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FESEM | SEM4000X

Estable, versátil, flexible y eficiente

El CIQTEK SEM4000X es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM)<8 estable, versátil, flexible y eficiente . Alcanza una resolución de 1,9 nm a 1,0 kV y aborda fácilmente los desafíos de imágenes de alta resolución para varios tipos de muestras. Se puede actualizar con un modo de desaceleración de ultrahaz para mejorar aún más la resolución de bajo voltaje.

El microscopio utiliza tecnología de detectores múltiples, con un detector de electrones (UD) en la columna capaz de detectar señales SE y BSE al tiempo que proporciona un rendimiento de alta resolución. El detector de electrones (LD) montado en cámara incorpora centelleador de cristal y tubos fotomultiplicadores, que ofrecen mayor sensibilidad y eficiencia, lo que da como resultado imágenes estereoscópicas de excelente calidad. La interfaz gráfica de usuario es fácil de usar e incluye funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático y alineación automática, lo que permite una captura rápida de imágenes de resolución ultraalta.

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ⶠÓptica electrónica

sem Electron Optics

ⶠSoftware de análisis de poros y partículas (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software CIQTEK SEM Microscope emplea varios algoritmos de segmentación y detección de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. permite el análisis cuantitativo de estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y las ciencias ambientales.

ⶠSoftware de posprocesamiento de imágenes *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice un posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, prácticas herramientas de medición y anotación.

ⶠMedición automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con varias funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.

ⶠKit de desarrollo de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio SEM, incluida la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido/apagado, el control de la etapa, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el rápido desarrollo de scripts y software de operación específicos del microscopio electrónico, lo que permite seguimiento automatizado de regiones de interés, adquisición de datos de automatización industrial, corrección de deriva de imágenes y otras funciones. Puede usarse para el desarrollo de software en áreas especializadas como análisis de diatomeas, inspección de impurezas del acero, análisis de limpieza, control de materias primas, etc.

ⶠMapa automático *Opcional

FESEM Microscope software Auto Measure

Especificaciones del microscopio CIQTEK SEM4000X FESEM
Óptica electrónica Resolución 0,9 nm@ 30 kV, SE
1,2 nm@15 kV, SE
1,9 nm@1 kV, SE
1,5 nm@1 kV (desaceleración del ultrahaz)
1 nm@15 kV (desaceleración del haz ultra)
Voltaje de aceleración 0,2 kV ~ 30 kV
Ampliación (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de pistola de electrones Cañón de electrones de emisión de campo Schottky
Cámara de muestras Cámara Cámaras duales (navegación óptica + monitoreo de cámara)
Rango de escenario

X: 110 mm

Y: 110 mm

Z: 50 mm

T: -10°~ +70°

R: 360°
Detectores y extensiones SEM Estándar

Detector de electrones en lente: UD-BSE/UD-SE

Detector Everhart-Thornley: LD
Opcional

Detector de electrones retrodispersados ​​(BSED)

Detector de microscopía electrónica de transmisión de barrido retráctil (STEM)

Detector de vacío bajo (LVD)

Espectrómetro de dispersión de energía (EDS / EDX)

Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)

Bloqueo de carga de intercambio de muestras (4 pulgadas/8 pulgadas)

Panel de control de perilla y trackball

Tecnología de modo de desaceleración Ultra Beam
Interfaz de usuario Idioma inglés
SO Windows
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático
Etiquetas calientes : Proveedor global del fabricante del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Detectores SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM alta resolución FESEM mejor precio Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo con mejor aumento Aplicaciones del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo pdf Notas sobre el microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
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Sujeto : FESEM | SEM4000X
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