CIQTEK organiza el programa de capacitación operativa avanzada de microscopios SEM para GSEM COREA

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) con haz grande I CIQTEK SEM4000Pro es un modelo analítico de FE-SEM, equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente electromagnética de 3 etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. Viene de serie con un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundario de bajo vacío y alto rendimiento, así como un detector de electrones retrodispersados ​​retráctil, que beneficia la observación de muestras poco conductoras o no conductoras.

Microscopio SEM de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 es un excelente microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno de uso general con capacidades generales excepcionales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de ánodo dual garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen con voltajes de excitación bajos. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes gastos.

La microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de resolución ultraalta (FESEM) desafía los límites El CIQTEK SEM5000X es un FESEM de resolución ultraalta con un diseño de columna óptica electrónica optimizado, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y logra una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. . Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y fabricación de chips CI semiconductores de nodos de alta tecnología.

Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación El CIQTEK SEM3300 microscopio electrónico de barrido (SEM) incorpora tecnologías como óptica electrónica "Super-Tunnel", detectores de electrones con lente interna y lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Al aplicar estas tecnologías en el microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución antiguo de dicho SEM, lo que permite que el SEM de filamento de tungsteno realice tareas de análisis de bajo voltaje que antes solo se podían lograr con SEM de emisión de campo.

Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.