El microscopio SEM Mde CIQTEKrepresenta un gran avance en las imágenes modernas de alta resolución. Con tecnología avanzada de microscopía electrónica,testos SEM Mmicroscopiosproporcionarán herramientas y plataformas excepcionales para investigadores y profesionales de la industria coreanos. , impulsando avances en varioscampos.
"Estamos encantados con la instalaciónde SEM3200 y SEM4000Pro", dijoun científico investigador de GSEM. "La alta resolución y las capacidades avanzadas de imágenes nos permiten obtener información valiosa sobreanálisis microscópico, lo que nos permite optimizar y adaptar su rendimiento para aplicaciones específicas. "
Con una extensa red de ventas y un equipo dedicado de expertos técnicos, GSEMsigue comprometido a fomentar la innovación y el progreso científicos, proporcionando una instrumentación excelente y brindando soporte técnico para investigadores y profesionales de la industria en Corea. Colaboran con empresas e instituciones de investigación para impulsar el desarrollo de la investigación científica, haciendo contribuciones significativas a la innovación y el crecimiento sostenible de Corea.
Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) con haz grande I CIQTEK SEM4000Pro es un modelo analítico de FE-SEM, equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente electromagnética de 3 etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. Viene de serie con un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundario de bajo vacío y alto rendimiento, así como un detector de electrones retrodispersados retráctil, que beneficia la observación de muestras poco conductoras o no conductoras.
Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación El CIQTEK SEM3300 microscopio electrónico de barrido (SEM) incorpora tecnologías como óptica electrónica "Super-Tunnel", detectores de electrones con lente interna y lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Al aplicar estas tecnologías en el microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución antiguo de dicho SEM, lo que permite que el SEM de filamento de tungsteno realice tareas de análisis de bajo voltaje que antes solo se podían lograr con SEM de emisión de campo.
Microscopio SEM de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 es un excelente microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno de uso general con capacidades generales excepcionales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de ánodo dual garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen con voltajes de excitación bajos. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes gastos.
Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.
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