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Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno | SEM2000

El CIQTEK SEM2000 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno analítico fundamental y versátil con resolución de 20 kV hasta 3,9 nm y soporte para actualización a 30 kV, lo que permite la observación de información microestructural de muestras a submicroescala.

Tiene un rango de movimiento más amplio que un SEM de escritorio o de mesa. Es adecuado para el análisis rápido de muestras y tiene más interfaces de expansión para BSED, EDS/EDX y otros accesorios para permitir una gama más amplia de aplicaciones.

  • Resolución
    3,9 nm a 20 kV
  • Voltaje de aceleración
    0,5 ~ 20 kV (30 kV opcional)
  • Aumento
    1 ~ 300.000x

 

Interfaz de usuario sencilla

Interfaz clara y sencilla

Las funciones son simples y fáciles de operar. Incluso los principiantes pueden empezar rápidamente después de un rápido aprendizaje.

Funciones de automatización avanzadas

El contraste de brillo automático, el enfoque automático y la dispersión automática de la imagen se pueden ajustar con un solo clic.

Amplias funciones de medición

Funciones de gestión, vista previa y edición de fotografías con funciones de medición como longitud, área, redondez y ángulo.


 

Funciones destacadas

Navegación óptica

Fácil de navegar haciendo clic donde quieras ver.

Cámara de navegación óptica estándar para fotografías de la etapa de muestra de alta definición y posicionamiento rápido de la muestra.

 

 

Anti choques

Diseño anticolisión más amigable para principiantes para máxima protección de unidades sensibles.

 

Imágenes con un clic

*El software es fácil de operar con imágenes con un solo clic.

 

 

Distancia de trabajo

La distancia de análisis óptima y la distancia de imagen son dos en una para experimentar fácilmente un rendimiento de calidad.

 

 

Imágenes simultáneas de información múltiple

El software admite el cambio con un solo clic entre SE y BSE para obtener imágenes híbridas. Se puede observar al mismo tiempo información morfológica y compositiva de la muestra.

 

Indicadores de resolución

 

Detectores versátiles

Detector de retrodispersión de alta sensibilidad

· Imágenes multicanal

El detector tiene un diseño compacto y alta sensibilidad. Con un diseño de 4 segmentos, no es necesario inclinar la muestra para obtener imágenes de sombras en diferentes direcciones, así como imágenes de distribución de la composición.

 

 

· Comparación de imágenes de electrones secundarios (SE) y de electrones retrodispersados ​​(BSE)

En el modo de imagen de electrones retrodispersados, el efecto de carga disminuye significativamente y se puede obtener más información sobre la composición de la superficie de la muestra.

 

 

Espectro energético

Resultados del análisis de barrido de superficie del espectro energético de inclusiones metálicas.

 

 

 

Difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)

El microscopio electrónico de filamento de tungsteno con una gran corriente de haz cumple completamente con los requisitos de prueba de EBSD de alta resolución y es capaz de analizar materiales policristalinos como metales, cerámicas y minerales para la calibración de la orientación del cristal y el tamaño del grano.

La figura muestra el mapa antípoda de EBSD de una muestra de metal de Ni, que puede identificar el tamaño y la orientación del grano, determinar los límites y los gemelos de los granos y emitir juicios precisos sobre la organización y estructura del material.

 

Sistemas electroópticos Pistola de electrones Filamento de tungsteno tipo horquilla de tamaño mediano prealineado
Resolución

3,9 nm a 20 kV (SE)

4,5 nm a 20 kV (EEB)

Aumento 1x~300.000x
Voltaje de aceleración 0,5 kilovoltios ~ 20 kilovoltios
Sistemas de imágenes Detector

Detector de electrones secundario (ETD)

*Detector de electrones retrodispersados ​​(BSED), *espectrómetro de energía EDS, etc.

Formato de imagen TIFF, JPG, BMP, PNG
Sistema de vacío Alto vacío Mejor que 5×10 -4 Pa
Modo de control Sistema de control totalmente automatizado
Zapatillas Bomba mecánica ×1, Bomba molecular ×1
Cámara de muestra Cámara Navegación óptica
Tabla de muestra Automático de dos ejes
Distancia

X: 100mm

Longitud: 100 mm

Software Sistema operativo ventanas
Navegaciones Navegación óptica, navegación rápida por gestos
Funciones automáticas Contraste de brillo automático, enfoque automático, disipación automática
Funciones especiales Dispersión asistida inteligente, *Unión de imágenes a gran escala (accesorios opcionales)
requerimientos de instalación Espacio L ≥ 3000 mm, ancho ≥ 4000 mm, alto ≥ 2300 mm
Temperatura 20°C (68°F) ~ 25°C (77°F)
Humedad ≤ 50 %
Fuente de alimentación CA 220 V (±10 %), 50 Hz, 2 kVA
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