scanning electron microscope machine

Filamento de tungsteno SEM | SEM3200

Microscopio SEM de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento

El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 es un excelente microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno de uso general con capacidades generales excepcionales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de ánodo dual garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen con voltajes de excitación bajos. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes gastos.

ⶠEstructura de ánodo dual en pistola de electrones *Opcional

sem3200 Intermittent Anode

Ánodo intermitente

El ánodo intermitente se instala entre el conjunto del cátodo y el ánodo. Con un voltaje de excitación bajo, se puede mejorar la eficiencia de extracción del haz de electrones, se puede aumentar la resolución en un 10 % y la relación señal-ruido se puede aumentar en un 30 %.

  • carbon material samples under low excitation voltages
  • carbon material samples under low excitation voltages

Para muestras de material de carbono, bajo voltajes de excitación bajos, la profundidad de penetración del haz es poco profunda, lo que permite capturar la información real de la morfología de la superficie con detalles más ricos de la muestra.

  • polymer fiber samples, high excitation voltages
  • polymer fiber samples, high excitation voltages

Para muestras de fibra de polímero, los altos voltajes de excitación causan daños al haz en la muestra, mientras que el haz de bajo voltaje permite la preservación de los detalles de la superficie sin daños.


ⶠModo SEM de bajo vacío

El microscopio SEM CIQTEK SEM3200 admite modos de bajo vacío de 2 etapas: se puede alcanzar una presión de cámara de 5~180 Pa sin apertura limitante de presión, y se pueden lograr 180~1000 Pa con PLA. La cámara de vacío de la lente objetivo especialmente diseñada minimiza el recorrido libre medio de los electrones en vacío bajo y mantiene la resolución a 3 nm a 30 kV.

El haz de electrones incidente ioniza las moléculas de aire en la parte superior de la superficie, produciendo electrones e iones, en los cuales los iones neutralizan las partículas cargadas generadas en la superficie de la muestra, logrando el efecto de mitigación de carga.

  • SEM3200 Analysis Image
  • SEM3200 Analysis Image

La emisión secundaria de electrones desde la superficie de la muestra ioniza las moléculas de aire, generando electrones, iones y señales fotográficas simultáneamente. Los electrones generados luego ionizan otras moléculas de aire y se produce una gran cantidad de señales fotográficas que luego son capturadas por un detector de bajo vacío (LVD).

  • SEM Microscope sem3200
  • SEM Microscope sem3200 Analysis image

En el modo de alto vacío, LVD detecta directamente la señal de catodoluminiscencia emitida por la muestra, que se puede capturar para obtener imágenes de catodoluminiscencia, con imágenes simultáneas del canal BSED.


ⶠNavegación óptica

El uso de una cámara de cámara montada verticalmente para capturar imágenes ópticas para la navegación en la plataforma de la muestra permite un posicionamiento de la muestra más intuitivo y preciso.

  • SEM Optical Navigation

â¶Corrección de astigmatismo de imagen asistida inteligente

En este modo, el valor de astigmatismo de X e Y varía con los píxeles. La claridad de la imagen se maximiza en el valor óptimo de astigmatismo, lo que permite un ajuste rápido del estigma.

  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction
  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction


ⶠFunciones automáticas

Funciones mejoradas de brillo y contraste automáticos, enfoque automático y corrección automática de astigmatismo. ¡Imágenes con un solo clic!

Enfoque automático

  • during autofocus
  • after autofocus

Corrección automática del astigmatismo

  • during autofocus
  • after autofocus

Brillo y contraste automáticos

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠMás seguro de usar


ⶠReemplazo sencillo del filamento

Módulo de filamento de repuesto prealineado listo para usar.

ⶠSoftware de análisis de poros y partículas (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software CIQTEK SEM Microscope emplea varios algoritmos de segmentación y detección de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. permite el análisis cuantitativo de estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y las ciencias ambientales.


ⶠSoftware de posprocesamiento de imágenes

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice un posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, prácticas herramientas de medición y anotación.


ⶠMedición automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con varias funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.


ⶠKit de desarrollo de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio SEM, incluida la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido/apagado, el control de la etapa, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el rápido desarrollo de scripts y software de operación específicos del microscopio electrónico, lo que permite seguimiento automatizado de regiones de interés, adquisición de datos de automatización industrial, corrección de deriva de imágenes y otras funciones. Puede usarse para el desarrollo de software en áreas especializadas como análisis de diatomeas, inspección de impurezas del acero, análisis de limpieza, control de materias primas, etc.


ⶠMapa automático *Opcional

  • during autofocus

Microscopio SEM CIQTEK SEM3200
Óptica electrónica Resolución 3 nm a 30 kV, SE
7 nm a 3 kV, SE
4 nm a 30 kV, BSE
3 nm a 30 kV, SE, 30 Pa
Voltaje de aceleración 0,2 kV ~ 30 kV
Ampliación (Polaroid) 1x ~ 300.000x
Cámara de muestras Bajo vacío 5 ~ 1000 Pa (opcional)
Cámara Navegación óptica
Monitoreo de cámara
Tipo de etapa Motorizado compatible con vacío de 5 ejes
Rango XY 125 milímetros
Rango Z 50 milímetros
Rango T - 10° ~ 90°
Rango R 360°
Detectores SEM Estándar Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional Detector retráctil de electrones retrodispersados ​​(BSED)
Espectrómetro de dispersión de energía (EDS/EDX)
Patrón de difracción de electrones retrodispersados ​​(EBSD)
Opcional Bloqueo de carga de intercambio de muestras
Panel de control de perilla y bola de seguimiento
Interfaz de usuario Sistema operativo Windows
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático
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