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Ánodo doble (tetrodo)
El diseño del sistema de emisión de ánodo dual proporciona una resolución excelente con baja energía de aterrizaje
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*Modo de vacío bajo
Proporcione información sobre la morfología de la superficie de la muestra en vacío bajo, estado de vacío conmutable con un solo clic
(*Accesorios opcionales para el microscopio SEM SEM3200)
Detectores SEM para SEM3200
El microscopio SEM se utiliza no solo para observar la morfología de la superficie sino también para analizar la composición de microrregiones en la superficie de la muestra.
El microscopio SEM CIQTEK SEM3200 tiene una cámara de muestras grande con una interfaz extensa. Además de admitir el detector convencional Everhart-Thornley (ETD), el detector de electrones retrodispersados (BSE) y la espectroscopía de rayos X de dispersión de energía (EDS/EDX), se pueden utilizar varias interfaces como el patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) y la catodoluminiscencia (CL). ) también están reservados.
Detector de electrones retrodispersados SEM (BSE)
Comparación de imágenes de electrones secundarios y de imágenes de electrones retrodispersados
En el modo de imágenes de electrones retrodispersados, el efecto de carga se suprime significativamente y se puede observar más información sobre la composición de la superficie de la muestra.
Muestras de revestimiento:
Muestras de aleación de acero de tungsteno:
Detector de electrones retrodispersados de cuatro cuadrantes: imágenes multicanal
El detector del microscopio SEM tiene un diseño compacto y alta sensibilidad. Con el diseño de 4 cuadrantes, es posible obtener imágenes topográficas en diferentes direcciones, así como imágenes de distribución de composición sin inclinar la muestra.
Espectro energético
Resultados del análisis del espectro de energía de perlas pequeñas de LED.
Patrón de difracción de retrodispersión de electrones SEM (EBSD)
El microscopio SEM SEM3200 con una gran corriente de haz cumple completamente con los requisitos de prueba de EBSD de alta resolución y puede analizar materiales policristalinos como metales, cerámicas y minerales para la orientación del cristal y el análisis del tamaño de grano.
La figura muestra el mapa de granos EBSD de una muestra de metal de Ni, que puede identificar el tamaño y la orientación del grano, determinar los límites y las maclaciones de los granos y realizar evaluaciones precisas de la organización y estructura del material.
| Modelos de microscopio SEM |
SEM3200A |
SEM3200 |
| Sistemas electroópticos |
Cañón de electrones |
Filamento de tungsteno tipo horquilla de tamaño mediano prealineado |
| Resolución |
Alto vacío |
3 nm a 30 kV (SE) |
| 4 nm a 30 kV (EEB) |
| 8 nm a 3 kV (SE) |
| *Vacío bajo |
3 nm a 30 kV (SE) |
| Ampliación |
1-300.000x (Película) |
| 1-1000.000x |
| Voltaje de aceleración |
0,2 kV ~ 30 kV |
| Corriente de sonda |
≥1,2 μA, visualización en tiempo real |
| Sistemas de imágenes |
Detectores SEM |
Detector Everhart-Thornley (ETD) |
| *Detector de electrones retrodispersados (BSED), *Detector de electrones secundario de bajo vacío (SE), *Espectroscopia de dispersión de energía (EDS/EDX), etc. |
| Formato de imagen |
TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Sistema de vacío |
Modelo de vacío |
Alto vacío |
Mejor que 5×10-4 Pa |
| Vacío bajo |
5 ~ 1000Pa |
| Modo de control |
Control totalmente automatizado |
| Cámara de muestras |
Cámara |
Navegación óptica |
| Monitoreo en la cámara de muestras |
| Tabla de muestras |
Automático de tres ejes |
Cinco ejes automático |
| Rango de escenario |
X: 120 mm |
X: 120 mm |
| Y: 115 mm |
Y: 115 mm |
| Z: 50 mm |
Z: 50 mm |
| / |
R: 360° |
| / |
T: -10° ~ +90° |
| Software |
Sistema operativo |
Windows |
| Navegaciones |
Navegación óptica, navegación rápida por gestos |
| Funciones automáticas |
Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático |
| Funciones especiales |
Corrección de astigmatismo de imagen asistida por inteligencia
*Unión de imágenes con campo de visión grande (opcional)
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| Requisitos de instalación |
Temperatura |
20°C (68°F) ~ 25°C (77°F) |
| Humedad |
≤ 50 % |
| Fuente de alimentación |
CA 220 V (±10 %), 50 Hz, 2 kVA
CA 110 V (±10 %), 60 Hz
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Microscopio CIQTEK SEM SEM3200 Galería de imágenes
Aspectos destacados de la técnica del microscopio SEM CIQTEK SEM3200
SEM de bajo voltaje
Muestras de material de carbono con poca profundidad de penetración a bajo voltaje. La verdadera topografía de la superficie de la muestra se puede obtener con ricos detalles.
El daño por irradiación del haz de electrones de la muestra de cabello se reduce a bajo voltaje mientras se elimina el efecto de carga.
Vacío bajo SEM
Los materiales de los tubos de fibra filtrada son poco conductores y se cargan significativamente en alto vacío. La observación directa de muestras no conductoras se puede realizar en bajo vacío sin recubrimiento mediante el microscopio SEM SEM3200.
Gran campo de visión
Las muestras biológicas, utilizando un campo de visión amplio, pueden obtener fácilmente los detalles morfológicos generales de la cabeza de una mariquita, lo que demuestra la capacidad de obtener imágenes a escala cruzada.
Navegación y anticolisión en la etapa de muestra
Navegación óptica
Haga clic donde desee ir y vea con una navegación sencilla cuando utilice los microscopios SEM CIQTEK.
Una cámara en la cámara es estándar y puede tomar fotografías en alta definición para ayudar a localizar muestras rápidamente.
Navegación rápida por gestos
Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 La navegación rápida se logra haciendo doble clic para mover, usando el botón central del mouse para arrastrar y usando el marco para hacer zoom.
Exp: Zoom de fotograma: para obtener una vista amplia de la muestra con navegación de bajo aumento, puede encuadrar rápidamente el área de la muestra que le interesa y la imagen se acerca automáticamente para mejorar la eficiencia.
Etapa anticolisión
Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Soluciones anticolisión multidireccional:
1. Ingrese manualmente la altura de la muestra: controle con precisión la distancia entre la superficie de la muestra y la lente del objetivo.
2. Reconocimiento de imágenes y captura de movimiento: monitoree el movimiento del escenario en tiempo real.
3. *Hardware: apaga el motor de la etapa en el momento de la colisión.
Funciones características
Corrección de astigmatismo de imagen asistida por inteligencia
Muestre visualmente el astigmatismo dentro de todo el campo de visión y ajústelo rápidamente para corregirlo haciendo clic con el mouse.
SEM de enfoque automático
Enfoque con un solo botón para obtener imágenes rápidas.
Estigmatador automático
Deducción de astigmatismo con un clic para mejorar la eficiencia en el trabajo.
Brillo y contraste automáticos
Brillo y contraste automáticos con un solo clic para ajustar la escala de grises de las imágenes adecuadas.
Imágenes simultáneas de información múltiple
El software CIQTEK SEM Microscope SEM3200 admite el cambio con un solo clic entre SE y BSE para obtener imágenes mixtas. Se puede observar al mismo tiempo información morfológica y compositiva del espécimen.
Ajuste rápido de rotación de imagen
Arrastre una línea y suéltela para rotar la imagen justo en el lugar.
