CIQTEK Electron Microscopy avanza su presencia global en ESEM 2025 en Egipto
CIQTEK Electron Microscopy avanza su presencia global en ESEM 2025 en Egipto
October 13, 2025
CIQTEK
Es un honor haber participado en el
Conferencia Internacional de la Sociedad Egipcia de Microscopía Electrónica (ESEM) 2025
, celebrada del 13 al 15 de octubre en la
Instituto de Investigación Theodor Bilharz (TBRI)
En Giza, Egipto. Este evento reunió a expertos en microscopía electrónica, investigadores y representantes de la industria de Oriente Medio, África y otros lugares, impulsando las fronteras de la microscopía tanto en las ciencias de la vida como en la investigación de materiales.
El tema de este año,
“El papel de la microscopía electrónica en el esclarecimiento de lo invisible”
El tema tuvo eco en las sesiones sobre neuropatología, biopsia renal, agentes infecciosos, imágenes de nanoestructuras y técnicas emergentes de microscopía. El TBRI desempeñó un papel central en la organización del evento, en colaboración con universidades egipcias como Tanta y Assiut.
Contribuciones y participación del CIQTEK
En ESEM 2025, CIQTEK presentó su
Línea de productos SEM
, incluido
FIBSEM
,
FESEM
, y
Microscopía electrónica de barrido de filamento de tungsteno
Nuestro stand atrajo el interés de investigadores de ciencias biológicas y de materiales, interesados en ver imágenes de muestras reales, rendimiento de bajo voltaje e integración analítica.
Además de las exhibiciones, los representantes del CIQTEK participaron en intercambios técnicos, debatiendo cómo las herramientas SEM avanzadas pueden fortalecer la infraestructura de investigación regional. Enfatizamos nuestro compromiso con
Ofreciendo instrumentos de alto rendimiento, precios competitivos y redes de soporte locales
para facilitar la adopción en diversos laboratorios de la región.
Impacto y perspectivas
La conferencia subrayó cómo la microscopía continúa revelando lo invisible, desde la ultraestructura celular hasta los fenómenos nanomateriales. Para muchos participantes, esta fue una oportunidad única de acceder a una amplia gama de técnicas de imagen en un mismo lugar y de conversar directamente con proveedores como CIQTEK.
Al colaborar con científicos e instituciones locales, CIQTEK amplía su alcance global y contribuye al crecimiento de la microscopía en regiones con poca representación. Esperamos seguir apoyando a África y Oriente Medio mediante la instalación de instrumentos, la formación y un servicio eficiente.
Analítico Schottky Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro Es un modelo analítico de microscopía electrónica de emisión (FE-SEM) equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. Su diseño de lente electromagnética de tres etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. El modelo incluye de serie un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundarios de bajo vacío de alto rendimiento, así como un detector retráctil de electrones retrodispersados, lo que facilita la observación de muestras poco o nada conductoras.
Microscopia electrónica de barrido (SEM) de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelente capacidad de expansión.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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