CIQTEK y USTC celebran un año de colaboración en el laboratorio conjunto de microscopía electrónica in situ de alta gama
CIQTEK y USTC celebran un año de colaboración en el laboratorio conjunto de microscopía electrónica in situ de alta gama
December 30, 2025
Los instrumentos avanzados por sí solos no impulsan avances científicos. El verdadero progreso se produce cuando la tecnología y los investigadores colaboran estrechamente.
Un año después del lanzamiento de la
Laboratorio conjunto de microscopía electrónica in situ de alta gama
, la colaboración entre el Centro Experimental de Ingeniería y Ciencia de los Materiales y
CIQTEK
Ha demostrado cómo una mentalidad de innovación compartida puede abrir nuevas posibilidades en
Investigación de materiales in situ, micro y nanofabricación y estudios relacionados con la mecánica
.
"Elegir CIQTEK nunca se limitó a comprar un instrumento", afirma el profesor Ming Gong, subdirector del Centro Experimental de Ingeniería y Ciencia de los Materiales. "Elegimos un socio que pudiera colaborar con nosotros para explorar y resolver desafíos científicos de vanguardia".
Una plataforma de investigación central impulsada por la microscopía electrónica in situ
El Centro Experimental de Ingeniería y Ciencia de los Materiales es una de las seis plataformas experimentales públicas de nivel universitario de la Universidad de Ciencia y Tecnología de China. Abarca una amplia gama de disciplinas, como la mecánica, la ingeniería mecánica, la instrumentación y la termofísica de ingeniería.
El centro desempeña un papel clave en el avance de la investigación sobre el comportamiento mecánico de los materiales, los sistemas de fluidos complejos, la medición de precisión, la fabricación de microdispositivos y nanodispositivos, y los materiales para energías renovables. Al combinar el acceso abierto con servicios analíticos profesionales, facilita la colaboración interdisciplinaria y conecta la investigación académica con las necesidades reales de la industria.
En este marco,
microscopía electrónica in situ
Se ha convertido en una capacidad crucial. Permite a los investigadores observar directamente los cambios estructurales y funcionales de los materiales en condiciones reales, lo que proporciona información que los métodos tradicionales de posanálisis no pueden ofrecer.
A medida que la investigación en ciencia de materiales avanza hacia escalas de longitud más pequeñas y procesos más dinámicos, los métodos tradicionales de preparación de muestras ya no son suficientes. Los estudios modernos requieren cada vez más...
preparación específica del sitio, observación in situ y reconstrucción tridimensional
a escala micro y nano.
Para satisfacer estas demandas, el centro introdujo un
Microscopio electrónico de doble haz FIB-SEM
, suministrado por
CIQTEK
Esta instrumentación científica avanzada permite una micro y nanofabricación precisa manteniendo al mismo tiempo un rendimiento de imágenes de alta resolución, lo que la convierte en una herramienta esencial para la investigación de vanguardia.
"Nuestro objetivo era muy claro", explica el profesor Gong. "Queríamos proporcionar condiciones experimentales avanzadas que impulsaran avances en ciencia e ingeniería de vanguardia, a la vez que ofrecieran una sólida base técnica para la innovación industrial futura".
CIQTEK FIBSEM en el Laboratorio Conjunto de Microscopía Electrónica In Situ de Alta Gama
Elegir CIQTEK: Tecnología, Confiabilidad y Colaboración
Durante el proceso de selección de instrumentos, el centro se centró en tres factores fundamentales:
Estabilidad del sistema, precisión del rendimiento y soporte técnico a largo plazo
.
"Las especificaciones básicas de
FIB-SEM del CIQTEK
"Ya están a la altura de los sistemas líderes a nivel mundial", afirma el profesor Gong. "Eso nos infundió confianza desde el principio. Sin embargo, lo que realmente nos convenció fue la disposición de CIQTEK a colaborar".
El CIQTEK colaboró estrechamente con investigadores para comprender las necesidades experimentales reales, ofreciendo apoyo flexible en el desarrollo de aplicaciones y la compatibilidad de software. Este enfoque transformó...
microscopio electrónico de doble haz
en una plataforma que pudiera evolucionar continuamente con la investigación en curso en lugar de permanecer con una configuración fija.
Más que un equipo: un socio de investigación a largo plazo
Después de más de un año de funcionamiento diario, el CIQTEK
Microscopio electrónico de doble haz FIB-SEM
Ha demostrado ser estable y confiable en condiciones de investigación de alta intensidad.
"La experiencia en general ha superado nuestras expectativas", afirma Yu Bai, ingeniero del Centro Experimental de Ingeniería y Ciencia de los Materiales. "El sistema funciona consistentemente bien tanto en la microfabricación como en la nanofabricación y en la obtención de imágenes de alta resolución, algo esencial para nuestra investigación de materiales in situ".
Igualmente importante, CIQTEK ha seguido monitoreando la retroalimentación de los usuarios y traduciendo los desafíos de la investigación en estrategias concretas de optimización y actualización. Esta interacción continua garantiza que el instrumento se mantenga alineado con las necesidades experimentales en constante evolución.
Respuesta rápida a desafíos experimentales no estándar
Un ejemplo ilustra claramente el valor de esta colaboración. Durante un proyecto que trascendió los escenarios de aplicación estándar del sistema, el equipo de investigación se topó con un cuello de botella técnico crítico.
"Los ingenieros de aplicaciones de CIQTEK acudieron al lugar de inmediato", recuerda Bai. "Trabajaron con nosotros para perfeccionar el enfoque experimental y entregaron rápidamente una actualización de software personalizada".
Esta rápida respuesta permitió al equipo completar el experimento con éxito y demostró cómo
colaboración universidad-industria
Puede acelerar directamente el progreso científico.
"En ese momento, realmente comprendimos lo que significa tener un socio", añade Bai. "No solo un proveedor de equipos, sino un equipo que nos acompaña durante todo el proceso de innovación".
Mirando hacia el futuro: Avanzando juntos en la investigación de materiales in situ
La colaboración entre el Centro Experimental de Ingeniería y Ciencia de los Materiales y el CIQTEK ofrece un claro ejemplo de cómo la instrumentación científica avanzada y la estrecha cooperación pueden respaldar la innovación independiente.
Como el
Laboratorio conjunto de microscopía electrónica in situ de alta gama
continúa desarrollándose, ambas partes se centrarán más en
Investigación de materiales in situ relacionados con la mecánica, la micro y nanofabricación y metodologías experimentales avanzadas
A través de una colaboración continua, su objetivo es proporcionar un sólido apoyo técnico para la investigación de alto nivel y los futuros avances científicos.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
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