegación de la platina de la muestra permite un posicionamiento de la muestra más intuitivo y preciso.

  • SEM Optical Navigation

▶Corrección del astigmatismo con imagen asistida inteligente

En este modo, el valor de astigmatismo de X e Y varía con los píxeles. La claridad de la imagen se maximiza con el valor de astigmatismo óptimo, lo que permite un ajuste rápido del astigmador.

  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction
  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction


Funciones automáticas

Funciones mejoradas de brillo y contraste automáticos, enfoque automático y corrección automática del astigmatismo. ¡Captura imágenes con un solo clic!

>> Enfoque automático

  • during autofocus
  • after autofocus

>>Corrección automática del astigmatismo

  • during autofocus
  • after autofocus

>>Brillo y contraste automáticos

  • during autofocus
  • after autofocus

Más seguro de usar


Fácil reemplazo de filamento

Módulo de filamento de reemplazo prealineado listo para usar.

Software de análisis de partículas y poros (Particle)*Opcional
SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software del microscopio SEM CIQTEK emplea varios algoritmos de detección y segmentación de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. Permite el análisis cuantitativo de las estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y la ciencia ambiental.


Software de posprocesamiento de imágenes

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice el posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, herramientas convenientes de medición y anotación.


Medición automática*Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y una mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con diversas funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.


Kit de desarrollo de software (SDK)*Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio electrónico de barrido (SEM), incluyendo la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido y apagado, el control de la platina, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el desarrollo rápido de scripts y software específicos para el funcionamiento del microscopio electrónico, lo que permite el seguimiento automatizado de regiones de interés, la adquisición de datos para automatización industrial, la corrección de la deriva de la imagen y otras funciones. Se puede utilizar para el desarrollo de software en áreas especializadas como el análisis de diatomeas, la inspección de impurezas del acero, el análisis de limpieza, el control de materias primas, etc.


AutoMap*Opcional

  • during autofocus

Microscopio SEM CIQTEK SEM3200
Óptica electrónica Resolución 3 nm a 30 kV, SE
7 nm a 3 kV, SE
4 nm a 30 kV, EEB
3 nm a 30 kV, SE, 30 Pa
Voltaje de aceleración 0,2 kV ~ 30 kV
Aumento (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Cámara de muestras Bajo vacío 5 ~ 1000 Pa (opcional)
Cámara Navegación óptica
Monitoreo de la Cámara
Tipo de escenario Motorizado compatible con vacío de 5 ejes
Rango XY 125 milímetros
Rango Z 50 milímetros
Rango T - 10° ~ 90°
Rango R 360°
Detectores SEM Estándar Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED)
Espectrómetro de energía dispersiva (EDS/EDX)
Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD)
Opcional Intercambio de muestras Loadlock
Panel de control de trackball y perilla
Interfaz de usuario Sistema operativo Ventanas
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático
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