Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno | SEM2000

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con columnas de haz de iones enfocados (FIB) El Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adopta tecnología de óptica electrónica “SuperTunnel”, baja aberración y diseño de objetivo no magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar El análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para nanofabricación. FIB-SEM DB500 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y 24 puertos de expansión, lo que lo convierte en una plataforma integral de nanoanálisis y fabricación con configuraciones integrales y capacidad de expansión. .

Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para obtener imágenes a escala cruzada de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 dispone de tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz grande y alto brillo, el sistema de desviación del haz de electrones de alta velocidad, la desaceleración de la etapa de muestra de alto voltaje, el eje óptico dinámico y la lente de objetivo combinada electrostática y electromagnética de inmersión para lograr una alta -Adquisición de imágenes rápida y al mismo tiempo garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizado está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas grandes más eficiente e inteligente. La velocidad de obtención de imágenes puede alcanzar más de 5 veces más que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo convencional (fesem).

Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de resolución ultraalta (FESEM): 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV El CIQTEK SEM5000X FESEM de resolución ultra alta utiliza el proceso de ingeniería de columnas mejorado, la tecnología "SuperTunnel" y el diseño de lente objetivo de alta resolución para mejorar la resolución de imágenes de bajo voltaje. Los puertos de la cámara de muestras FESEM SEM5000X se extienden a 16 y el bloqueo de carga de intercambio de muestras admite un tamaño de oblea de hasta 8 pulgadas (diámetro máximo 208 mm), lo que amplía significativamente las aplicaciones. Los modos de escaneo avanzados y las funciones automatizadas mejoradas brindan un rendimiento más sólido y una experiencia aún más optimizada.

CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y Lente objetivo MFL, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo Con el diseño de columna óptica electrónica de condensador de tres etapas para corrientes de haz de hasta 200 nA, SEM4000Pro ofrece ventajas en EDS, EBSD, WDS y otras aplicaciones analíticas. El sistema admite el modo de bajo vacío, así como un detector de electrones secundario de alto rendimiento y bajo vacío y un detector de electrones retrodispersados ​​retráctil, que pueden ayudar a observar directamente muestras poco conductoras o incluso no conductoras. El modo de navegación óptica estándar y una interfaz de operación de usuario intuitiva facilitan el trabajo de su análisis.

Next-generation Tungsten Filament Scanning Electron Microscope   The CIQTEK SEM3300 scanning electron microscope (SEM) incorporates technologies such as "Super-Tunnel" electron optics, inlens electron detectors, and electrostatic & electromagnetic compound objective lens. By applying these technologies into the tungsten filament microscope, the long-standing resolution limit of such SEM is surpassed, enabling the tungsten filament SEM to perform low-voltage analysis tasks previously only achievable with field emission SEMs.

Microscopio SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento con excelentes capacidades de calidad de imagen en modos de alto y bajo vacío El CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM tiene una gran profundidad de campo con una interfaz fácil de usar para permitir a los usuarios caracterizar muestras y explorar el mundo de las imágenes y el análisis microscópicos.

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