【Entrevista exclusiva con el primer autor de un artículo científico】¡Utilicemos los microscopios electrónicos CIQTEK!
【Entrevista exclusiva con el primer autor de un artículo científico】¡Utilicemos los microscopios electrónicos CIQTEK!
June 11, 2025
Recientemente, la importante revista académica internacional "Science" publicó un artículo de investigación titulado "Fatiga del ánodo de metal de litio en baterías de estado sólido" del profesor Wei Luo de la Universidad de Tongji, junto con el profesor Yunhui Huang de la Universidad de Ciencia y Tecnología de Huazhong y otros colaboradores.
Este estudio reveló por primera vez el fenómeno de falla por fatiga del ánodo de metal de litio en baterías de estado sólido, reveló un nuevo mecanismo de falla por fatiga y propuso nuevas estrategias para inhibir la falla por fatiga y mejorar el rendimiento de las baterías de estado sólido.
Recientemente, el primer autor de este artículo, el profesor Bo Chen de la Universidad de Tongji, fue invitado a visitar CIQTEK y nos concedió una entrevista.
El profesor Bo Chen explica: «Nuestro grupo de investigación se centra principalmente en dos aspectos: la obtención de imágenes con rayos X de sincrotrón y la obtención de imágenes con microscopía electrónica, como en el caso del CIQTEK. El trabajo de todo nuestro grupo de investigación gira en torno a las nanoestructuras y microestructuras de los materiales, en particular a las nanoestructuras y microestructuras tridimensionales. Por lo tanto, podemos denominar a nuestro grupo de investigación «el grupo de investigación de nanoestructuras y microestructuras de materiales».
En relación con el artículo publicado recientemente en "Science", el profesor Bo Chen afirmó: "El artículo abordó un fenómeno poco estudiado hasta entonces: la fatiga del litio metálico. Antes se creía que se trataba de fatiga electroquímica generada durante los procesos de carga y descarga, pero en realidad, también presenta fatiga mecánica durante estos procesos".
El principal descubrimiento de esta investigación es que el litio presenta no solo fatiga electroquímica durante la carga y descarga, sino también fatiga mecánica, manifestada durante estos procesos, que en conjunto constituyen las principales causas de destrucción del litio metálico en las baterías de estado sólido. El artículo sugiere además que al alearlo para mejorar sus propiedades físicas, se puede prolongar la vida útil de las baterías de estado sólido. Este hallazgo es revolucionario y muy intrigante.
Al diseñar los experimentos, el equipo observó ambos tipos de fatiga instalando dispositivos de fatiga en el microscopio electrónico. Dado que el grupo de investigación solo contaba con un microscopio electrónico, para una observación exhaustiva, utilizaron una platina de tracción in situ desarrollada por el profesor Jixue Li, de la empresa Hangzhou Yuanwei Technology Company. El profesor Bo Chen comentó: «Con la ayuda del profesor Li, creamos conjuntamente un dispositivo para ensayos de fatiga por tracción. El experimento de fatiga mecánica del litio metálico fue realizado por el profesor Li utilizando el microscopio electrónico de CIQTEK para ensayos de tracción in situ».
Cuando se le preguntó sobre sus opiniones sobre
Microscopios electrónicos CIQTEK
El profesor Bo Chen fue muy franco y sincero: "Para nosotros, nuestro único requisito es que el equipo funcione bien".
Como investigador científico que disfruta de la exploración práctica, el profesor Bo Chen también compartió algunas reflexiones personales sobre el uso de los instrumentos CIQTEK. Mencionó que, cuando el instrumento ofrece calidad y rentabilidad, aumenta considerablemente el interés de los investigadores por experimentar con la máquina, reduce la sensación de aislamiento hacia los instrumentos costosos y los anima a utilizar la máquina con mayor eficacia, impulsando así la creatividad en la investigación.
Terminando con las palabras del profesor Bo Chen,
CIQTEK
Seguiremos fieles al lema: ¡Clientes exitosos, compañeros exitosos!
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Alta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.
Fácil de usar Filamento de tungsteno compacto Microscopio electrónico de barrido El Microscopio SEM CIQTEK SEM2100 Presenta un proceso operativo simplificado y su interfaz de usuario se ajusta a los estándares de la industria y a los hábitos de los usuarios. A pesar de su interfaz minimalista, ofrece funciones automatizadas integrales, herramientas de medición y anotación, gestión de posprocesamiento de imágenes, navegación óptica de imágenes y mucho más. El diseño del SEM2100 materializa a la perfección la idea de "Simplicidad sin sacrificar la funcionalidad".
SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento y universal Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón electrónico de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes prestaciones.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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