CIQTEK presentará microscopía electrónica de volumen de alta velocidad en el foro de tecnología vEM 2026
CIQTEK presentará microscopía electrónica de volumen de alta velocidad en el foro de tecnología vEM 2026
September 28, 2026
CIQTEK se unirá al 2026 vEM Technology Forum en la Universidad de Pekín en Pekín, presentando nuestras últimas soluciones de microscopía electrónica de volumen (Volume EM).
Los visitantes pueden conocer al equipo de CIQTEK en nuestro stand para explorar cómo la SEM de alta velocidad, la obtención de imágenes de alta resolución a bajo kV, la adquisición automatizada de grandes áreas y la reconstrucción 3D pueden ayudar a los investigadores a manejar conjuntos de datos de microscopía de volumen cada vez más grandes y complejos.
Presentación de póster de CIQTEK
En el foro, Xin Ren (Luke), Gerente sénior de soluciones de microscopía electrónica de CIQTEK, presentará nuestro trabajo más reciente sobre SEM de alta velocidad para Volume EM a gran escala.
Título del póster: Desbloqueando el poder de la microscopía electrónica de barrido de alta velocidad única sin comprometer la excelente resolución de imagen a bajo kV para aplicaciones de microscopía de volumen a gran escala de CIQTEK
El póster explorará cómo el HEM6000 combina alta velocidad de imagen, gran resolución a bajo kV, imágenes de gran área y automatización inteligente para respaldar flujos de trabajo de Volume EM a gran escala.
Conozca a CIQTEK en Pekín
El 2026 vEM Technology Forum reúne a investigadores y expertos en microscopía para intercambiar ideas sobre tecnologías de Volume EM, flujos de trabajo, automatización, imágenes a gran escala, procesamiento de datos y aplicaciones emergentes.
Esperamos conocer a la comunidad de vEM, compartir nuestros últimos desarrollos y escuchar sobre los desafíos reales de imagen en los que están trabajando los investigadores.
Visite el stand de CIQTEK, conozca a nuestro equipo de EM y descubra lo que la Volume EM de alta velocidad puede aportar a su investigación.
Fecha: 11 al 15 de octubre de 2026 Ubicación: Universidad de Pekín, Pekín, China
Alta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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