Análisis de cerámica electrónica: aplicaciones de microscopía electrónica de barrido (SEM)
Los materiales cerámicos tienen una serie de características como alto punto de fusión, alta dureza, alta resistencia al desgaste y resistencia a la oxidación, y son ampliamente utilizados en diversos campos de la economía nacional como la industria electrónica, la industria automotriz, la industria textil, la industria química y la aeroespacial. . Las propiedades físicas de los materiales cerámicos dependen en gran medida de su microestructura, que es un área de aplicación importante del SEM.
¿Qué son las cerámicas?
Los materiales cerámicos son una clase de materiales inorgánicos no metálicos hechos de compuestos naturales o sintéticos mediante conformación y sinterización a alta temperatura y se pueden dividir en materiales cerámicos generales y materiales cerámicos especiales.
Los materiales cerámicos especiales se pueden clasificar según su composición química: cerámicas de óxido, cerámicas de nitruro, cerámicas de carburo, cerámicas de boruro, cerámicas de siliciuro, etc.; Según sus características y aplicaciones se pueden dividir en cerámica estructural y cerámica funcional.
Figura 1 Morfología microscópica de cerámicas de nitruro de boro.
SEM ayuda a estudiar las propiedades de los materiales cerámicos
Con el continuo desarrollo de la sociedad, la ciencia y la tecnología, las necesidades de materiales de las personas han ido aumentando, lo que requiere una comprensión más profunda de las diversas propiedades físicas y químicas de la cerámica. Las propiedades físicas de los materiales cerámicos dependen en gran medida de su microestructura [1], y las imágenes SEM se utilizan ampliamente en materiales cerámicos y otros campos de investigación debido a su alta resolución, amplio rango de aumento ajustable e imágenes estereoscópicas. El microscopio electrónico de barrido por emisión de campo CIQTEK SEM5000 se puede utilizar para observar fácilmente la microestructura de materiales cerámicos y productos relacionados y, además, el espectrómetro de energía de rayos X se puede utilizar para determinar rápidamente la composición elemental de los materiales.
Aplicación de SEM en el estudio de la cerámica electrónica
El mayor mercado de uso final de la industria de la cerámica especial es la industria electrónica, donde el titanato de bario (BaTiO3) se utiliza ampliamente en condensadores cerámicos multicapa (MLCC), termistores (PTC) y otros componentes electrónicos. componentes debido a su alta constante dieléctrica, excelentes propiedades ferroeléctricas y piezoeléctricas y propiedades de resistencia al voltaje y aislamiento [2]. Con el rápido desarrollo de la industria de la información electrónica, la demanda de titanato de bario está aumentando y los componentes electrónicos se están volviendo más pequeños y miniaturizados, lo que también plantea mayores requisitos para el titanato de bario.
Los investigadores suelen regular las propiedades cambiando la temperatura de sinterización, la atmósfera, el dopaje y otros procesos de preparación. Aún así, la esencia es que los cambios en el proceso de preparación provocan cambios en la microestructura del material y, por tanto, en sus propiedades. Los estudios han demostrado que las propiedades dieléctricas ferroeléctricas del titanato de bario están estrechamente relacionadas con la microestructura del material, como la porosidad y el tamaño de grano [3]. La morfología de las partículas, la uniformidad del tamaño de las partículas y el tamaño de grano de los polvos cerámicos de titanato de bario se pueden caracterizar mediante microscopía electrónica de barrido por emisión de campo SEM5000, como se muestra en la Figura 2.
Los resultados de la caracterización de la microestructura son guías importantes para la selección de métodos de sinterización, así como de parámetros del proceso. Además, el estudio de la microestructura de materiales mediante SEM ayuda a comprender la relación entre microestructura y propiedades.
Figura 2 Morfología microscópica del polvo cerámico de titanato de bario.
El titanato de bario y estroncio (BaxSr1-xTiO3) también es un importante material cerámico electrónico, que es una solución sólida formada por titanato de estroncio y titanato de bario. En comparación con el titanato de bario, tiene una constante dieléctrica más alta, una pérdida dieléctrica más baja, una resistencia a la ruptura más alta y un punto de transición de fase ajustable con composición, y ha sido ampliamente estudiado y utilizado en dispositivos electrónicos por un gran número de académicos. [4] Actualmente, los investigadores suelen utilizar métodos como el ajuste de la relación Sr/Ba y elementos dopantes para lograr un mejor rendimiento. Sin embargo, sigue siendo fundamental modular las propiedades del material cambiando la microestructura del material. La Figura 3 muestra la imagen electrónica retrodispersada del titanato de bario y estroncio sinterizado probado con el microscopio electrónico de barrido por emisión de campo SEM5000, que se puede utilizar para caracterizar la homogeneidad composicional del material con un aumento bajo, mientras que la imagen electrónica retrodispersada con un aumento alto también tiene una cierta revestimiento morfológico.
Figura 3 Morfología microscópica de productos sinterizados de titanato de bario y estroncio
Los materiales cerámicos, los materiales metálicos y los materiales poliméricos son los tres materiales más utilizados en la sociedad actual. Con el continuo desarrollo de la ciencia, la tecnología y la economía social, el futuro planteará exigencias más exigentes en las prestaciones de los materiales cerámicos. El uso de SEM para caracterizar la microestructura de materiales cerámicos ayudará a mejorar la tecnología de preparación de materiales cerámicos para lograr un mayor rendimiento.
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo CIQTEK SEM5000
SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de alta resolución y rico en funciones, con diseño de barril avanzado, desaceleración dentro del barril y diseño de objetivo magnético sin fugas de baja aberración, para lograr imágenes de alta resolución de bajo voltaje, que se pueden aplicar a muestras magnéticas. SEM5000 tiene navegación óptica, funciones automáticas perfectas, interacción hombre-máquina bien diseñada, operación optimizada y proceso de uso. Independientemente de si el operador tiene una amplia experiencia, usted podrá comenzar rápidamente con la tarea de la fotografía de alta resolución.
Microscopio SEM de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 es un excelente microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno de uso general con capacidades generales excepcionales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de ánodo dual garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen con voltajes de excitación bajos. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes gastos.
Aprende másCIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.
Aprende másEstable, versátil, flexible y eficiente El CIQTEK SEM4000X es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM)
Aprende másMicroscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con columnas de haz de iones enfocados (FIB) El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 tiene una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de “súper túnel”, diseño de objetivo no magnético y de baja aberración, y tiene la característica de “bajo voltaje, alta resolución” para garantizar sus capacidades analíticas a nanoescala. Las columnas de iones facilitan una fuente de iones de metal líquido Ga+ con haces de iones altamente estables y de alta calidad para garantizar las capacidades de nanofabricación. El DB550 es una estación de trabajo de nanoanálisis y fabricación todo en uno con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y un software GUI fácil de usar.
Aprende másAlta resolución con baja excitación El CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky (FE-SEM) especializado en alta resolución incluso con bajo voltaje de excitación. El empleo de una avanzada tecnología de óptica electrónica "Super-Tunnel" facilita una trayectoria del haz sin cruces junto con un diseño de lente compuesto electrostático-electromagnético. Estos avances reducen el efecto de carga espacial, minimizan las aberraciones de las lentes, mejoran la resolución de imágenes a bajo voltaje y logran una resolución de 1,2 nm a 1 kV, lo que permite la observación directa de muestras no conductoras o semiconductoras, reduciendo efectivamente la carga de la muestra. daño por irradiación.
Aprende másMicroscopio electrónico de barrido de alta velocidad para imágenes a escala cruzada de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 incorpora tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz grande y alto brillo, el sistema de desviación del haz de electrones de alta velocidad, la desaceleración de la etapa de muestra de alto voltaje, el eje óptico dinámico y el objetivo combinado de inmersión electromagnética y electrostática. para lograr la adquisición de imágenes de alta velocidad y al mismo tiempo garantizar una resolución a nanoescala. El proceso de operación automatizado está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas grandes más eficiente e inteligente. La velocidad de obtención de imágenes puede alcanzar más de 5 veces más que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo convencional (FESEM).
Aprende másMicroscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) con haz grande I CIQTEK SEM4000Pro es un modelo analítico de FE-SEM, equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente electromagnética de 3 etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. Viene de serie con un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundario de bajo vacío y alto rendimiento, así como un detector de electrones retrodispersados retráctil, que beneficia la observación de muestras poco conductoras o no conductoras.
Aprende másMicroscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación El CIQTEK SEM3300 microscopio electrónico de barrido (SEM) incorpora tecnologías como óptica electrónica "Super-Tunnel", detectores de electrones con lente interna y lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Al aplicar estas tecnologías en el microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución antiguo de dicho SEM, lo que permite que el SEM de filamento de tungsteno realice tareas de análisis de bajo voltaje que antes solo se podían lograr con SEM de emisión de campo.
Aprende másLa microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de resolución ultraalta (FESEM) desafía los límites El CIQTEK SEM5000X es un FESEM de resolución ultraalta con un diseño de columna óptica electrónica optimizado, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y logra una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. . Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y fabricación de chips CI semiconductores de nodos de alta tecnología.
Aprende másMicroscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.
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