CIQTEK concluye con éxito su participación en Microscopia y Microanálisis 2026

CIQTEK participa en Microscopy & Microanalysis 2026

12 de agosto de 2026

Del 2 al 6 de agosto, CIQTEK participó en Microscopy & Microanalysis 2026 (M&M 2026) en el Baird Center de Milwaukee, Wisconsin, EE. UU. En el stand 718, CIQTEK presentó su microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno SEM3300 y se reunió con los asistentes a la conferencia.

M&M es un foro anual sobre la ciencia y la tecnología de la microscopía y el microanálisis. Durante el evento, CIQTEK mostró el SEM de filamento de tungsteno SEM3300 en su stand. A través de materiales de producto, muestras de imágenes y conversaciones en el lugar, el equipo presentó a los visitantes los productos de microscopía electrónica de CIQTEK y sus áreas de aplicación.

El 3 de agosto, CIQTEK impartió un tutorial de proveedor titulado:

Desbloqueando el poder de la microscopía electrónica de barrido de alta velocidad única con una resolución de imagen excepcional sin compromisos a bajo kV para aplicaciones de microscopía de volumen a gran escala de CIQTEK

La presentación se centró en la microscopía electrónica de barrido de alta velocidad para aplicaciones de microscopía de volumen a gran escala. Los asistentes participaron en la presentación e intercambiaron ideas con el equipo de CIQTEK en el stand.

Durante toda la conferencia, el equipo de CIQTEK dio la bienvenida a los visitantes y mantuvo conversaciones sobre productos de microscopía electrónica y aplicaciones relacionadas. Agradecemos a los organizadores de M&M 2026 y a todos los que visitaron el stand de CIQTEK. CIQTEK continuará desarrollando tecnologías y productos de microscopía electrónica para usuarios científicos e industriales.