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FESEM | SEM4000Pro

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) con haz grande I

CIQTEK SEM4000Pro es un modelo analítico de FE-SEM, equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente electromagnética de 3 etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. Viene de serie con un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundario de bajo vacío y alto rendimiento, así como un detector de electrones retrodispersados ​​retráctil, que beneficia la observación de muestras poco conductoras o no conductoras.

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ⶠÓptica electrónica

sem4000pro Electron Optics

ⶠModo de vacío bajo

En el modo de bajo vacío, se puede alcanzar un rango de 10-180 Pa sin una apertura limitadora de presión. La cámara de vacío de la lente objetivo especialmente diseñada minimiza el recorrido libre medio de los electrones en condiciones de bajo vacío y logra una resolución de 1,5 nm a 30 kV en modo de bajo vacío.

La emisión secundaria de electrones desde la superficie de la muestra ioniza las moléculas de aire y genera simultáneamente electrones, iones y fotones. Los electrones generados ionizan aún más otras moléculas de aire; el detector de electrones secundarios (LVD) de bajo vacío captura una gran cantidad de señales de fotones producidas en dicho proceso.

  • SEM Low Vacuum Mode
  • SEM Low Vacuum Mode

El haz de electrones incidente ioniza las moléculas de aire en la superficie de la muestra, generando electrones e iones. Estos iones neutralizan la carga de la superficie, reduciendo así el efecto de carga.

ⶠSoftware de análisis de poros y partículas (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software CIQTEK SEM Microscope emplea varios algoritmos de segmentación y detección de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. permite el análisis cuantitativo de estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y las ciencias ambientales.

ⶠSoftware de posprocesamiento de imágenes *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice un posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, prácticas herramientas de medición y anotación.

ⶠMedición automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con varias funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.

ⶠKit de desarrollo de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio SEM, incluida la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido/apagado, el control de la etapa, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el rápido desarrollo de scripts y software de operación específicos del microscopio electrónico, lo que permite seguimiento automatizado de regiones de interés, adquisición de datos de automatización industrial, corrección de deriva de imágenes y otras funciones. Puede usarse para el desarrollo de software en áreas especializadas como análisis de diatomeas, inspección de impurezas del acero, análisis de limpieza, control de materias primas, etc.

ⶠMapa automático *Opcional

FESEM Microscope software Auto Measure

Especificaciones del microscopio CIQTEK SEM4000Pro FESEM
Óptica electrónica Resolución Alto vacío

0,9 nm a 30 kV, EE
Bajo vacío

2,5 nm a 30 kV, EEB, 30 Pa

1,5 nm a 30 kV, SE, 30 Pa
Voltaje de aceleración 0,2 kV ~ 30 kV
Ampliación (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de pistola de electrones Cañón de electrones de emisión de campo Schottky
Cámara de muestras Bajo vacío Máx. 180 Pa
Cámara Cámaras duales (navegación óptica + monitoreo de cámara)
Rango XY 110 milímetros
Rango Z 65 milímetros
Rango T -10° ~ +70°
Rango R 360°
Detectores y extensiones SEM Estándar

Detector Everhart-Thornley (ETD)

Detector de vacío bajo (LVD)

Detector de electrones retrodispersados ​​(BSED)

Opcional

Detector de microscopía electrónica de transmisión de barrido retráctil (STEM)

Espectrómetro de dispersión de energía (EDS / EDX)

Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)

Bloqueo de carga para intercambio de muestras (4 pulgadas / 8 pulgadasï¼

Panel de control de perilla y bola de seguimiento
Interfaz de usuario Idioma inglés
SO Windows
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, Trackball (opcional)
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático
Etiquetas calientes : Proveedor global del fabricante del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Detectores SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM alta resolución FESEM mejor precio Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo con mejor aumento Aplicaciones del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo pdf Notas sobre el microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
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