CIQTEK SEM se une a los cursos de formación en microscopía electrónica de Münster 2026 en Alemania

CIQTEK se complace en anunciar que el Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno CIQTEK SEM3200 participará en el Cursos de formación SEM de Münster 2026 , proporcionando experiencia práctica con instrumentos a los participantes durante las sesiones celebradas de 16 de marzo al 20 de marzo de 2026 en Münster, Alemania .

Esta colaboración permite a los investigadores, ingenieros y usuarios de microscopía que asisten al programa de capacitación operar directamente el sistema SEM3200 y explorar sus capacidades en flujos de trabajo analíticos del mundo real. Para muchos participantes, será una oportunidad de adquirir experiencia práctica con la tecnología moderna de microscopio electrónico de barrido durante uno de los programas de capacitación en microscopía más antiguos de Europa

Acerca de los cursos de formación SEM de Münster

Los cursos de formación SEM en Münster están organizados por Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH , una institución bien establecida dedicada a la educación en microscopía electrónica y microanálisis.

Durante décadas, la academia ha organizado sesiones intensivas de formación que cubren temas como:

• Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido

• Análisis de espectroscopia de energía dispersiva (EDS)

• Técnicas de imagen electrónica

• Preparación de muestras y flujos de trabajo prácticos

• Interpretación de datos para el análisis de materiales

Estos cursos atraen a un grupo diverso de participantes cada año. Entre los asistentes se incluyen investigadores universitarios, ingenieros de laboratorio, especialistas en materiales industriales y personal de instalaciones de microscopía de toda Europa y el extranjero.

La formación se lleva a cabo en la Fachhochschulzentrum de la Universidad de Ciencias Aplicadas de Münster , donde las clases teóricas se combinan con prácticas de laboratorio. Se instalan múltiples microscopios para que los participantes adquieran experiencia operativa directa.

El programa del curso 2026 incluye varias sesiones especializadas, tales como:

• R-1: Introducción a la microscopía electrónica de barrido

• R-2: Microanálisis y SEM avanzado

• R-3: Técnicas avanzadas de SEM

• Capacitación en análisis EBSD

• Cursos de análisis de partículas

Durante las sesiones del 16 al 20 de marzo , el CIQTEK SEM3200 estará disponible como uno de los instrumentos utilizados para formación y demostraciones

Consulta los cursos aquí: http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/uebersicht.php

Apoyo a la educación y al intercambio de conocimientos en microscopía electrónica

Programas de formación como los cursos SEM de Münster desempeñan un papel importante en la comunidad de microscopía electrónica. Ofrecen una plataforma donde investigadores e ingenieros pueden fortalecer sus habilidades prácticas e intercambiar experiencias con instructores y compañeros participantes.

CIQTEK cree que la formación práctica es esencial para el avance de la investigación científica y las capacidades analíticas. Al apoyar iniciativas de formación y proporcionar instrumentos para sesiones prácticas, la empresa busca ayudar a los usuarios a familiarizarse más con la tecnología SEM y sus aplicaciones.

Eventos como estos también crean oportunidades para el diálogo entre los desarrolladores de instrumentos y los usuarios finales. La retroalimentación de los entornos de capacitación suele impulsar mejoras en la usabilidad, el diseño de software y los flujos de trabajo analíticos.

Cartera de productos de microscopía electrónica CIQTEK

El SEM3200 es parte de la creciente cartera de instrumentos de microscopía electrónica de CIQTEK diseñados para laboratorios de investigación, universidades e instalaciones analíticas industriales.

CIQTEK ofrece una gama de soluciones de microscopio electrónico de barrido, que incluyen:

- Serie SEM de filamento de tungsteno

Sistemas confiables y rentables para imágenes rutinarias y análisis de materiales.

- Serie SEM de emisión de campo

Instrumentos de alta resolución diseñados para la observación avanzada de nanoestructuras y aplicaciones de investigación exigentes.

- SEM con haz de iones enfocado (FIB-SEM)

Sistemas de doble haz para preparación de muestras a escala nanométrica, corte transversal y análisis 3D.

Mirando hacia Münster 2026

Los cursos de formación SEM de Münster de 2026 volverán a reunir a miembros de la comunidad microscópica durante varias semanas de aprendizaje intensivo y experiencia práctica. CIQTEK se complace en anunciar... Microscopio electrónico de barrido SEM3200 Contribuirá al programa y apoyará a los participantes durante sus sesiones prácticas.

Al trabajar con instituciones de capacitación y organizaciones de investigación, CIQTEK continúa apoyando el desarrollo de la experiencia en microscopía y el avance de las tecnologías de caracterización de materiales en todo el mundo.