La solución Cryo-SEM de CIQTEK permite obtener imágenes de alta resolución y sin daños de muestras biológicas
La solución Cryo-SEM de CIQTEK permite obtener imágenes de alta resolución y sin daños de muestras biológicas
September 18, 2025
En los campos de las ciencias de la vida, la biomedicina, la inspección de alimentos y la investigación de materia blanda, obtener imágenes de alta resolución de muestras hidratadas y sensibles al haz siempre ha sido un gran desafío. Los métodos convencionales de preparación de muestras, como la fijación química, la deshidratación y el secado, suelen provocar contracción, deformación o daños estructurales, lo que produce resultados que difieren del estado real de la muestra.
Aprovechando su tecnología avanzada
microscopía electrónica de barrido
tecnología,
CIQTEK
ha introducido el
Solución crio-SEM
, que integra congelación a baja temperatura y transferencia de vacío. Esto permite la observación microscópica in situ, no destructiva y de alta fidelidad de muestras biológicas y sensibles, capturando fielmente los detalles microscópicos de la vida.
Con la tecnología de congelación rápida con nitrógeno líquido, las muestras se pueden vitrificar instantáneamente a -210 °C, conservando al máximo su morfología y composición química originales. El sistema integrado de criopreparación combina la criofractura, el recubrimiento por sublimación y la transferencia a baja temperatura, evitando la complejidad y los posibles errores de la preparación manual convencional. Durante todo el proceso, las muestras se mantienen en condiciones de vacío criogénico y se transfieren a la criopreservación SEM, donde la obtención de imágenes de alta resolución a -180 °C suprime eficazmente el daño causado por el haz de electrones y mejora significativamente la calidad de la imagen.
Hoja de boj criopreparada que muestra estructuras venosas intactas
, mientras que la muestra sin tratar presenta una contracción severa.
Yogur
Moho
La muestra de yogur criopreparado revela claramente redes de proteínas e hifas de hongos.
El
Solución crio-SEM CIQTEK
Es más que un simple conjunto de instrumentos. Representa un enfoque científico dedicado a restaurar fielmente el mundo microscópico. Permite a los investigadores superar las limitaciones técnicas, capturar detalles cruciales a microescala de la vida e impulsar la investigación fundamental y el desarrollo aplicado a nuevas cotas.
26 al 30 de septiembre, Wuhan
Al
Conferencia Académica China de Microscopía Electrónica 2025
CIQTEK presentará
ocho soluciones EM de vanguardia
.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
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