CIQTEK participará en la reunión anual de GLMS 2026 en Michigan, EE. UU.
CIQTEK participará en la reunión anual de GLMS 2026 en Michigan, EE. UU.
September 29, 2026
CIQTEK participará en la Reunión Anual 2026 de la Great Lakes Microscopy Society (GLMS) el 9 de octubre de 2026, en la Michigan Technological University en Houghton, Michigan.
La reunión reúne a investigadores, estudiantes y profesionales de la microscopía que trabajan en microscopía electrónica, microanálisis, ciencia de materiales e investigación biológica.
Conozca al equipo de ME de CIQTEK en EE. UU.
En GLMS 2026, CIQTEK presentará sus soluciones de microscopía electrónica para una amplia gama de aplicaciones de investigación.
Nuestro Equipo de Microscopía Electrónica de EE. UU. estará presente para conectar con los asistentes y discutir aplicaciones reales de microscopía y necesidades de flujo de trabajo.
Experimentados Gerentes de Soluciones de ME también estarán disponibles para responder preguntas técnicas y ayudar a los investigadores a explorar soluciones de microscopía adecuadas para sus laboratorios.
Fecha: 9 de octubre de 2026 Ubicación: Michigan Technological University, Houghton, Michigan, EE. UU.
Microscopia electrónica de barrido (SEM) de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelente capacidad de expansión.
Alta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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