Aplicaciones

Las aleaciones de aluminio, apreciadas por su excepcional relación resistencia-peso, son materiales ideales para la reducción de peso en la industria automotriz. La soldadura por puntos de resistencia (RSW) sigue siendo el método de unión predominante en la fabricación de carrocerías. Sin embargo, la alta conductividad térmica y eléctrica del aluminio, junto con su capa de óxido superficial, requiere corrientes de soldadura muy superiores a las utilizadas para el acero. Esto acelera el desgaste de los electrodos de cobre, lo que conlleva una calidad de soldadura inestable, un mantenimiento frecuente de los electrodos y un aumento de los costes de producción. Prolongar la vida útil de los electrodos Si bien garantizar la calidad de la soldadura se ha convertido en un cuello de botella tecnológico crítico en la industria. Para abordar este desafío, el equipo del Dr. Yang Shanglu en el Instituto de Óptica y Mecánica Fina de Shanghai llevó a cabo un estudio exhaustivo utilizando el CIQTEK FESEM SEM5000 Diseñaron de forma innovadora un electrodo de anillo elevado e investigaron sistemáticamente el efecto del número de anillos (0–4) en la morfología del electrodo, revelando la relación intrínseca entre el número de anillos, los defectos cristalinos en el núcleo de soldadura y la distribución de corriente. Sus resultados demuestran que aumentar el número de anillos elevados optimiza la distribución de corriente, mejora la eficiencia de la entrada térmica, amplía el núcleo de soldadura y prolonga significativamente la vida útil del electrodo. Cabe destacar que los anillos elevados mejoran la penetración de la capa de óxido, optimizando el flujo de corriente y reduciendo la corrosión por picaduras. Este innovador diseño de electrodo proporciona un nuevo enfoque técnico para mitigar el desgaste del electrodo y sienta las bases teóricas y prácticas para una aplicación más amplia de la soldadura por resistencia de aleación de aluminio en la industria automotriz. El estudio se publica en la revista *The New York Times*. Revista de tecnología de procesamiento de materiales. bajo el título “ Investigación de la influencia de la morfología de la superficie del electrodo en la soldadura por puntos de resistencia de aleaciones de aluminio. “ Avance en el diseño de electrodos de anillo elevado Ante el desafío del desgaste de los electrodos, el equipo abordó el problema desde la morfología de los mismos. Mecanizaron de 0 a 4 anillos concéntricos elevados en la cara final de electrodos esféricos convencionales, formando un novedoso electrodo de anillo de Newton (NTR). Figura 1. Morfología superficial y perfil de sección transversal de los electrodos utilizados en el experimento. El análisis SEM revela defectos cristalinos y mejora del rendimiento ¿Cómo influyen los anillos realzados en el rendimiento de la soldadura? Utilizando el Técnicas CIQTEK FESEM SEM5000 y EBSD El equipo caracterizó en detalle la microestructura de los núcleos de soldadura. Descubrieron que los...

Recientemente, el Premio Nobel de Química 2025 fue otorgado a Susumu Kitagawa, Richard Robson y Omar Yaghi en reconocimiento a “su desarrollo de estructuras metalorgánicas (MOF)”. Los tres galardonados crearon estructuras moleculares con enormes espacios internos que permiten el flujo de gases y otras especies químicas. Estas estructuras, conocidas como estructuras metalorgánicas (MOF), tienen aplicaciones que abarcan desde la extracción de agua del aire del desierto y la captura de dióxido de carbono, hasta el almacenamiento de gases tóxicos y la catalización de reacciones químicas. Las estructuras metalorgánicas (MOF) son una clase de materiales porosos cristalinos formados por iones o grupos metálicos unidos mediante ligandos orgánicos (Figura 1). Sus estructuras pueden visualizarse como una red tridimensional de «nodos metálicos + enlaces orgánicos», que combina la estabilidad de los materiales inorgánicos con la flexibilidad de diseño de la química orgánica. Esta construcción versátil permite que las MOF se compongan de casi cualquier metal de la tabla periódica y una amplia variedad de ligandos, como carboxilatos, imidazolatos o fosfonatos, lo que permite un control preciso del tamaño de poro, la polaridad y el entorno químico. Figura 1. Esquema de una estructura metalorgánica Desde la aparición de los primeros MOF de porosidad permanente en la década de 1990, se han desarrollado miles de estructuras, incluyendo ejemplos clásicos como HKUST-1 y MIL-101. Presentan áreas superficiales específicas y volúmenes de poro ultraaltos, lo que ofrece propiedades únicas para la adsorción de gases, el almacenamiento de hidrógeno, la separación, la catálisis e incluso la administración de fármacos. Algunos MOF flexibles pueden experimentar cambios estructurales reversibles en respuesta a la adsorción o la temperatura, mostrando comportamientos dinámicos como los "efectos de respiración". Gracias a su diversidad, adaptabilidad y funcionalización, los MOF se han convertido en un tema central en la investigación de materiales porosos y proporcionan una sólida base científica para el estudio del rendimiento de la adsorción y los métodos de caracterización. Caracterización de MOF La caracterización fundamental de los MOF generalmente incluye patrones de difracción de rayos X en polvo (PXRD) para determinar la cristalinidad y la pureza de la fase, e isotermas de adsorción/desorción de nitrógeno (N₂) para validar la estructura de los poros y calcular el área superficial aparente. Otras técnicas complementarias comúnmente utilizadas incluyen: Análisis termogravimétrico (TGA) :Evalúa la estabilidad térmica y puede estimar el volumen de poros en algunos casos. Pruebas de estabilidad del agua :Evalúa la estabilidad estructural en agua y en diferentes condiciones de pH. Microscopía electrónica de barrido (SEM) Mide el tamaño y la morfología de los cristales y se puede combinar con espectroscopia de rayos X de energía dispersiva (EDS) para determinar la composición y...

Recientemente, un equipo dirigido por Wang Haomin del Instituto de Microsistemas y Tecnología de la Información de Shanghai de la Academia de Ciencias de China logró un progreso significativo en el estudio del magnetismo de las nanocintas de grafeno en zigzag (zGNR) utilizando un CIQTEK Microscopio de barrido de nitrógeno vacante (SNVM) . Basándose en investigaciones previas, el equipo pregrabó nitruro de boro hexagonal (hBN) con partículas metálicas para crear trincheras atómicas orientadas y utilizó un método de deposición química en fase de vapor (CVD) catalítica para preparar de forma controlada nanocintas de grafeno quirales en las trincheras, obteniendo muestras de zGNR de ~9 nm de ancho incrustadas en la red de hBN. Mediante la combinación de SNVM y mediciones de transporte magnético, el equipo confirmó directamente su magnetismo intrínseco en experimentos. Este descubrimiento revolucionario sienta una base sólida para el desarrollo de dispositivos electrónicos de espín basados en grafeno. Los resultados de la investigación, titulados "Firmas de magnetismo en nanocintas de grafeno en zigzag incrustadas en una red hexagonal de nitruro de boro", se han publicado en la prestigiosa revista académica. "Materiales de la naturaleza". El grafeno, como material bidimensional único, exhibe propiedades magnéticas de electrones en orbitales p que son fundamentalmente diferentes de las propiedades magnéticas localizadas de los electrones en orbitales d/f en materiales magnéticos tradicionales, lo que abre nuevas líneas de investigación para explorar el magnetismo basado en carbono puro. Se cree que las nanocintas de grafeno en zigzag (zGNR), que potencialmente poseen estados electrónicos magnéticos únicos cerca del nivel de Fermi, tienen un gran potencial en el campo de los dispositivos de electrónica de espín. Sin embargo, la detección del magnetismo de las zGNR mediante métodos de transporte eléctrico enfrenta múltiples desafíos. Por ejemplo, las nanocintas ensambladas de abajo a arriba a menudo son demasiado cortas para fabricar dispositivos de forma fiable. Además, la alta reactividad química de los bordes de las zGNR puede provocar inestabilidad o dopaje desigual. Además, en zGNR más estrechos, el fuerte acoplamiento antiferromagnético de los estados de borde puede dificultar la detección eléctrica de sus señales magnéticas. Estos factores dificultan la detección directa del magnetismo en las zGNR. Los ZGNR incrustados en la red hBN presentan una mayor estabilidad de borde y un campo eléctrico inherente, lo que crea las condiciones ideales para detectar el magnetismo de los zGNR. En el estudio, el equipo utilizó CIQTEK SNVM a temperatura ambiente observar las señales magnéticas de zGNR directamente a temperatura ambiente. Figura 1: Medición magnética de zGNR incrustado en una red hexagonal de nitruro de boro utilizando Exploración Microscopio de nitrógeno vacante En mediciones de transporte eléctrico, los transistores zGNR fabricados, de aproximad...

Basado en el D haz mi lectrón METRO icroscopio DB550 Controlado independientemente por Ciqtek , el T ransmisión mi lectrón METRO icroscopio (TEM) La preparación de la muestra a nanoescala de chips de nodo de proceso de 28 nm se logró con éxito. La verificación de TEM puede analizar claramente las dimensiones clave de cada estructura, proporcionando una solución de detección de precisión doméstica para el análisis de defectos del proceso de semiconductores y la mejora del rendimiento. 

Los materiales metálicos juegan un papel indispensable en la industria moderna, y su rendimiento afecta directamente la calidad del producto y la vida útil Con el desarrollo continuo de la ciencia de los materiales, se han presentado requisitos más altos para la estructura microscópica y el análisis de composición de los materiales metálicos Como una herramienta de caracterización avanzada,Microscopio electrónico de barrido(SEM) puede proporcionar información de morfología de la superficie de alta resolución y combinar con técnicas de análisis espectroscópico para la determinación de la composición elemental, lo que lo convierte en una herramienta importante en la investigación de materiales metálicos Este artículo tiene como objetivo discutir la aplicación de la tecnología SEM en la caracterización de los materiales metálicos y proporcionar referencias y orientación para la investigación relacionada Principios básicos del microscopio electrónico de escaneo (SEM)El principio de funcionamiento de un microscopio electrónico de barrido se basa en la interacción entre un haz de electrones y la superficie de la muestra Cuando un haz de electrones de alta energía escanea la superficie de la muestra, se generan varias señales, incluidos electrones secundarios, electrones retrodispersados, radiografías características, etc Estas señales se recogen mediante detectores correspondientes y se procesan para formar imágenes de morfología de la superficie o mapas de distribución elemental de la muestra Preparación de muestra SEM para materiales metálicosAnálisis microestructural: Ciqtek EM proporciona imágenes de alta resolución para ayudar a los investigadores a observar y analice la microestructura de metales y materiales compuestos, como el tamaño del grano, la forma, la fase distribución y defectos (e g., grietas e inclusiones) Esto es crucial para comprender la relación entre propiedades del material y técnicas de procesamiento aleación de titanio αLa zona afectada por el calor es el área más vulnerable en una junta soldada Estudiar los cambios en la microestructura y las propiedades del área soldada son de gran importancia para resolver problemas de soldadura y mejorar la calidad de la soldadura Análisis de composición:Equipado con un sistema EDS o WDS, Ciqtek sem permite cualitativo y Análisis cuantitativo de composición elemental Esto es muy importante para estudiar la distribución Patrones de elementos de aleación y su impacto en las propiedades del material Análisis de línea elemental de edsCombinando SEM con el análisis EDS, los cambios de composición y Distribución de elementos de impurezas enSe puede observar el área de soldadura Análisis de fallas: Después de fallas como fracturas, corrosión u otras formas de daño ocurren en los metales y materiales compuestos, Ciqtek SEM es una herramienta clave para analizar la falla del mecanismo Examinando superficies de fractura, productos de corrosión, etc., se puede identificar la causa raíz de la falla, pr...

Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) son esenciales para diversas aplicaciones, como diagnóstico de defectos, reparación, implantación de iones, procesamiento in situ, reparación de máscaras, grabado, modificación del diseño de circuitos integrados y fabricación de dispositivos de chip. , procesamiento sin máscara, fabricación de nanoestructuras, nanomodelos complejos, imágenes tridimensionales y análisis de materiales, análisis de superficies ultrasensibles, modificación de superficies y preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión. CIQTEK ha presentado el FIB-SEM DB550, que cuenta con un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) controlable de forma independiente con haz de iones enfocado ( FIB) Columnas. Es una herramienta de preparación de muestras y análisis a nanoescala elegante y versátil, que adopta tecnología de óptica electrónica "SuperTunnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar el análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación. DB550 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y un software GUI fácil de usar, lo que facilita una estación de trabajo de fabricación y análisis a nanoescala todo en uno. Para mostrar el excelente rendimiento del DB550, CIQTEK ha planeado un evento especial llamado "Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM". Este El programa presentará videos que demuestran las amplias aplicaciones de este equipo de vanguardia en campos como la ciencia de materiales, la industria de semiconductores y la investigación biomédica. Los espectadores comprenderán los principios de funcionamiento del DB550., aprecie sus impresionantes imágenes a microescala y explore las importantes implicaciones de esta tecnología para la investigación científica y el desarrollo industrial. Espécimen de nanomicropilar Preparación Espécimen de nanomicropilar La preparación se ha logrado con éxito, lo que demuestra las poderosas capacidades de CIQTEK Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado en procesamiento y análisis a nanoescala. El rendimiento del producto proporciona soporte de pruebas preciso, eficiente y multimodal para los clientes que participan en pruebas nanomecánicas, lo que facilita avances en la investigación de materiales.

Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) son esenciales para diversas aplicaciones, como diagnóstico de defectos, reparación, implantación de iones, procesamiento in situ, reparación de máscaras, grabado, modificación del diseño de circuitos integrados, fabricación de dispositivos de chip, procesamiento sin máscara, fabricación de nanoestructuras, nanomodelos complejos, imágenes tridimensionales y análisis de materiales, análisis de superficies ultrasensibles, modificación de superficies y preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión. CIQTEK ha presentado el FIB-SEM DB550, que cuenta con un microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo (FE-SEM) controlable de forma independiente con enfoque Columnas de haz de iones (FIB). Es una herramienta de preparación de muestras y análisis a nanoescala elegante y versátil, que adopta tecnología de óptica electrónica “SuperTunnel”, baja aberración y no Diseño de objetivo magnético con bajo voltaje y capacidad de alta resolución para garantizar el análisis a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación. DB550 tiene un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y un software GUI fácil de usar, que facilita una estación de trabajo todo en uno para análisis y fabricación a nanoescala . Para mostrar el excelente rendimiento del DB550, CIQTEK ha planificado un evento especial llamado "Demostración práctica CIQTEK FIB-SEM". Este programa presentará videos que demuestran las amplias aplicaciones de este equipo de vanguardia en campos como la ciencia de materiales, la industria de semiconductores y la investigación biomédica. Los espectadores comprenderán los principios de funcionamiento del DB550, apreciarán sus impresionantes imágenes a microescala y explorarán las importantes implicaciones de esta tecnología para la investigación científica y el desarrollo industrial. Preparación de una muestra de transmisión de acero ferrita-martensita El FIB-SEM DB550 desarrollado por CIQTEK posee la capacidad de preparar muestras de transmisión de acero de ferrita-martensita sin problemas. Esta capacidad permite a los investigadores en el dominio de la nanoescala observar directamente las características de la interfaz, la morfología microestructural y el proceso de evolución de las fases de ferrita y martensita. Estas observaciones son pasos cruciales hacia la profundización de la comprensión de la relación entre la cinética de transformación de fase, la organización microestructural y las propiedades mecánicas del acero de ferrita-marta.

¿Qué es una fractura de metal? Cuando un metal se rompe bajo fuerzas externas, deja dos superficies coincidentes llamadas "superficies de fractura" o "caras de fractura". La forma y apariencia de estas superficies contienen información importante sobre el proceso de fractura. Al observar y estudiar la morfología de la superficie de la fractura, podemos analizar las causas, propiedades, modos y mecanismos de la fractura. También proporciona información sobre las condiciones de tensión y las tasas de propagación de grietas durante la fractura. De manera similar a una investigación "in situ", la superficie de fractura preserva todo el proceso de fractura. Por lo tanto, examinar y analizar la superficie de la fractura es un paso y un método crucial en el estudio de las fracturas de metales. El microscopio electrónico de barrido, con su gran profundidad de campo y alta resolución, se ha utilizado ampliamente en el campo del análisis de fracturas. La aplicación del microscopio electrónico de barridope en el análisis de fracturas de metales Las fracturas de metal pueden ocurrir en varios modos de falla. Según el nivel de deformación antes de la fractura, se pueden clasificar como fractura frágil, fractura dúctil o una mezcla de ambas. Los diferentes modos de fractura exhiben morfologías microscópicas características, y la caracterización CIQTEK microscopio electrónico de barrido puede ayudar a los investigadores a analizar rápidamente las superficies de fractura. Fractura dúctil La fractura dúctil se refiere a la fractura que ocurre después de una cantidad significativa de deformación en el componente, y su característica principal es la aparición de una deformación plástica macroscópica obvia. La apariencia macroscópica es de cono en copa o cizallamiento con una superficie de fractura fibrosa, caracterizada por hoyuelos. Como se muestra en la Figura 1, a microescala, la superficie de la fractura consta de pequeños microporos en forma de copa llamados hoyuelos. Los hoyuelos son microhuecos formados por deformación plástica localizada en el material. Se nuclean, crecen y se fusionan, lo que eventualmente conduce a una fractura y deja rastros en la superficie de la fractura. Figura 1: Superficie de fractura dúctil del metal / 10 kV / Inlens Fractura frágil La fractura frágil se refiere a la fractura que ocurre sin deformación plástica significativa en el componente. El material sufre poca o ninguna deformación plástica antes de fracturarse. Macroscópicamente, parece cristalino y microscópicamente, puede exhibir fractura intergranular, fractura por escisión o fractura cuasi-escisión. Como se muestra en la Figura 2, es una superficie de fractura mixta de metal frágil-dúctil. En la región de la fractura dúctil se pueden observar hoyuelos notables. En la región de fractura frágil, la fractura frágil intergranular se produce a lo largo de diferentes orientaciones cristalográficas. A microescala, la superficie de fractura exhibe múltiples facetas de los granos,...