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Filamento de tungsteno SEM | SEM3300

Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación

El CIQTEK SEM3300 microscopio electrónico de barrido (SEM) incorpora tecnologías como óptica electrónica "Super-Tunnel", detectores de electrones con lente interna y lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Al aplicar estas tecnologías en el microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución antiguo de dicho SEM, lo que permite que el SEM de filamento de tungsteno realice tareas de análisis de bajo voltaje que antes solo se podían lograr con SEM de emisión de campo.

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ⶠDetector de electrones en la lente

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Imágenes del diafragma de una batería de litio tomadas a 1 kV con un aumento de 20.000 veces en una película, imágenes tomadas con SEM3300

ⶠNavegación óptica

El uso de una cámara de cámara montada verticalmente para capturar imágenes ópticas para la navegación en la plataforma de la muestra permite un posicionamiento de la muestra más intuitivo y preciso.

  • SEM Optical Navigation

ⶠFunciones automáticas

Funciones mejoradas de brillo y contraste automáticos, enfoque automático y corrección automática de astigmatismo. ¡Imágenes con un solo clic!

Enfoque automático

  • during autofocus
  • after autofocus

Corrección automática del astigmatismo

  • during autofocus
  • after autofocus

Brillo y contraste automáticos

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠMás seguro de usar

ⶠReemplazo sencillo del filamento

Módulo de filamento de repuesto prealineado listo para usar.

Microscopio CIQTEK SEM SEM3300 Galería de imágenes

ⶠSoftware de análisis de poros y partículas (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

El software CIQTEK SEM Microscope emplea varios algoritmos de segmentación y detección de objetivos, adecuados para diferentes tipos de muestras de partículas y poros. permite el análisis cuantitativo de estadísticas de partículas y poros y se puede aplicar en campos como la ciencia de los materiales, la geología y las ciencias ambientales.

ⶠSoftware de posprocesamiento de imágenes

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realice un posprocesamiento de imágenes en línea o fuera de línea en imágenes capturadas por microscopios electrónicos e integre funciones de procesamiento de imágenes EM de uso común, prácticas herramientas de medición y anotación.

ⶠMedición automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconocimiento automático de los bordes del ancho de línea, lo que resulta en mediciones más precisas y mayor consistencia. Admite múltiples modos de detección de bordes, como Línea, Espacio, Paso, etc. Compatible con múltiples formatos de imagen y equipado con varias funciones de posprocesamiento de imágenes de uso común. El software es fácil de usar, eficiente y preciso.

ⶠKit de desarrollo de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Proporciona un conjunto de interfaces para controlar el microscopio SEM, incluida la adquisición de imágenes, la configuración de las condiciones de funcionamiento, el encendido/apagado, el control de la etapa, etc. Las definiciones de interfaz concisas permiten el rápido desarrollo de scripts y software de operación específicos del microscopio electrónico, lo que permite seguimiento automatizado de regiones de interés, adquisición de datos de automatización industrial, corrección de deriva de imágenes y otras funciones. Puede usarse para el desarrollo de software en áreas especializadas como análisis de diatomeas, inspección de impurezas del acero, análisis de limpieza, control de materias primas, etc.

ⶠMapa automático *Opcional

  • during autofocus

Especificaciones del microscopio SEM CIQTEK SEM3300
Óptica electrónica Resolución 2,5 nm a 15 kV, SE
4 nm a 3 kV, SE
5 nm a 1 kV, SE
Voltaje de aceleración 0,1 kV ~ 30 kV
Ampliación (Polaroid) 1x ~ 300.000x
Cámara de muestras Cámara Navegación óptica
Monitoreo de cámara
Tipo de etapa Motorizado compatible con vacío de 5 ejes
Rango XY 125 milímetros
Rango Z 50 milímetros
Rango T - 10° ~ 90°
Rango R 360°
Detectores SEM Estándar Detector de electrones en lente (Inlens)
Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional Detector retráctil de electrones retrodispersados ​​(BSED)
Espectrómetro de dispersión de energía (EDS / EDX)
Patrón de difracción de electrones retrodispersados ​​(EBSD)
Opcional Bloqueo de carga de intercambio de muestras
Panel de control con perilla y trackball
Interfaz de usuario Sistema operativo Windows
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
Funciones automáticas Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático
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