Descubra las tecnologías emblemáticas de CIQTEK en JASIS 2025, stand 7B-407
Descubra las tecnologías emblemáticas de CIQTEK en JASIS 2025, stand 7B-407
August 01, 2025
Nos complace anunciar que
CIQTEK
expondrá en
JASIS 2025
Una de las exposiciones más grandes de Asia para instrumentos analíticos y científicos. Le invitamos cordialmente a visitarnos.
Stand 7B-407
para explorar nuestras últimas innovaciones y conectarse con nuestro equipo de expertos.
Fecha:
3 al 5 de septiembre de 2025
Ubicación:
Sala de exposiciones internacional Makuhari Messe, Chiba, Japón
Stand de CIQTEK:
7B-407
En la feria de este año, CIQTEK destacará una gama de tecnologías de vanguardia en múltiples categorías, que incluyen:
Descubra nuestro creciente
Cartera de productos EPR
, incluido
EPR de suelo/sobremesa, EPR de pulso/CW
, ampliamente utilizado en química, materiales, catálisis e investigación biológica.
CIQTEK también exhibirá sus
Analizadores BET
e instrumentos relacionados para la caracterización del área de superficie, tamaño de poro y adsorción de gases, que son herramientas críticas en campos como productos farmacéuticos, catalizadores y nanomateriales.
Nos vemos en el stand 7B-407
¡Únase a nosotros para descubrir cómo CIQTEK está avanzando en el futuro de la instrumentación científica!
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Alta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
Espectrómetro de sobremesa de banda X de resonancia paramagnética electrónica o resonancia de espín electrónico (EPR, ESR) El CIQTEK EPR200M Es un nuevo diseño espectrómetro EPR de sobremesa especializada en el análisis cualitativo y cuantitativo de radicales libres, iones de metales de transición, dopaje de materiales y defectos Es una excelente herramienta de investigación para el monitoreo en tiempo real de reacciones químicas, la evaluación en profundidad de las propiedades de los materiales y la exploración de los mecanismos de degradación de contaminantes en la ciencia ambiental. El EPR200M presenta un diseño compacto e integra a la perfección la fuente de microondas, el campo magnético, la sonda y el controlador principal, garantizando sensibilidad y estabilidad, a la vez que es compatible con diversas necesidades experimentales. Su interfaz intuitiva permite que incluso los usuarios principiantes puedan comenzar a usarlo rápidamente, lo que hace que el instrumento EPR sea realmente fácil de usar. ★ Envíe un correo electrónico a nuestros expertos para obtener soluciones personalizadas, cotizaciones o folletos detallados: info@ciqtek.com
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado Ga+ El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para el nanoanálisis y la preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, y cuenta con la característica de "bajo voltaje y alta resolución" para garantizar sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una fuente de iones metálicos líquidos Ga+ con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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