FIB-SEM | DB500

Microscopio SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento con excelentes capacidades de calidad de imagen en modos de alto y bajo vacío El CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM tiene una gran profundidad de campo con una interfaz fácil de usar para permitir a los usuarios caracterizar muestras y explorar el mundo de las imágenes y el análisis microscópicos.

Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de resolución ultraalta (FESEM): 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV El CIQTEK SEM5000X FESEM de resolución ultra alta utiliza el proceso de ingeniería de columnas mejorado, la tecnología "SuperTunnel" y el diseño de lente objetivo de alta resolución para mejorar la resolución de imágenes de bajo voltaje. Los puertos de la cámara de muestras FESEM SEM5000X se extienden a 16 y el bloqueo de carga de intercambio de muestras admite un tamaño de oblea de hasta 8 pulgadas (diámetro máximo 208 mm), lo que amplía significativamente las aplicaciones. Los modos de escaneo avanzados y las funciones automatizadas mejoradas brindan un rendimiento más sólido y una experiencia aún más optimizada.

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo Con el diseño de columna óptica electrónica de condensador de tres etapas para corrientes de haz de hasta 200 nA, SEM4000Pro ofrece ventajas en EDS, EBSD, WDS y otras aplicaciones analíticas. El sistema admite el modo de bajo vacío, así como un detector de electrones secundario de alto rendimiento y bajo vacío y un detector de electrones retrodispersados ​​retráctil, que pueden ayudar a observar directamente muestras poco conductoras o incluso no conductoras. El modo de navegación óptica estándar y una interfaz de operación de usuario intuitiva facilitan el trabajo de su análisis.

CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y Lente objetivo MFL, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.

Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para obtener imágenes a escala cruzada de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 dispone de tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz grande y alto brillo, el sistema de desviación del haz de electrones de alta velocidad, la desaceleración de la etapa de muestra de alto voltaje, el eje óptico dinámico y la lente de objetivo combinada electrostática y electromagnética de inmersión para lograr una alta -Adquisición de imágenes rápida y al mismo tiempo garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizado está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas grandes más eficiente e inteligente. La velocidad de obtención de imágenes puede alcanzar más de 5 veces más que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo convencional (fesem).