Aplicaciones

Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) son esenciales para diversas aplicaciones, como diagnóstico de defectos, reparación, implantación de iones, procesamiento in situ, reparación de máscaras, grabado, modificación del diseño de circuitos integrados y fabricación de dispositivos de chip. , procesamiento sin máscara, fabricación de nanoestructuras, nanomodelos complejos, imágenes tridimensionales y análisis de materiales, análisis de superficies ultrasensibles, modificación de superficies y preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión. CIQTEK ha presentado el FIB-SEM DB550, que cuenta con un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) controlable de forma independiente con haz de iones enfocado ( FIB) Columnas. Es una herramienta de preparación de muestras y análisis a nanoescala elegante y versátil, que adopta tecnología de óptica electrónica "SuperTunnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar el análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación. DB550 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y un software GUI fácil de usar, lo que facilita una estación de trabajo de fabricación y análisis a nanoescala todo en uno. Para mostrar el excelente rendimiento del DB550, CIQTEK ha planeado un evento especial llamado "Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM". Este El programa presentará videos que demuestran las amplias aplicaciones de este equipo de vanguardia en campos como la ciencia de materiales, la industria de semiconductores y la investigación biomédica. Los espectadores comprenderán los principios de funcionamiento del DB550., aprecie sus impresionantes imágenes a microescala y explore las importantes implicaciones de esta tecnología para la investigación científica y el desarrollo industrial. Espécimen de nanomicropilar Preparación Espécimen de nanomicropilar La preparación se ha logrado con éxito, lo que demuestra las poderosas capacidades de CIQTEK Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado en procesamiento y análisis a nanoescala. El rendimiento del producto proporciona soporte de pruebas preciso, eficiente y multimodal para los clientes que participan en pruebas nanomecánicas, lo que facilita avances en la investigación de materiales.

Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) son esenciales para diversas aplicaciones, como diagnóstico de defectos, reparación, implantación de iones, procesamiento in situ, reparación de máscaras, grabado, modificación del diseño de circuitos integrados, fabricación de dispositivos de chip, procesamiento sin máscara, fabricación de nanoestructuras, nanomodelos complejos, imágenes tridimensionales y análisis de materiales, análisis de superficies ultrasensibles, modificación de superficies y preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión. CIQTEK ha presentado el FIB-SEM DB550, que cuenta con un microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo (FE-SEM) controlable de forma independiente con enfoque Columnas de haz de iones (FIB). Es una herramienta de preparación de muestras y análisis a nanoescala elegante y versátil, que adopta tecnología de óptica electrónica “SuperTunnel”, baja aberración y no Diseño de objetivo magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar el análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación. DB550 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y un software GUI fácil de usar, que facilita una estación de trabajo todo en uno para análisis y fabricación a nanoescala . Para mostrar el excelente rendimiento del DB550, CIQTEK ha planificado un evento especial llamado "Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM". Este programa presentará videos que demuestran las amplias aplicaciones de este equipo de vanguardia en campos como la ciencia de materiales, la industria de semiconductores y la investigación biomédica. Los espectadores comprenderán los principios de funcionamiento del DB550, apreciarán sus impresionantes imágenes a microescala y explorarán las importantes implicaciones de esta tecnología para la investigación científica y el desarrollo industrial. Preparación de una muestra de transmisión de acero ferrita-martensita El FIB-SEM DB550 desarrollado por CIQTEK posee la capacidad de preparar muestras de transmisión de acero de ferrita-martensita sin problemas. Esta capacidad permite a los investigadores en el dominio de la nanoescala observar directamente las características de la interfaz, la morfología microestructural y el proceso de evolución de las fases de ferrita y martensita. Estas observaciones son pasos cruciales hacia la profundización de la comprensión de la relación entre la cinética de transformación de fase, la organización microestructural y las propiedades mecánicas del acero de ferrita-marta.

Límite de difracción Puntos de difracción La difracción ocurre cuando una fuente de luz puntual pasa a través de una apertura circular, creando un patrón de difracción detrás de la apertura. Este patrón consta de una serie de anillos concéntricos brillantes y oscuros conocidos como discos de Airy. Cuando los discos Airy de dos fuentes puntuales se superponen, se produce interferencia, lo que hace imposible distinguir entre las dos fuentes. La distancia entre los centros de los discos de Airy, que es igual al radio del disco de Airy, determina el límite de difracción. El límite de difracción impone una limitación a la resolución de los microscopios ópticos, impidiendo la distinción resoluble de objetos o detalles que están demasiado juntos. Cuanto más corta es la longitud de onda de la luz, menor es el límite de difracción y mayor es la resolución. Además, los sistemas ópticos con una mayor apertura numérica (NA) tienen un límite de difracción más pequeño y, por tanto, una resolución más alta. Discos aireados La fórmula para calcular la resolución, NA representa la apertura numérica: Resoluciónï¼rï¼ = 0,16λ/ NA A lo largo de la historia, los científicos se han embarcado en un largo y desafiante viaje para superar el límite de difracción en los microscopios ópticos. Desde los primeros microscopios ópticos hasta las modernas técnicas de microscopía de súper resolución, los investigadores han explorado e innovado continuamente. Han intentado varios métodos, como el uso de fuentes de luz de longitud de onda más corta, la mejora del diseño de objetivos y el empleo de técnicas de imagen especializadas. Algunos avances importantes incluyen: 1. Microscopía óptica de barrido de campo cercano (NSOM): NSOM utiliza una sonda colocada cerca de la superficie de la muestra para aprovechar el efecto de campo cercano y lograr imágenes de alta resolución. 2. Microscopía de agotamiento de emisiones estimuladas (STED): STED utiliza el efecto de agotamiento de emisiones estimuladas de moléculas fluorescentes para lograr imágenes de súper resolución. 3. Microscopía de iluminación estructurada (SIM): SIM mejora la resolución de las imágenes a través de patrones de iluminación específicos y algoritmos de procesamiento de imágenes. 4. Microscopía de localización de molécula única (SMLM): SMLM logra imágenes de súper resolución localizando y rastreando con precisión moléculas fluorescentes individuales. 5. Microscopía de inmersión en aceite: Sumergir la lente del objetivo en un aceite transparente aumenta la apertura numérica en el espacio del objeto, lo que resulta en una resolución mejorada. 6. Microscopio electrónico: Al sustituir haces de luz por haces de electrones, la microscopía electrónica aprovecha la naturaleza ondulatoria de la materia según el principio de De Broglie. Los electrones, que tienen masa en comparación con los fotones, poseen una longitud de onda más pequeña y exhiben menos difracción, lo que permite una mayor resolución de imagen. Microscopio de fl...

Presentamos CIQTEK filamento de tungsteno Senlatado Eelectrón Microscopio SEM3200 proporciona a los investigadores imágenes claras a nanoescala, lo que les permite examinar visualmente la microestructura y la morfología de las capas de recubrimiento. Además, el espectrómetro de dispersión de energía (EDS) equipado permite un análisis preciso de la composición del material y la distribución de elementos, guiando eficazmente la optimización de procesos en investigación y desarrollo. - Dr. Zhang, jefe de clientes principales/director de calidad Recubrimiento: Dar a los productos un "súper nanorecubrimiento" El desarrollo de la tecnología de recubrimiento no solo muestra la profundidad de la ciencia de los materiales sino que también demuestra los procesos de fabricación de precisión. El Dr. Zhang explica: "Nuestra empresa ha desarrollado recubrimientos de rendimiento superior, como el carbono (DLC)/ titanio-aluminio-carbono (TAC) similar al diamante. películas, películas de nitruro, películas de carburo, películas de aleación/metal de alta densidad y películas ópticas. Estas capas de recubrimiento son como darle a los productos un 'súper nanorecubrimiento'." CIQTEK Escaneo El microscopio electrónico mejora la calidad de las capas de nanorecubrimiento Dra. Zhang afirma: "Con el SEM3200, podemos detectar fácilmente el espesor total de las capas de recubrimiento, así como el espesor y la composición de cada capa diseñada (capa de sustrato, capa de transición, capa superficial) en las muestras. proporcionada por los clientes. Nuestra investigación y desarrollo internos pueden proporcionar rápidamente soluciones de diseño. Esto mejora la eficiencia del desarrollo del proceso de recubrimiento". El SEM3200 desempeña un papel crucial en la investigación y el desarrollo y también actúa como una herramienta clave en el control de calidad. "Podemos usarlo para el análisis de fallas", dice el Dr. Zhang. "A través de pruebas y caracterizaciones integrales, podemos identificar las causas fundamentales de los productos defectuosos, mejorando continuamente la calidad y el rendimiento del producto". Los microscopios electrónicos de escaneo facilitan el desarrollo de alta calidad de la fabricación Dra. Zhang expresa que el SEM3200 no solo funciona en buenas condiciones con una interfaz fácil de usar y alta automatización, sino que también recibe respuestas rápidas del CIQTEK equipo de posventa, resolviendo muchos problemas prácticos. Esto no solo refleja el desempeño sobresaliente de los productos CIQTEK sino que también demuestra el importante papel de los instrumentos científicos de alta gama en el apoyo al desarrollo de empresas de alta tecnología. En el futuro, CIQTEK continuará brindando soluciones de investigación de primera clase para más empresas de alta tecnología, como recubrimientos, promoviendo conjuntamente el floreciente desarrollo de la industria científica y tecnológica.

Los principales contaminantes en los cuerpos de agua incluyen productos farmacéuticos, surfactantes, productos de cuidado personal, tintes sintéticos, pesticidas y productos químicos industriales. Estos contaminantes son difíciles de eliminar y pueden afectar negativamente a la salud humana, incluidos los sistemas nervioso, de desarrollo y reproductivo. Por lo tanto, proteger los entornos acuáticos es de suma importancia. En los últimos años, los procesos de oxidación avanzados (POA) como reacciones similares a Fenton, activación de persulfato y POA inducidos por luz ultravioleta (p. ej., UV/Cl2, UV/NH 2Cl, UV/H2O2, UV/PS) así como fotocatalizadores (por ejemplo, vanadato de bismuto (BiVO4), bismuto vanadato (BiVO4), tungstato (Bi2WO6), nitruro de carbono (C3N4), dióxido de titanio (TiO2) han ganado atención en el campo del tratamiento de agua y la remediación ambiental. Estos sistemas pueden generar especies altamente reactivas como radicales hidroxilo (•OH), radicales sulfato (•SO4-), radicales superóxido (•O2-), singlete oxígeno (1O2), etc. Estas técnicas mejoran significativamente las tasas de eliminación de contaminantes orgánicos en comparación con los métodos físicos y biológicos convencionales. El desarrollo de estas tecnologías de tratamiento de agua se beneficia enormemente de la asistencia de la tecnología Resonancia Paramagnética Electrónica (EPR). CIQTEK ofrece el espectrómetro de resonancia paramagnética electrónica de escritorio EPR200M y el espectrómetro de resonancia paramagnética electrónica de onda continua EPR200-Plus de banda X, que brindan soluciones para estudiando fotocatálisis y procesos de oxidación avanzada en el tratamiento de agua. Aplicación Soluciones de tecnología de resonancia paramagnética electrónica (EPR) en la investigación del tratamiento de agua - Detectar, identificar y cuantificar especies reactivas como •OH, •SO4-, •O2-, 1O 2, y otras especies activas generadas en sistemas fotocatalíticos y AOP. - Detectar y cuantificar vacantes/defectos en materiales de remediación, como vacantes de oxígeno, vacantes de nitrógeno, vacantes de azufre, etc. - Detectar metales de transición dopados en materiales catalíticos. - Verificar la viabilidad y ayudar a optimizar varios parámetros de los procesos de tratamiento de agua. - Detectar y determinar la proporción de especies reactivas durante los procesos de tratamiento de agua, proporcionando evidencia directa de los mecanismos de degradación de contaminantes. Aplicación Casos de tecnología de resonancia paramagnética electrónica (EPR) en la investigación del tratamiento de agua Caso 1: EPR en tecnología de oxidación avanzada basada en UV/ClO2 - Estudio EPR del proceso de degradación de antibióticos de fluoroquinolonas en un sistema de AOP mediado por UV. - Degradación de productos farmacéuticos y de cuidado personal (PPCP) en agua por dióxido de cloro en condiciones UV. - Detección EPR y análisis cualitativo de •OH y oxígeno singlete como especies activas en el sistema....

¿Qué es una fractura de metal? Cuando un metal se rompe bajo fuerzas externas, deja dos superficies coincidentes llamadas "superficies de fractura" o "caras de fractura". La forma y apariencia de estas superficies contienen información importante sobre el proceso de fractura. Al observar y estudiar la morfología de la superficie de la fractura, podemos analizar las causas, propiedades, modos y mecanismos de la fractura. También proporciona información sobre las condiciones de tensión y las tasas de propagación de grietas durante la fractura. De manera similar a una investigación "in situ", la superficie de fractura preserva todo el proceso de fractura. Por lo tanto, examinar y analizar la superficie de la fractura es un paso y un método crucial en el estudio de las fracturas de metales. El microscopio electrónico de barrido, con su gran profundidad de campo y alta resolución, se ha utilizado ampliamente en el campo del análisis de fracturas. La aplicación del microscopio electrónico de barridope en el análisis de fracturas de metales Las fracturas de metal pueden ocurrir en varios modos de falla. Según el nivel de deformación antes de la fractura, se pueden clasificar como fractura frágil, fractura dúctil o una mezcla de ambas. Los diferentes modos de fractura exhiben morfologías microscópicas características, y la caracterización CIQTEK microscopio electrónico de barrido puede ayudar a los investigadores a analizar rápidamente las superficies de fractura. Fractura dúctil La fractura dúctil se refiere a la fractura que ocurre después de una cantidad significativa de deformación en el componente, y su característica principal es la aparición de una deformación plástica macroscópica obvia. La apariencia macroscópica es de cono en copa o cizallamiento con una superficie de fractura fibrosa, caracterizada por hoyuelos. Como se muestra en la Figura 1, a microescala, la superficie de la fractura consta de pequeños microporos en forma de copa llamados hoyuelos. Los hoyuelos son microhuecos formados por deformación plástica localizada en el material. Se nuclean, crecen y se fusionan, lo que eventualmente conduce a una fractura y deja rastros en la superficie de la fractura. Figura 1: Superficie de fractura dúctil del metal / 10 kV / Inlens Fractura frágil La fractura frágil se refiere a la fractura que ocurre sin deformación plástica significativa en el componente. El material sufre poca o ninguna deformación plástica antes de fracturarse. Macroscópicamente, parece cristalino y microscópicamente, puede exhibir fractura intergranular, fractura por escisión o fractura cuasi-escisión. Como se muestra en la Figura 2, es una superficie de fractura mixta de metal frágil-dúctil. En la región de la fractura dúctil se pueden observar hoyuelos notables. En la región de fractura frágil, la fractura frágil intergranular se produce a lo largo de diferentes orientaciones cristalográficas. A microescala, la superficie de fractura exhibe múltiples facetas de los granos,...

La lámina de cobre y litio de alto rendimiento es uno de los materiales clave para las baterías de iones de litio y está estrechamente relacionada con el rendimiento de la batería. Con la creciente demanda de mayor capacidad, mayor densidad y carga más rápida en dispositivos electrónicos y vehículos de nueva energía, también han aumentado los requisitos para los materiales de las baterías. Para lograr un mejor rendimiento de la batería, es necesario mejorar los indicadores técnicos generales de la lámina de cobre y litio, incluida la calidad de la superficie, las propiedades físicas, la estabilidad y la uniformidad. Análisis de microestructura mediante microscopio electrónico de barrido-técnica EBSD En la ciencia de los materiales, la composición y la microestructura determinan las propiedades mecánicas. Microscopio electrónico de barrido(SEM) es un instrumento científico comúnmente utilizado para la caracterización de superficies de materiales, que permite observar la morfología de la superficie de las láminas de cobre y la distribución de los granos. Además, la difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) es una técnica de caracterización ampliamente utilizada para analizar la microestructura de materiales metálicos. Al configurar un detector EBSD en un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo, los investigadores pueden establecer la relación entre el procesamiento, la microestructura y las propiedades mecánicas. La siguiente figura muestra la morfología de la superficie de la lámina de cobre electrolítico capturada por el CIQTEK SEM5000 de emisión de campo Superficie lisa de lámina de cobre/2kV/ETD Superficie mate de lámina de cobree/2kV/ETD Cuando la superficie de la muestra es suficientemente plana, se pueden obtener imágenes de contraste del canal de electrones (ECCI) utilizando el detector de retrodispersión SEM. El efecto de canalización de electrones se refiere a una reducción significativa en la reflexión de los electrones desde los puntos de la red cristalina cuando el haz de electrones incidente satisface la condición de difracción de Bragg, lo que permite que muchos electrones penetren en la red y exhiban un efecto de "canalización". Por lo tanto, para materiales policristalinos planos pulidos, la intensidad de los electrones retrodispersados ​​depende de la orientación relativa entre el haz de electrones incidente y los planos del cristal. Los granos con una mayor desorientación producirán señales de electrones retrodispersados ​​más fuertes y un mayor contraste, lo que permitirá la determinación cualitativa de la distribución de la orientación del grano a través de ECCI. La ventaja del ECCI radica en su capacidad de observar un área más grande en la superficie de la muestra. Por lo tanto, antes de la adquisición de EBSD, se pueden utilizar imágenes ECCI para una caracterización macroscópica rápida de la microestructura en la superficie de la muestra, incluida la observación del tamaño de grano, la orientación cr...

Resumen: El dióxido de titanio, ampliamente conocido como blanco de titanio, es un importante pigmento inorgánico blanco ampliamente utilizado en diversas industrias, como revestimientos, plásticos, caucho, fabricación de papel, tintas y fibras. Los estudios han demostrado que la física y las propiedades químicas del dióxido de titanio, como el rendimiento fotocatalítico, el poder cubriente y la dispersabilidad, están estrechamente relacionadas con su superficie específica y estructura de poros. El uso de técnicas de adsorción de gas estáticas para la caracterización precisa de parámetros como el área de superficie específica y la distribución del tamaño de los poros del dióxido de titanio se puede emplear para evaluar su calidad y optimizar su rendimiento en aplicaciones específicas, mejorando así aún más su eficacia en diversos campos. Acerca del dióxido de titanio: El dióxido de titanio es un pigmento inorgánico blanco vital compuesto principalmente de dióxido de titanio. Parámetros como el color, el tamaño de las partículas, la superficie específica, la dispersabilidad y la resistencia a la intemperie determinan el rendimiento del dióxido de titanio en diferentes aplicaciones, siendo la superficie específica uno de los parámetros clave. La caracterización del área de superficie específica y del tamaño de los poros ayuda a comprender la dispersabilidad del dióxido de titanio, optimizando así su rendimiento en aplicaciones como recubrimientos y plásticos. El dióxido de titanio con una superficie específica alta generalmente exhibe un poder cubriente y una fuerza colorante más fuertes. Además, la investigación ha indicado que cuando se utiliza dióxido de titanio como soporte del catalizador, un tamaño de poro más grande puede mejorar la dispersión de los componentes activos y mejorar la actividad catalítica general, mientras que un tamaño de poro más pequeño aumenta la densidad de los sitios activos, ayudando en la mejora de la eficiencia de la reacción. Por lo tanto, al regular la estructura de poros del dióxido de titanio, se puede mejorar su rendimiento como soporte de catalizador. En resumen, la caracterización del área superficial específica y la distribución del tamaño de los poros no solo ayuda a evaluar y optimizar el rendimiento del dióxido de titanio en diversas aplicaciones, sino que también sirve como un medio importante de control de calidad en el proceso de producción. Caracterización precisa del titanio El dióxido de carbono permite una mejor comprensión y utilización de sus propiedades únicas para cumplir con los requisitos en diferentes campos de aplicación. Ejemplos de aplicación de técnicas de adsorción de gas en la caracterización del dióxido de titanio: 1. Caracterización del área de superficie específica y distribución del tamaño de poro del dióxido de titanio para catalizadores DeNOx La reducción catalítica selectiva (SCR) es una de las tecnologías de desnitrificación de gases de combustión comúnmente aplicadas e investiga...