CIQTEK SEM3200 instalado exitosamente en el laboratorio de la Universidad de Monterrey, México

Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.

Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.

SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento y universal Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón electrónico de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes prestaciones.