CIQTEK expondrá en SCANDEM 2026, la reunión anual de la Sociedad Nórdica de Microscopía.

CIQTEK presentará soluciones de microscopía electrónica y ofrecerá una presentación en la sesión de la empresa.

Hefei, China— Del 9 al 12 de junio de 2026, se celebrará en Oulu, Finlandia, la Reunión Anual SCANDEM 2026 de la Sociedad Nórdica de Microscopía. CIQTEK, proveedor líder de soluciones de medición de precisión cuántica y microscopía electrónica, anuncia su participación en este prestigioso evento. CIQTEK destacará dos productos clave de microscopía electrónica en Stand II.5 y realizar una presentación en la Sesión de la Compañía para interactuar con investigadores y expertos destacados de la comunidad global de microscopía.

Acerca de SCANDEM 2026

SCANDEM es una de las conferencias anuales de microscopía más antiguas e influyentes de la región nórdica. La reunión de este año está organizada conjuntamente por el Centro de Análisis de Materiales del Biocentro Oulu y la Sociedad Nórdica de Microscopía, y tendrá lugar en el Edificio Kieppi del Biocentro Oulu. La conferencia abarca dos grandes áreas temáticas: ciencias de la vida (desde la obtención de imágenes de organismos completos hasta técnicas a nivel molecular) y ciencia de los materiales (metalurgia, geología, catalizadores, nanopartículas, etc.). El programa incluye conferencias plenarias, presentaciones científicas, sesiones de pósteres y una sala de exposiciones, con una asistencia prevista de entre 120 y 150 personas y la participación de unos 20 proveedores de instrumentos. Cabe destacar que Oulu ha sido designada Capital Europea de la Cultura 2026, ofreciendo a los visitantes de todo el mundo un ambiente cultural único y una vibrante escena de innovación.

Aspectos destacados de la exposición CIQTEK

Información del stand

El stand de CIQTEK está ubicado en II.5 En la zona de exposiciones, el equipo presentará dos productos clave de microscopía electrónica, y contará con especialistas técnicos disponibles para ofrecer presentaciones detalladas de los productos y consultas técnicas.

Productos destacados

• Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) SEM5000X de ultra alta resolución. : El microscopio electrónico de barrido por emisión de campo insignia de CIQTEK Cuenta con un avanzado sistema óptico electrónico que proporciona imágenes de ultra alta resolución. lo que lo hace ideal para el análisis nanoestructural de precisión en ciencia de materiales, semiconductores y ciencias de la vida. .
• Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad HEM6000 : Una estación de trabajo de alto rendimiento diseñada para la inspección de grandes áreas y por lotes. Con una corriente de haz excepcionalmente alta, una estabilidad extraordinaria y flujos de trabajo automatizados, acelera significativamente la velocidad de obtención de imágenes para el control de calidad industrial y la investigación avanzada. .

Presentación de la empresa

CIQTEK se presentará en Sesión 1 (Sesión de la empresa LS1+MS1, Sala 101A) desde aproximadamente De 11:00 a 11:10 .

Presentador Miles, especialista en soluciones de CIQTEK

Tema “Desbloqueando el potencial de la exclusiva solución de microscopía electrónica de barrido de alta velocidad de CIQTEK”

Esta presentación explorará los principios fundamentales de la microscopía electrónica de barrido por emisión de campo (FESEM) de alta velocidad y revelará cómo esta tecnología de vanguardia está transformando la obtención de imágenes y el análisis de grandes volúmenes de datos. Miles explicará qué hace que la FESEM de alta velocidad de CIQTEK sea única y destacará las aplicaciones donde ofrece su máximo potencial. Los asistentes también aprenderán cómo el paquete de microscopía de alta velocidad de CIQTEK integra múltiples tecnologías para maximizar el ancho de banda, logrando un rendimiento excepcional sin comprometer la resolución de imagen.

Apoyo al equipo europeo

Esta exposición está gestionada por el equipo europeo de CIQTEK (Frank, Miles, Markus y Changming), que aporta una amplia experiencia en instrumentación de microscopía y conocimiento del mercado local para ofrecer demostraciones de productos y asistencia técnica profesionales y eficientes. Los visitantes tendrán a su disposición folletos de productos y memorias USB personalizadas. No duden en solicitarlos en el stand.

Visítanos

CIQTEK invita cordialmente a investigadores, científicos y socios de la industria de la comunidad global de microscopía a visitar Stand II.5 y explorar los últimos avances y aplicaciones de vanguardia en la tecnología de microscopía electrónica.

Registro : Por favor visite https://ssl.eventilla.com/scandem2026 Para registrarse y acceder al programa más reciente de la conferencia e información detallada.

¡Esperamos verte en Oulu, Finlandia!

Detalles de la conferencia