Celebrando la instalación exitosa de Ciqtek SEM5000X en GSEM en Corea

Microscopía electrónica de barrido de emisión de campo de resolución ultra alta (FESEM)El CIQTEK SEM5000X es un FESEM de resolución ultra alta con un diseño optimizado de columna de óptica de electrones, reduciendo las aberraciones generales en un 30%, logrando una resolución ultra alta de 0.6 nm@15 kV y 1.0 nm@1 kV Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y fabricación de chips de semiconductores de nodos de alto tecnología.

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) con haz grande I CIQTEK SEM4000Pro es un modelo analítico de FE-SEM, equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente electromagnética de 3 etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. Viene de serie con un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundario de bajo vacío y alto rendimiento, así como un detector de electrones retrodispersados ​​retráctil, que beneficia la observación de muestras poco conductoras o no conductoras.

Microscopio SEM de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 es un excelente microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno de uso general con capacidades generales excepcionales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de ánodo dual garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen con voltajes de excitación bajos. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes gastos.