Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo | SEM4000

CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.

Microscopio SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento con excelentes capacidades de calidad de imagen en modos de alto y bajo vacío El CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM tiene una gran profundidad de campo con una interfaz fácil de usar para permitir a los usuarios caracterizar muestras y explorar el mundo de las imágenes y el análisis microscópicos.

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con columnas de haz de iones enfocados (FIB) El Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adopta tecnología de óptica electrónica “SuperTunnel”, baja aberración y diseño de objetivo no magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar El análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para nanofabricación. FIB-SEM DB500 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y 24 puertos de expansión, lo que lo convierte en una plataforma integral de nanoanálisis y fabricación con configuraciones integrales y capacidad de expansión. .

Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de resolución ultraalta (FESEM): 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV El CIQTEK SEM5000X FESEM de resolución ultra alta utiliza el proceso de ingeniería de columnas mejorado, la tecnología "SuperTunnel" y el diseño de lente objetivo de alta resolución para mejorar la resolución de imágenes de bajo voltaje. Los puertos de la cámara de muestras FESEM SEM5000X se extienden a 16 y el bloqueo de carga de intercambio de muestras admite un tamaño de oblea de hasta 8 pulgadas (diámetro máximo 208 mm), lo que amplía significativamente las aplicaciones. Los modos de escaneo avanzados y las funciones automatizadas mejoradas brindan un rendimiento más sólido y una experiencia aún más optimizada.