Pittcon es una conferencia y exposición dinámica y transnacional sobre ciencia de laboratorio, un lugar para presentar los últimos avances en investigación analítica e instrumentación científica, y una plataforma para la educación continua y oportunidades de mejora de la ciencia. Pitcon es para cualquier persona que desarrolle, compre o venda equipos de laboratorio, realice análisis físicos o químicos, desarrolle métodos de análisis o dirija a estos científicos.
· Encuéntrenos en el stand 1638 : Esperamos conocerlo en nuestro stand, donde presentaremos soluciones basadas en EPR y microscopio electrónico de barrido. Tendremos en exhibición un microscopio electrónico real en funcionamiento, así que aproveche la oportunidad para discutirlo con nuestros expertos y probarlo.
Fecha: 24 - 28 de febrero de 2024
Ubicación: Centro de convenciones de San Diego, 111 Harbor Dr, San Diego, CA
SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento y universal Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón electrónico de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes prestaciones.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
Espectrómetro de sobremesa de banda X de resonancia paramagnética electrónica o resonancia de espín electrónico (EPR, ESR) El CIQTEK EPR200M Es un nuevo diseño espectrómetro EPR de sobremesa especializada en el análisis cualitativo y cuantitativo de radicales libres, iones de metales de transición, dopaje de materiales y defectos Es una excelente herramienta de investigación para el monitoreo en tiempo real de reacciones químicas, la evaluación en profundidad de las propiedades de los materiales y la exploración de los mecanismos de degradación de contaminantes en la ciencia ambiental. El EPR200M presenta un diseño compacto e integra a la perfección la fuente de microondas, el campo magnético, la sonda y el controlador principal, garantizando sensibilidad y estabilidad, a la vez que es compatible con diversas necesidades experimentales. Su interfaz intuitiva permite que incluso los usuarios principiantes puedan comenzar a usarlo rápidamente, lo que hace que el instrumento EPR sea realmente fácil de usar. ★ Envíe un correo electrónico a nuestros expertos para obtener soluciones personalizadas, cotizaciones o folletos detallados: info@ciqtek.com
Alta resolución bajo baja excitación El CIQTEK SEM5000Pro es un Schottky de alta resolución microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) Especializado en alta resolución incluso con bajo voltaje de excitación. El uso de una avanzada tecnología de óptica electrónica de "supertúnel" facilita una trayectoria de haz sin cruces y un diseño de lente compuesto electrostático-electromagnético. Estos avances reducen el efecto de carga espacial, minimizan las aberraciones de la lente, mejoran la resolución de imágenes a bajo voltaje y logran una resolución de 1,2 nm a 1 kV, lo que permite la observación directa de muestras no conductoras o semiconductoras, reduciendo efectivamente el daño por irradiación de las muestras.
Alta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado Ga+ El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para el nanoanálisis y la preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, y cuenta con la característica de "bajo voltaje y alta resolución" para garantizar sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una fuente de iones metálicos líquidos Ga+ con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
Modernizar su antigua espectroscopía EPR para la investigación EPR de vanguardiaEsto modernize le traerá características, incluidas las:●¶ Mayor sensibilidad:Fuente de microondas de ruido ultra bajo y tecnología de detección de señales ●¶ Mejor resolución: Tecnología precisa de control de campo magnético●¶ Excelente compatibilidad: Compatible con una amplia gama de espectrómetros EPR ●¶ Entrega rápida: Entrega completa del hardware modernizado en 2 a 6 meses ●¶ Servicio de alta calidad: Instalación en el sitio y garantía de 2 años ● Envíenos un correo electrónico para más detalles: info@ciqtek.com
CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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