A medida que la fabricación de semiconductores avanza hacia nodos de proceso más finos, el análisis de defectos a nivel de oblea, la localización de fallas y la fabricación micro-nano se han vuelto claves para mejorar el rendimiento. CIQTEK Introduce el Solución de procesamiento de tamaño completo de doble haz para obleas de 8 pulgadas , combinando imágenes de alta resolución y procesamiento preciso de haz de iones para lograr "observación-análisis-corte" en toda la oblea, brindando un sólido soporte técnico para procesos de semiconductores avanzados. Esta solución cuenta con una platina de muestra de alta precisión de 150 mm de recorrido largo, que permite la observación y el procesamiento no destructivo de obleas completas de 8 pulgadas. Gracias a un sistema de navegación óptica externa y algoritmos inteligentes anticolisión, garantiza un posicionamiento rápido y preciso de las obleas y un funcionamiento seguro. El sistema está equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky, que ofrece una resolución de 0,9 nm a 15 kV y una resolución de haz de iones de 3 nm a 30 kV, capaz de detectar defectos, cortar secciones transversales y fabricar microestructuras a escala nanométrica. Ventajas principales: Etapa de recorrido de 150 mm: Combina largos viajes con alta precisión para un amplio rango de observación. Excelente compatibilidad con accesorios de diferentes tamaños. La estructura robusta garantiza la estabilidad de la oblea y una carga rápida y confiable. Intercambio rápido de 8 pulgadas: Diseño inteligente de soporte de peso con base deslizante para mayor estabilidad y durabilidad. Compatibilidad de tamaño completo: admite obleas de 2/4/6/8 pulgadas. Intercambio rápido de muestras: bombeo de vacío y carga de muestras en un minuto. Software y anticolisión: Navegación inteligente totalmente automática con movimiento y posicionamiento precisos. Movimiento coordinado de múltiples ejes para observación de oblea completa. Anticolisión inteligente: Simulación de trayectorias y cálculos espaciales algorítmicos para evitar riesgos. Monitoreo múltiple en tiempo real: Monitoreo multiángulo en tiempo real de la posición de la oblea. Navegación óptica externa: El diseño de estructura ultraestable suprime la vibración de la imagen. Imágenes de alta definición con un campo de visión preciso para visualización de oblea completa. La iluminación antideslumbrante profesional reduce el reflejo de la superficie de la oblea. Rango de observación de obleas Solución de microscopio electrónico de doble haz CIQTEK Combina hardware excepcional con sistemas de software inteligentes, lo que permite una detección eficiente de defectos y una optimización de procesos mediante el ajuste de brillo y contraste con un solo clic, enfoque automático y salida de imágenes multiformato, lo que permite a los usuarios completar la cadena completa de tareas desde el descubrimiento de defectos hasta la optimiz

En las ciencias de la vida, lograr un análisis estructural y dinámico 3D de gran precisión y a gran escala de muestras biológicas como células y tejidos se ha vuelto clave para superar los cuellos de botella en la investigación. CIQTEK ha introducido una ruta multitecnológica Microscopía electrónica volumétrica (VEM) solución, integrando SS-SEM, SBF-SEM y FIB-SEM Esto proporciona una plataforma integral, de alto rendimiento e inteligente para la reconstrucción biológica en 3D, ayudando a los investigadores a descubrir los misterios de la vida a nivel micro. Tres rutas técnicas avanzadas 01. Imágenes de alta velocidad SS-SEM Combinando el seccionamiento serial externo con el CIQTEK microscopio electrónico de barrido (SEM) HEM6000-Bio de alta velocidad Esta solución permite la obtención rápida de imágenes y la adquisición automatizada de muestras de gran volumen. La eficiencia de adquisición de datos es cinco veces mayor que la del microscopio electrónico de barrido (SEM) convencional, lo que permite un funcionamiento de alto rendimiento sin supervisión las 24 horas del día, los 7 días de la semana. 02. Seccionamiento in situ SBF-SEM Basado en el CIQTEK SEM5000X de ultra alta resolución Con un micrótomo integrado, este método permite ciclos de seccionamiento e imágenes in situ. Ofrece un funcionamiento sencillo, un alto grado de automatización y evita eficazmente la contaminación de la superficie. 03. FIB-SEM Análisis de alta precisión Aprovechando sistemas de doble haz de iones enfocados y electrones, esta ruta ofrece una resolución nanométrica en el eje Z para analizar estructuras finas como orgánulos y membranas. Permite la reconstrucción 3D in situ sin cortes físicos. Integración inteligente y amplias aplicaciones La solución CIQTEK VEM se integra profundamente algoritmos de IA y una plataforma de software multilingüe , que admite un flujo de trabajo completo, desde la adquisición de datos, la alineación y segmentación de imágenes hasta la visualización 3D. Compatible con el software de reconstrucción convencional, reduce significativamente la curva de aprendizaje. Los casos de aplicación abarcan la neurociencia, la biología celular y la microbiología patógena, ofreciendo una herramienta poderosa para avanzar en la investigación en ciencias de la vida.

La investigación sobre el comportamiento microscópico de los materiales está entrando en una nueva era. Acoplamiento multiescenario y caracterización dinámica in situ . CIQTEK ha lanzado un innovador Solución de pruebas mecánicas in situ Diseñado con una apertura y compatibilidad excepcionales, permite una integración perfecta de toda la gama de CIQTEK. microscopios electrónicos con dispositivos de prueba in situ convencionales, proporcionando una plataforma flexible y eficiente para el análisis acoplado en diversos escenarios de investigación. Rompiendo las limitaciones de los sistemas cerrados, la solución integra todos los elementos críticos necesarios para electromagnetismo in situ adaptabilidad, caracterizada por: Corriente de luz alta : >100 nA, ideal para análisis rápido de EDS/EBSD Gran espacio : 360 × 310 × 288 mm (largo × ancho × alto) Alta capacidad de carga :5 kg (hasta 10 kg con accesorios personalizados) CCD de múltiples vistas : garantizar la seguridad del sistema durante la operación in situ Múltiples interfaces :Compatible con accesorios de brida personalizados Preaceptación :Depuración completa de accesorios antes de la entrega, lo que garantiza una funcionalidad completa sin problemas de instalación en el sitio La solución se puede configurar en todos los La gama completa de productos de microscopía electrónica de CIQTEK , incluido CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemas de doble haz DB550 Y más. Además, ofrece una compatibilidad perfecta con etapas de tracción, etapas de calentamiento, nanoindentadores y estaciones de trabajo electroquímicas de proveedores líderes a nivel mundial. Esta arquitectura abierta permite a los investigadores combinar con flexibilidad el equipo más adecuado, maximizando así el rendimiento experimental. Solución de escenario in situ de CIQTEK Apoyó a los clientes en la publicación de un papel de alto impacto (DOI: 10.1126/ciencia.adq6807). Solución mecánica in situ de CIQTEK También admite el acoplamiento multicampo (mecánico, térmico y electroquímico), lo que permite la observación nanométrica en tiempo real de materiales en entornos complejos. Al sincronizar imágenes de alta resolución con señales in situ, los investigadores pueden capturar con precisión fenómenos críticos como la propagación de grietas, las transiciones de fase y las reacciones interfaciales. Con un rango de temperatura de -170 a 1200 °C, control avanzado de carga y sistemas de respuesta rápida, simula con precisión las condiciones de servicio de materiales en diversas industrias. En combinación con EBSD y EDS, proporciona conjuntos de datos completos para comprender el comportamiento de los materiales bajo estímulos acoplados. Aplicado con éxito en materiales aeroespaciales, nuevos dispositivos energéticos y materiales biomédicos Esta solución demuestra la excepcional compatibilidad y escalabilidad de CIQTEK en plataformas de microscopía electrónica avanzada.