Microscopio electrónico de barrido CIQTEK para aplicaciones MLCC
Los condensadores cerámicos, como un tipo de componente pasivo básico, son un miembro indispensable de la industria electrónica moderna. Entre ellos, los condensadores cerámicos multicapa en chip (MLCC) ocupan más del 90% del mercado de condensadores cerámicos debido a sus características de resistencia a altas temperaturas, resistencia a altos voltajes, tamaño pequeño y amplio rango de capacitancia, y se utilizan ampliamente en la electrónica de consumo. industria, incluidos electrodomésticos, comunicaciones, electrónica automotriz, nuevas energías, control industrial y otras áreas de aplicación.
El uso de CIQTEK SEM puede ayudar a completar el análisis de fallas de MLCC, encontrar el origen de las fallas a través de la micromorfología, optimizar el proceso de producción y lograr el objetivo de una alta confiabilidad del producto.
Aplicación de CIQTEK SEM en MLCC
MLCC consta de tres partes: electrodo interno, dieléctrico cerámico y electrodo final. Con la actualización continua de la demanda del mercado de productos electrónicos, la tecnología de productos MLCC también presenta la tendencia de desarrollo de alta capacidad, alta frecuencia, alta temperatura y resistencia a alto voltaje, alta confiabilidad y miniaturización. La miniaturización implica la necesidad de utilizar polvos cerámicos más uniformes y de menor tamaño. La microestructura del material determina el rendimiento final, y el uso de un microscopio electrónico de barrido para caracterizar la microestructura de los polvos cerámicos, incluida la morfología de las partículas, la uniformidad del tamaño de las partículas y el tamaño del grano, puede ayudar en la mejora continua del proceso de preparación.
Imágenes por microscopio electrónico de barrido de diferentes tipos de polvos cerámicos de titanato de bario/25 kV/ETD
Imágenes por microscopio electrónico de barrido Diferentes tipos de polvos cerámicos de titanato de bario/1kV/Inlens
Una alta confiabilidad significa que se requiere una comprensión más profunda del mecanismo de falla y, por lo tanto, el análisis de fallas es indispensable. La causa fundamental del fallo del MLCC es la presencia de diversos defectos microscópicos, como grietas, agujeros, delaminación, etc., ya sea externa o internamente. Estos defectos afectarán directamente el rendimiento eléctrico y la confiabilidad de los productos MLCC y traerán graves peligros ocultos a la calidad del producto. El uso del microscopio electrónico de barrido puede ayudar a completar el análisis de fallas de productos capacitores, encontrar el origen de la falla a través de la morfología microscópica, optimizar el proceso de producción y, en última instancia, lograr el objetivo de una alta confiabilidad del producto.
El interno del MLCC es una estructura multicapa, si cada capa de cerámica tiene defectos, el espesor de la cerámica multicapa es uniforme y si los electrodos están cubiertos de manera uniforme, todo esto afectará la vida útil del dispositivo. Cuando se utiliza SEM para observar la estructura multicapa interna de MLCC o para analizar sus fallas internas, a menudo es necesario realizar una serie de tratamientos previos en las muestras antes de poder probarlas. Estos incluyen inclusión de resina, rectificado mecánico, tratamiento conductor mediante un recubridor, etc. También se puede realizar un tratamiento de acabado adicional utilizando un molino de iones. La siguiente figura muestra la morfología microscópica de la sección transversal interna del MLCC tomada con un filamento de tungsteno CIQTEK SEM3200. Como se ve en la figura, la delaminación de la capa dieléctrica cerámica puede ser la causa del fallo del dispositivo.
Sección MLCC/15kV/BSED
Sección MLCC/20kV/BSED
En los últimos años, la demanda de MLCC ha experimentado una nueva ronda de crecimiento con el floreciente desarrollo de la electrónica de consumo, los equipos de comunicación y las industrias automotrices. El uso de CIQTEK SEM para caracterizar la morfología relevante y la homogeneidad de composición de MLCC ayudará a los fabricantes de MLCC a sostener el desarrollo de una alta confiabilidad.
CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.
Aprende másEstable, versátil, flexible y eficiente El CIQTEK SEM4000X Es estable, versátil, flexible y eficiente. microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) Alcanza una resolución de 1,9 nm a 1,0 kV y aborda fácilmente los desafíos de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras. Puede actualizarse con un modo de desaceleración de ultrahaz para mejorar aún más la resolución de bajo voltaje. El microscopio utiliza tecnología multidetector, con un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE, a la vez que proporciona un rendimiento de alta resolución. El detector de electrones (LD) montado en la cámara incorpora un centelleador de cristal y tubos fotomultiplicadores, lo que ofrece mayor sensibilidad y eficiencia, lo que resulta en imágenes estereoscópicas de excelente calidad. La interfaz gráfica de usuario es intuitiva e incluye funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático y alineación automática, lo que permite capturar rápidamente imágenes de ultraalta resolución.
Aprende másAnalítico Schottky Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro Es un modelo analítico de microscopía electrónica de emisión (FE-SEM) equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. Su diseño de lente electromagnética de tres etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. El modelo incluye de serie un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundarios de bajo vacío de alto rendimiento, así como un detector retráctil de electrones retrodispersados, lo que facilita la observación de muestras poco o nada conductoras.
Aprende másMicroscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
Aprende másAlta resolución bajo baja excitación El CIQTEK SEM5000Pro es un Schottky de alta resolución microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) Especializado en alta resolución incluso con bajo voltaje de excitación. El uso de una avanzada tecnología de óptica electrónica de "supertúnel" facilita una trayectoria de haz sin cruces y un diseño de lente compuesto electrostático-electromagnético. Estos avances reducen el efecto de carga espacial, minimizan las aberraciones de la lente, mejoran la resolución de imágenes a bajo voltaje y logran una resolución de 1,2 nm a 1 kV, lo que permite la observación directa de muestras no conductoras o semiconductoras, reduciendo efectivamente el daño por irradiación de las muestras.
Aprende másSEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento y universal Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón electrónico de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes prestaciones.
Aprende másAlta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.
Aprende másUltraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Aprende másMicroscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.
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