Para apoyar la implementación, el equipo de ingeniería de CIQTEK brindó capacitación integral in situ al equipo de JH Technologies. Esta incluyó un detallado funcionamiento del sistema, demostraciones de aplicaciones y charlas técnicas adaptadas a casos prácticos reales. Esta colaboración mejoró la capacidad del equipo de JH para presentar y dar soporte a los instrumentos de CIQTEK.
Tras la entrega, JH Technologies organizó una exitosa
Casa Abierta
En sus instalaciones de Fremont, se realizaron demostraciones en vivo de ambos sistemas. El evento atrajo una gran asistencia de profesionales académicos y de la industria, generando un gran interés y una respuesta positiva. Impulsados por el éxito, JH Technologies planea organizar próximamente más jornadas de puertas abiertas para promover aún más las soluciones avanzadas de imagen de CIQTEK.
Tecnología de imágenes probada para aplicaciones exigentes
El
SEM3300
Combina una fuente de filamento de tungsteno tradicional con óptica moderna, ofreciendo un rendimiento de alta resolución a bajos voltajes de aceleración. Proporciona una solución potente y accesible para análisis e investigación rutinarios.
El
SEM5000X
Ofrece imágenes de ultraalta resolución y funciones de automatización avanzadas, lo que lo hace ideal para la ciencia de materiales, la inspección de semiconductores y la investigación en nanotecnología. Ambos sistemas ofrecen interfaces de usuario intuitivas y opciones de configuración flexibles para satisfacer diversas necesidades de aplicación.
Mirando hacia el futuro
La colaboración de CIQTEK con JH Technologies refleja la visión compartida de ofrecer instrumentos SEM de primera clase, respaldados por una sólida experiencia local. Al combinar rendimiento, facilidad de uso y accesibilidad, CIQTEK está ganando rápidamente popularidad entre los usuarios estadounidenses en los sectores de la investigación, la fabricación y la educación.
Aleks Zhang, subdirector del Grupo de Negocios Internacionales de CIQTEK, comentó: «Nos enorgullece ver nuestros instrumentos SEM en manos de un socio tan profesional y capaz. El mercado estadounidense está experimentando un fuerte impulso, y nos comprometemos a fortalecer nuestro apoyo a los clientes locales mediante una estrecha colaboración con distribuidores como JH Technologies».
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
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