Microscopio SEM de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento
El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 es un excelente microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno de uso general con capacidades generales excepcionales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de ánodo dual garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen con voltajes de excitación bajos. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes gastos.
Ánodo intermitente
El ánodo intermitente se instala entre el conjunto del cátodo y el ánodo. Con un voltaje de excitación bajo, se puede mejorar la eficiencia de extracción del haz de electrones, se puede aumentar la resolución en un 10 % y la relación señal-ruido se puede aumentar en un 30 %.
Para muestras de material de carbono, bajo voltajes de excitación bajos, la profundidad de penetración del haz es poco profunda, lo que permite capturar la información real de la morfología de la superficie con detalles más ricos de la muestra.
Para muestras de fibra de polímero, los altos voltajes de excitación causan daños al haz en la muestra, mientras que el haz de bajo voltaje permite la preservación de los detalles de la superficie sin daños.
El microscopio SEM CIQTEK SEM3200 admite modos de bajo vacío de 2 etapas: se puede alcanzar una presión de cámara de 5~180 Pa sin apertura limitante de presión, y se pueden lograr 180~1000 Pa con PLA. La cámara de vacío de la lente objetivo especialmente diseñada minimiza el recorrido libre medio de los electrones en vacío bajo y mantiene la resolución a 3 nm a 30 kV.
El haz de electrones incidente ioniza las moléculas de aire en la parte superior de la superficie, produciendo electrones e iones, en los cuales los iones neutralizan las partículas cargadas generadas en la superficie de la muestra, logrando el efecto de mitigación de carga.
La emisión secundaria de electrones desde la superficie de la muestra ioniza las moléculas de aire, generando electrones, iones y señales fotográficas simultáneamente. Los electrones generados luego ionizan otras moléculas de aire y se produce una gran cantidad de señales fotográficas que luego son capturadas por un detector de bajo vacío (LVD).
En el modo de alto vacío, LVD detecta directamente la señal de catodoluminiscencia emitida por la muestra, que se puede capturar para obtener imágenes de catodoluminiscencia, con imágenes simultáneas del canal BSED.
El uso de una cámara de cámara montada verticalmente para capturar imágenes ópticas para la navegación en la plataforma de la muestra permite un posicionamiento de la muestra más intuitivo y preciso.
En este modo, el valor de astigmatismo de X e Y varía con los píxeles. La claridad de la imagen se maximiza en el valor óptimo de astigmatismo, lo que permite un ajuste rápido del estigma.
Funciones mejoradas de brillo y contraste automáticos, enfoque automático y corrección automática de astigmatismo. ¡Imágenes con un solo clic!
Módulo de filamento de repuesto prealineado listo para usar.
Metalurgia
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Nuevos materiales energéticos
Cerámica
Materiales poliméricos y de fibra
Biomédico
Comida
El software CIQTEK SEM Microscope emplea varios algoritmos de segmentación y detección de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. permite el análisis cuantitativo de estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y las ciencias ambientales.
Realice un posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, prácticas herramientas de medición y anotación.
Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con varias funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.
Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio SEM, incluida la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido/apagado, el control de la etapa, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el rápido desarrollo de scripts y software de operación específicos del microscopio electrónico, lo que permite seguimiento automatizado de regiones de interés, adquisición de datos de automatización industrial, corrección de deriva de imágenes y otras funciones. Puede usarse para el desarrollo de software en áreas especializadas como análisis de diatomeas, inspección de impurezas del acero, análisis de limpieza, control de materias primas, etc.
Introducción al microscopio SEM de filamento de tungsteno CIQTEK SEM3200 |
Microscopio SEM de filamento de tungsteno CIQTEK SEM3200 Características principales y preguntas frecuentes |
Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 | ||||
Óptica electrónica | Resolución | 3 nm a 30 kV, SE 7 nm a 3 kV, SE 4 nm a 30 kV, BSE 3 nm a 30 kV, SE, 30 Pa |
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Voltaje de aceleración | 0,2 kV ~ 30 kV | |||
Ampliación (Polaroid) | 1x ~ 300.000x | |||
Cámara de muestras | Bajo vacío | 5 ~ 1000 Pa (opcional) | ||
Cámara | Navegación óptica | |||
Monitoreo de cámara | ||||
Tipo de etapa | Motorizado compatible con vacío de 5 ejes | |||
Rango XY | 125 milímetros | |||
Rango Z | 50 milímetros | |||
Rango T | - 10° ~ 90° | |||
Rango R | 360° | |||
Detectores SEM | Estándar | Detector Everhart-Thornley (ETD) | ||
Opcional | Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED) Espectrómetro de dispersión de energía (EDS/EDX) Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) |
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Opcional | Bloqueo de carga de intercambio de muestras | |||
Panel de control de perilla y bola de seguimiento | ||||
Interfaz de usuario | Sistema operativo | Windows | ||
Navegación | Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional) | |||
Funciones automáticas | Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático |