Demostración práctica CIQTEK FIB SEM: preparación de muestras de nanomicropilares

Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM

El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) son esenciales para diversas aplicaciones, como diagnóstico de defectos, reparación, implantación de iones, procesamiento in situ, reparación de máscaras, grabado, modificación del diseño de circuitos integrados y fabricación de dispositivos de chip. , procesamiento sin máscara, fabricación de nanoestructuras, nanomodelos complejos, imágenes tridimensionales y análisis de materiales, análisis de superficies ultrasensibles, modificación de superficies y preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión.

CIQTEK ha presentado el FIB-SEM DB550, que cuenta con un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) controlable de forma independiente con haz de iones enfocado ( FIB) Columnas. Es una herramienta de preparación de muestras y análisis a nanoescala elegante y versátil, que adopta tecnología de óptica electrónica "SuperTunnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar el análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación. DB550 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y un software GUI fácil de usar, lo que facilita una estación de trabajo de fabricación y análisis a nanoescala todo en uno.

Para mostrar el excelente rendimiento del DB550, CIQTEK ha planeado un evento especial llamado "Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM". Este El programa presentará videos que demuestran las amplias aplicaciones de este equipo de vanguardia en campos como la ciencia de materiales, la industria de semiconductores y la investigación biomédica. Los espectadores comprenderán los principios de funcionamiento del DB550., aprecie sus impresionantes imágenes a microescala y explore las importantes implicaciones de esta tecnología para la investigación científica y el desarrollo industrial.

Espécimen de nanomicropilar Preparación

Espécimen de nanomicropilar La preparación se ha logrado con éxito, lo que demuestra las poderosas capacidades de CIQTEK Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado en procesamiento y análisis a nanoescala. El rendimiento del producto proporciona soporte de pruebas preciso, eficiente y multimodal para los clientes que participan en pruebas nanomecánicas, lo que facilita avances en la investigación de materiales.