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Bajo voltaje y alta resolución
Alta estabilidad
Detector de electrones en lente

*Bloqueo de carga para intercambio de muestras (compatible con 8 pulgadas)
Deflexión del haz electromagnético con apertura de orificios múltiples
Excelente capacidad de expansión

â¶ Óptica electrónica

â Tecnología de columna óptica electrónica "Super Tunnel"/desaceleración del haz en la lente
Disminuye el efecto de carga espacial, asegurando una resolución de bajo voltaje.

â Sin cruces en la trayectoria del haz de electrones
Reduce eficazmente las aberraciones de las lentes y mejora la resolución.

â Lente de objetivo compuesta electromagnética y electrostática
Reduce las aberraciones, mejora significativamente la resolución a bajos voltajes y permite la observación de muestras magnéticas.

â Lente objetivo de temperatura constante refrigerada por agua
Asegura la estabilidad, confiabilidad y repetibilidad del funcionamiento de la lente objetivo.

â Apertura variable de múltiples orificios con sistema de desviación de haz electromagnético
Cambio automático entre aperturas sin movimiento mecánico, lo que permite un cambio rápido entre modos de imagen.

â¶ Modo ECCI (imágenes de contraste de canalización de electrones) basado en BSED

El "efecto de canalización de electrones" se refiere a una reducción significativa en la dispersión de electrones por las redes cristalinas, cuando el haz de electrones incidente satisface la condición de difracción de Bragg, permitiendo que una gran cantidad de electrones pasen a través de la red, exhibiendo así una "canalización". efecto.

Para materiales policristalinos con composición uniforme y superficies planas pulidas, la intensidad de los electrones retrodispersados depende de la orientación relativa entre el haz de electrones incidente y los planos del cristal. Los granos con una mayor variación de orientación exhiben señales más fuertes, por lo tanto, imágenes más brillantes; se logra una caracterización cualitativa con dicho mapa de orientación de granos.

Aleaciones impresas en 3D (preparadas con pulido por haz de iones)
Acero inoxidable (preparado con pulido por haz de iones)

â¶ Imagen multicanal simultánea a través de varios detectores

Se logró una gran resolución en las características topográficas de la superficie con imágenes del detector de electrones en la lente
Buenas imágenes estereoscópicas de características morfológicas con imágenes del detector Everhart-Thornley
Imagen de contraste de número atómico (contraste Z) con imágenes de detector de electrones retrodispersados retráctiles

â¶ Detector retráctil de microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

Múltiples modos de funcionamiento: Imágenes de campo brillante (BF), imágenes de campo oscuro (DF), imágenes de campo oscuro anular de ángulo alto (HAADF)

Imágenes de campo brillante de sección de planta (STEM-BF)
Imágenes de campo oscuro de sección de planta (STEM-DF)
Imagen de contraste de números atómicos (contraste Z) con detector de electrones retrodispersados retráctil

â¶ Avances en microscopía electrónica CIQTEK: más opciones

Espectrometría de dispersión de energía

Catoluminiscencia

EBSD

Microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro Galería de imágenes

Ciencia de los materiales: Nanomateriales

Material bidimensional no conductor C3N4, caracterización no destructiva de su estructura de capa fina en condiciones de baja tensión a 500 V
Obtención de imágenes de espuma de níquel con un fuerte efecto tridimensional utilizando un voltaje de excitación de 2 kV con el detector Everhart-Thornley (ETD)
Obtención de imágenes de polvo de plata subnanómetro utilizando un detector de electrones en lente a 3 kV en condiciones de alto vacío

Ciencia de los materiales - Materiales energéticos

Precursor del cátodo de batería de iones de litio: fosfato de hierro con mala conductividad, fotografiado utilizando un detector de electrones en lente (en lente) en condiciones de bajo voltaje (1 kV)
La calidad de la metalización de la superficie de las obleas de silicio fotovoltaicas, obtenida mediante un detector Everhart-Thornley (ETD) montado en una cámara a 2 kV
Película SEI (interfase de electrolito sólido) de superficie en el electrodo negativo fallido, fotografiada en condiciones de alto vacío utilizando un detector de electrones en lente (en lente) a 3 kV

Ciencia de los materiales - Materiales poliméricos y materiales metálicos

Uso del detector Everhart-Thornley (ETD) en condiciones de alto vacío y bajo voltaje (1 kV) para obtener imágenes de la morfología de microesferas de poliestireno. No se observó ningún fenómeno de carga, lo que resultó en una fuerte percepción tridimensional
Imágenes no destructivas de 500 V de fibras de membrana de polímero de batería de iones de litio en condiciones de superficie sensible
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Imágenes de alta resolución de precipitados de tamaño nanométrico en superficies de fractura utilizando el detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED)

Materiales magnéticos - Materiales poliméricos y materiales metálicos

Perlas magnéticas de polímero, con mala conductividad, caracterizadas utilizando un voltaje bajo a 2 kV con detector Everhart-Thornley (ETD) para la caracterización de la administración de fármacos biológicamente dirigidos
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
Se utilizaron imágenes de 10 kV con el detector Everhart-Thornley (ETD) para caracterizar la superficie de fractura del metal de aleación de hierro y níquel
Las perlas magnéticas de polímero, caracterizadas utilizando un detector Everhart-Thornley (ETD) de bajo voltaje de 2 kV, exhiben una fuerte sensación de tridimensionalidad

Materiales semiconductores

Obtención de imágenes de los patrones de superficie y circuitos en un chip utilizando un detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED)
Caracterización del detector Everhar t-Thornley (ETD) de bajo voltaje (2 kV) de la superficie y las texturas del borde del orificio de un fotorresistente
Imágenes de las uniones de soldadura de alambres de oro en un chip utilizando un detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED). Muestra preparada con pulido por haz de iones

Ciencias de la vida

Caracterización de iridóforos en células de piel de lagarto, utilizando el detector STEM en CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Los colores de los animales en la naturaleza se pueden clasificar en dos categorías según sus mecanismos de formación: colores de pigmentos y colores estructurales.
Los colores de los pigmentos se logran mediante variaciones en la composición de los pigmentos y la superposición de colores, similar a los principios de los "colores primarios".
Los colores estructurales, por otro lado, se generan mediante la reflexión de la luz de diferentes longitudes de onda por intrincadas estructuras fisiológicas, basadas principalmente en principios de la óptica. Los iridóforos, que se encuentran en las células de la piel de los lagartos, poseen estructuras similares a rejillas de difracción. Nos referimos a estas estructuras como "placas cristalinas". Las placas cristalinas pueden reflejar y dispersar luz de diferentes longitudes de onda. Los estudios han demostrado que al variar el tamaño, el espaciado y el ángulo de las placas cristalinas de los iridóforos de los lagartos, se pueden alterar las longitudes de onda de la luz dispersada y reflejada por su piel. Este hallazgo es importante para comprender los mecanismos detrás del cambio de color en la piel de lagarto.

â¶ Software de análisis de poros y partículas (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software CIQTEK SEM Microscope emplea varios algoritmos de segmentación y detección de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. permite el análisis cuantitativo de estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y las ciencias ambientales.

â¶ Software de posprocesamiento de imágenes *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice un posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, prácticas herramientas de medición y anotación.

â¶ Medición automática *Opcional

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con varias funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.

â¶ Kit de desarrollo de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio SEM, incluida la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido/apagado, el control de la etapa, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el rápido desarrollo de scripts y software de operación específicos del microscopio electrónico, lo que permite seguimiento automatizado de regiones de interés, adquisición de datos de automatización industrial, corrección de deriva de imágenes y otras funciones. Puede usarse para el desarrollo de software en áreas especializadas como análisis de diatomeas, inspección de impurezas del acero, análisis de limpieza, control de materias primas, etc.

â¶ Mapa automático *Opcional

Especificaciones del microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Óptica electrónica	Resolución	0,8 nm a 15 kV, EE 1,2 nm a 1,0 kV, EE
	Voltaje de aceleración	0,02 kV ~ 30 kV
	Ampliación (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Tipo de pistola de electrones	Cañón de electrones de emisión de campo Schottky
Cámara de muestras	Cámara	Cámaras duales (navegación óptica + monitor de cámara)
	Cámara	Cámaras duales (navegación óptica + monitor de cámara)
	Rango de escenario	X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 50 mm T: -10°ï½ +70°, R: 360°
Detectores y extensiones SEM	Estándar	Detector de electrones con lente interna Detector Everhart-Thornley (ETD)
Detectores y extensiones SEM	Opcional	Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED) Microscopio electrónico de transmisión de barrido retráctil (STEM) Detector de vacío bajoï¼LVDï¼ Espectroscopia de dispersión de energía (EDS / EDX) Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) Bloqueo de carga de intercambio de muestras (4 pulgadas/8 pulgadas) Panel de control de perilla y trackball
Software	Idioma	inglés
	Sistema operativo	Windows
	Navegación	Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
	Funciones automáticas	Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático

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